Korngrößeneinheit

Für die Korngrößeneinheit gibt es insgesamt 262 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Korngrößeneinheit die folgenden Kategorien: Zeichensymbol, Partikelgrößenanalyse, Screening, Wasserbau, Einrichtungen im Gebäude, Mengen und Einheiten, Qualität, Aufschlag, Land-und Forstwirtschaft, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Kriminalprävention, Unterhaltung, Tourismus, Arbeitssicherheit, Arbeitshygiene, Akustik und akustische Messungen, Gebäude, Organisation und Führung von Unternehmen (Enterprises), Allgemeine Grundsätze der Standardisierung, Abfall, Unfall- und Katastrophenschutz, Papierprodukte, Maschinensicherheit, Feuer bekämpfen, Terminologie (Grundsätze und Koordination), Glasfaserkommunikation, Transport, Medizin- und Gesundheitstechnik, Umweltschutz, Gesundheit und Sicherheit, Umweltschutz, Telekommunikationsendgeräte, Keramik, Erdarbeiten, Aushubarbeiten, Fundamentbau, Tiefbauarbeiten, Arbeit, Beschäftigung, Bauteile, erziehen, Baumaterial, Eigenschaften und Design von Maschinen, Anlagen und Geräten, Anwendungen der Informationstechnologie, Widerstand, analytische Chemie, Bodenqualität, Bodenkunde, Thermodynamik und Temperaturmessung, Bergbau und Ausgrabung, Telekommunikation umfassend, Metrologie und Messsynthese, Elektrische Geräte und Systeme für die Luft- und Raumfahrt.

German Institute for Standardization, Korngrößeneinheit

DIN 66161:2010 Partikelgrößenanalyse – Formelsymbole, Einheiten
DIN 66161:1985 Partikelgrößenanalyse; Formelsymbole, Einheiten
DIN 66161:2010-10 Partikelgrößenanalyse – Formelsymbole, Einheiten
DIN 5493-2:1994 Logarithmische Größen und Einheiten – Teil 2: Logarithmische Verhältnisse, Pegel in Neper und Dezibel
DIN EN 623-3:2003 Hochleistungstechnische Keramik - Monolithische Keramik; Allgemeine und strukturelle Eigenschaften - Teil 3: Bestimmung der Korngröße und Größenverteilung (charakterisiert durch die lineare Schnittpunktmethode); Deutsche Fassung EN 623-3:2001
DIN V 4002-5:2002 Eigenschaften und Referenzhierarchie für den Produktdatenaustausch – Teil 5: Einheiten für quantitative Eigenschaften
DIN 5493-2 Bb.1:1994 Logarithmische Größen und Einheiten – Logarithmische Verhältnisse, Niveaus, Notation zum Ausdrücken von Referenzgrößen und Messbedingungen

IT-UNI, Korngrößeneinheit

CNR-UNI 10013-1964 Bodentest. Partikeleinheitsgewicht
UNI 4870-1961 Prüfung von Holzspanplatten. Bestimmung des Flächengewichts und der scheinbaren spezifischen Dichte

未注明发布机构, Korngrößeneinheit

DIN 66161 E:2010-02 Partikelgrößenanalyse – Formelsymbole, Einheiten
ANSI/TIA/EIA-492CAAB-2000(2005) Detailspezifikation für Dispersionsunverschobene Singlemode-Lichtwellenleiter der Klasse IVa mit niedrigem Wasserpeak

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

CNS 1163-1986 Testmethode für Einheitsgewicht und Hohlräume im Aggregat

AENOR, Korngrößeneinheit

UNE 40305:1975 ANWENDUNGSGRÖSSEN UND EINHEITEN IN DER TEXTILINDUSTRIE. INTERNATIONALES SYSTEM DER SI-EINHEITEN.

CZ-CSN, Korngrößeneinheit

CSN 72 1181-1967 Bestimmung von Körnern mit unterschiedlichem Einheitsgewicht in Aggregaten
CSN 01 1329-1979 Linie Telekommunikation. Die dB-Einheit für Pegel-, Stimm- und Verstärkungsmessung
CSN ISO 7033:1993 Feine und grobe Zuschlagstoffe für Beton. Bestimmung der Partikelmasse pro Volumen und der Wasseraufnahme. Pyknometer-Methode

Professional Standard - Water Conservancy, Korngrößeneinheit

SL/T 200.06-1997 Die Informationscodes und Kodierungsvorschriften der Regierungsverwaltung für die Wasserämter

Group Standards of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

T/ZHSE 4-2021 Nennleistung der Aufzugswartungseinheit
T/CSSE 001-2018 Mit Sternen ausgezeichnete Bewertung von Auftragnehmern für die Wartung von Aufzügen und Rolltreppen
T/CSFA 0001-2021 Rangbewertung der Bestattungs- und Bestattungsorganisation in Changsha
T/DLMSWH 025-2021A Standard zur Bonitätsbewertung von Catering-Dienstleistungseinheiten
T/FSZSCQ 5-2022 Spezifikation der Bonitätsbeurteilung der Kultursparte
T/DLMSWH 025-2023 Standard zur Bonitätsbewertung von Catering-Dienstleistungseinheiten
T/SCTX T006-2020 Leitfaden zur Sternebewertung von Aufzugswartungsunternehmen in der Provinz Sichuan
T/SDUWA 5001-2022 „Bewertungsstandards für städtische Abwasserbehandlungsanlagen in Laborqualität“
T/CAWS 0005-2022 Die Risikobewertungsmethode der Ammoniakkühlung in der Produktion oder im Geschäftsbetrieb
T/NAHIEM 25-2020 Bewertungsstandards exzellenter Unternehmen, die Hygieneprodukte für Hygieneprodukte für die medizinische Versorgung herstellen
T/SSPIA 3-2020 Integritätsbewertungsspezifikationen für die Industrie zum Schutz von Sicherheitstechnologie
T/CAWS 0006-2022 Die Methode zur Risikobewertung von Staubexplosionen in Produktions- oder Geschäftsbetrieben
T/CPUMT 012-2023 Anforderungen an die Bonitätsbewertung von Forschungs- und Produktionsorganisationen für Waffenausrüstung
T/HNSCFX 001-2023 Klassifizierungs- und Bewertungsstandards für Gruppenverpflegungsunternehmen (Einheiten) in der Provinz Henan
T/CI 069-2023 Kriegs- und Notfallreaktionsniveau von Einheiten zum Schutz kultureller Relikte bei Naturkatastrophen
T/HAEPCI 085-2021 Bewertungskriterien für Audit- und Beratungsdienstleistungseinheiten für eine sauberere Produktion in der Provinz Hunan
T/SDECC 001-2018 Spezifikationen für die Bewertung der Qualifikationsgrade von Wartungseinheiten für Mobilkommunikationsterminals in der Provinz Shandong
T/JXAS 024-2023 Technische Spezifikation für die Notenbewertung von Gruppen- und Online-Essenslieferdiensten
T/ZAS 4011.4-2021 Spezifikation für Gewerkschaften auf Kreisebene und darunter – Teil 4: Gewerkschaften auf der Basisebene von Unternehmen (öffentliche Institutionen)
T/TJUAV 0001.3-2020 Tianjin Youth UAV Aviation Technology (Unterrichtseinheit) Bewertungsanwendungsstandard
T/DAZX 001-2019 Spezifikation für die Bewertungsmanagementqualität der dreistufigen Sicherheitsstandardisierungsbewertungseinheit

HU-MSZT, Korngrößeneinheit

MSZ 8863/8-1985 Verwenden Sie imperiale Einheiten 20/5, Röhre der 2. Klasse
MSZ 18152-1979 Zulässige Lärmpegel am Arbeitsplatz

Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB3301/T 0274-2018 Spezifikationen für die Sternebewertung von Aufzugswartungseinheiten

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB61/T 1212-2018 Grundvoraussetzungen für provinzielle Einheiten zum Schutz kultureller Relikte
DB61/T 1507-2021 Standardisierte Bewertungs- und Einstufungsspezifikationen für die Sicherheitsproduktion militärisch-industrieller Einheiten

Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB12/T 372-2011 Kreditqualifikationsniveau von Sicherheitsfachleuten
DB12/T 496-2013 Standards für die Bewertung der Kreditqualifikationsgrade von Sicherheitsfachleuten

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB5301/T 44-2020 Spezifikationen für die Sternebewertung von Aufzugswartungseinheiten

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB23/T 2590-2020 Brandakten der Waldbrandverhütungseinheiten auf Kreisebene
DB23/T 2631-2020 Vorgaben zur Entsorgung von Wald- und Grünlandbrandinformationen in Kreiseinheiten
DB23/T 2632-2020 Standards zur Bewertung des Niveaus der Infrastruktur zur Waldbrandverhütung in Waldbrandverhütungseinheiten auf Kreisebene

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB43/T 2143-2021 Sternebewertung für Aufzugswartungseinheit

Beijing Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB11/T 1932-2021 Klassifizierung der Impfeinheiten Routineimpfung
DB11/T 1322.19-2017 Teil 19 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Produktionssicherheitsniveaus von Produktions- und Geschäftseinheiten: Umwelthygieneeinheiten
DB11/T 1018-2013 Energieverbrauchsquoten pro Einheit Produkt von Premium-Pkw und Premium-Sport-Pkw
DB11/T 1322.44-2018 Teil 44 der Technischen Spezifikationen zur Bewertung der Sicherheitsproduktionsstufen: Heizgeräte
DB11/T 1322.20-2017 Technische Spezifikationen für die Qualitätsbewertung der Sicherheitsproduktion Teil 20: Wissenschaftliche Forschungseinheiten
DB11/T 1322.34-2019 Teil 34 der Technischen Spezifikationen zur Bewertung der Sicherheitsproduktionsniveaus: Kleinanlagen
DB11/T 1322.42-2017 Teil 42 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Sicherheitsproduktionsniveaus: Kreuzfahrteinheiten in Wassergebieten
DB11/T 1322.59-2018 Teil 59 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Produktionssicherheit: Geschäftsbereiche für ländlichen Tourismus
DB11/T 1322.91-2021 Teil 91 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Sicherheitsproduktionsgrade: Betriebseinheiten des integrierten Rohrstollens
DB11/T 1322.76-2018 Teil 76 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Sicherheitsproduktionsgrade: Landschaftsbau-Baueinheiten
DB11/T 1322.92-2022 Teil 92 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Sicherheitsproduktionsgrade: Gewerbliche Einzelhandelsgeschäftseinheiten
DB11/T 1322.45-2018 Teil 45 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Sicherheitsproduktionsgrade: Bau- und Wartungseinheiten städtischer Beleuchtungsanlagen
DB11/T 1322.46-2018 Teil 46 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung der Sicherheitsproduktionsgrade: Einrichtung von Außenwerbeanlagen sowie Betriebs- und Wartungseinheiten
DB11/T 1322.86-2019 Teil 86 der Technischen Spezifikationen für die Bewertung von Sicherheitsproduktionsgraden: Geologische Explorationseinheiten für metallische und nichtmetallische Mineralressourcen

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB32/T 3398-2018 Spezifikationen für die Sternebewertung von Aufzugswartungseinheiten
DB3205/T 1014-2021 Standards für die Bonitätsbewertung von Arbeitseinsatzeinheiten
DB32/T 4420-2022 Standards für die Bonitätsbewertung von Arbeitseinsatzeinheiten
DB3202/T 1026-2022 Spezifikationen für die Qualitätsbewertung der technischen Serviceeinheiten der Wuxi-Sicherheitsproduktion

PL-PKN, Korngrößeneinheit

PN Z01001 Arkusz 02-1974 Luftreinheitsschutz Terminologie, Definitionen und Einheiten Terminologie, Definitionen und Einheiten im Zusammenhang mit der Staubpartikel
PN Z01001 Arkusz 04-1974 Luftreinheitsschutz Terminologie, Definitionen und Einheiten Terminologie, Definitionen und Einheiten in Bezug auf die charakteristischen Größen von Partikelabscheidern und Aerosolfiltern

Professional Standard - Aerospace, Korngrößeneinheit

QJ 1193.2-1987 Code auf Einheitenebene des Datenelements des Personalsystems

Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB14/ 1061-2015 Umfassender Energieverbrauchsgrenzwert pro Produkteinheit von Ceramsite-Fracturing-Stützmittel
DB14/T 2362-2021 Spezifikationen für das Kantinendienstmanagement für Provinzorgane und -institutionen
DB14/ 1062-2015 Umfassender Energieverbrauchsgrenzwert pro Produkteinheit granuliertes Hochofenschlackenpulver, das in Zement und Beton verwendet wird

Defense Logistics Agency, Korngrößeneinheit

DLA SMD-5962-89717 REV A-1992 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, 32-BIT-KASKADIERBARER BARREL-SHIFTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89959 REV D-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-KASKADIERBARES ALU, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/336 B VALID NOTICE 1-2008 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Advanced Schottky TTL, Schieberegister, kaskadierbar, monolithisches Silizium
DLA MIL-M-38510/336 B VALID NOTICE 2-2013 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Advanced Schottky TTL, Schieberegister, kaskadierbar, monolithisches Silizium
DLA MIL-M-38510/765 A VALID NOTICE 1-2010 Mikroschaltungen, Digital, Advanced CMOS, Schieberegister, monolithisches Silizium, positive Logik
DLA SMD-5962-92306 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ECL, 4-STUFIGER ZÄHLER/SCHALTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90502 REV A-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, 8-BIT BIDIREKTIONALES UNIVERSAL-SCHIEBEREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96536 REV E-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTET, 4-BIT-MAGNITUDENKPARATOR, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96556 REV E-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT SERIELLES EIN-/PARALLELAUS-VERSCHIEBUNGSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96584 REV B-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 4-BIT-BINÄR-VOLLADDER MIT FAST CARRY, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96556 REV F-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT SERIAL-IN/PARALLEL-OUT-SHIFT-REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96584 REV C-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 4-BIT-BINÄR-VOLLADDER MIT FAST CARRY, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96556 REV G-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT SERIELLES EIN-/PARALLELAUS-VERSCHIEBUNGSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96556 REV H-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT SERIAL-IN/PARALLEL-OUT-SHIFT-REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86870 REV A-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY, TTL, 8-BIT, PARALLEL-OUT-SERIELLE SHIFT-REGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88712 REV A-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, 8-BIT-IDENTITÄTSKomparator, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96558 REV D-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 8-BIT SERIAL/PARALLEL-IN, SERIAL-OUT SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-91722 REV E-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 4-BIT VOREINSTELLBARER BINÄRZÄHLER, ASYNCHRONER RESET, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96558 REV F-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 8-BIT SERIAL/PARALLEL-IN, SERIAL-OUT SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96558 REV G-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 8-BIT SERIAL/PARALLEL-IN, SERIAL-OUT SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA MIL-M-38510/342 A VALID NOTICE 1-2009 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Advanced Schottky TTL, binäre 4-Bit-Volladdierer mit schnellem Übertrag, monolithisches Silizium
DLA MIL-M-38510/342 A VALID NOTICE 2-2013 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Advanced Schottky TTL, binäre 4-Bit-Volladdierer mit schnellem Übertrag, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-83021 REV H-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, SHIFT REGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89959 REV C-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 16-BIT-KASKADIERBARES ALU, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/347 A VALID NOTICE 1-2009 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Advanced Schottky TTL, 8-Bit-Identitätskomparator, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-88710 REV A-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY TTL, 8-BIT-IDENTITÄTSKomparator, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/347 A VALID NOTICE 2-2013 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Advanced Schottky TTL, 8-Bit-Identitätskomparator, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-87756 REV E-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTAL-D-TYP-FLIP-FLOP MIT MASTER-RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-87626 REV C-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, HEX D FLIP-FLOP MIT MASTER RESET, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88627 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, ERWEITERTER SCHOTTKY-TTL, 8-BIT-BINÄRZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96557 REV D-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 8-BIT SERIELLES IN/PARALLEL AUS-VERSCHIEBUNGSREGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96557 REV E-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 8-BIT SERIELLES IN/PARALLEL AUS-VERSCHIEBUNGSREGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96585 REV B-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 4-BIT-BINÄR-VOLLADDER MIT FAST CARRY, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-04212 REV A-2011 MIKROKREIS, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT-D-TYP-LATCH MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92177 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 8-BIT BIDIREKTIONALER TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89545 REV B-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, ERWEITERTER SCHOTTKY, 8-BIT BIDIREKTIONALER BINÄRZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/306 E VALID NOTICE 2-2013 Mikroschaltungen, digital, bipolar, Schottky-TTL mit geringem Stromverbrauch, Schieberegister, kaskadierbar, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-94608-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, 12-BIT KASKADIERBARER MULTIPLIER-SOMMER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96566 REV G-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, SYNCHRONER 4-BIT AUF/AB-DOPPELTAKTZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-04210 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96566 REV H-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, SYNCHRONER 4-BIT AUF/AB-DOPPELTAKTZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88578 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, ERWEITERTER SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, 8-BIT-IDENTITÄTSKomparator, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96564 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, SYNCHRONER 4-BIT AUF/AB-BINÄRZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89526 REV C-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY, TTL, SYNCHRONER 8-BIT, AUF-/ABZÄHLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96582 REV C-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 9-BIT-GENERATOR/CHECKER MIT UNGERADE/GERADE PARITÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96559 REV C-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 8-BIT SERIELLER/PARALLEL-EIN, SERIELLER AUSGANG SHIFT REGISTER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/03620 REV A-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 36-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/06609 REV A-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 16-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96566 REV F-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, STRAHLENGEHÄRTETER, SYNCHRONER 4-BIT-UP/DOWN-DUAL-CLOCK-OUNTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/03601 REV A-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 16-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-95620 REV E-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, 16-BIT-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89947 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 12-STUFIGER BINÄRZÄHLER MIT RIPPLE-CARRY, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04602 REV E-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-16-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90985 REV D-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLUNGSGEHÄRTEN, 8-BIT-MAGNITUDENKomparator MIT ENABLE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-89953 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, DOPPELTES 4-STUFEN-SCHIEBEREGISTER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/03621 REV A-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, REGISTRIERTER 36-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/04706 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04707 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04708 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04720 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-32-BIT-PUFFER/TREIBER MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/06654 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3 V ABT 16-BIT TRANSPARENTER D-TYP-LATCH MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88534 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, DUAL JK FLIP-FLOP MIT SET UND CLEAR, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/03602 REV A-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 16-BIT D-TYPE TRANSPARENTER LATCH MIT 3-STATE-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92023 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, 16-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-87757 REV C-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, HEX D-TYPE FLIP-FLOP MIT MASTER RESET, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92200 REV B-2013 MIKROKREISKREIS, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 10-BIT-TRANSPARENTER LATCH MIT THREESTATE-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-91609 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT-DIAGNOSEREGISTER MIT DREISTATUS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92018 REV B-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT-BUSTREIBER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89735 REV F-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ADVANCED CMOS, OKTAL-D-TYP-FLIP-FLOP MIT RESET, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95618 REV B-2013 MIKROKREISKREIS, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT TRANSPARENTER LATCH MIT THREESTATE-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96561 REV C-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 4-BIT-BINÄR-SYNCHRONZÄHLER AUF/AB, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94528 REV C-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, OKTALES 16-BIT-D-TYP-FLIP-FLOP MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04711 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-16-BIT-EDGE-TRIGGERED-D-TYP-FLIP-FLOP MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04718 REV A-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-18-BIT-UNIVERSAL-BUS-TREIBER MIT 3-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04722 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLARES CMOS, 3,3 V ABT 32-BIT EDGE-TRIGGERED D-TYPE FLIP-FLOP MIT 3-STATE-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96561 REV D-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, 4-BIT-BINÄR-SYNCHRONZÄHLER AUF/AB, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96565 REV B-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, SYNCHRONER 4-BIT AUF/AB-BINÄRZÄHLER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96565 REV C-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, SYNCHRONER 4-BIT AUF/AB-BINÄRZÄHLER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96583 REV C-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 9-BIT-GENERATOR/CHECKER MIT UNGERADE/GERADE PARITÄT, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96583 REV D-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, 9-BIT-GENERATOR/CHECKER MIT UNGERADE/GERADE PARITÄT, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95577 REV B-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 36-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/03603 REV A-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT D-TYP EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOP MIT 3-STATE-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95590 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLARES CMOS, 16-BIT-BUS-TRASCEIVER MIT DREI-ZU-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-91611 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 8-BIT-D-FLIP-FLOP, POSITIV-FLANKEN-TRIGGERUNG MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95619 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT-PUFFER/LEITUNGSTREIBER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93175 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 16-BIT-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93241 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, REGISTRIERTER 16-BIT-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96555 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS. STRAHLUNGSGEHÄRTERTER, SYNCHRONER, VOREINSTELLBARER 4-BIT-BINÄRZÄHLER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 MIKROSCHALTER, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-SCAN-TESTGERÄT MIT 18-BIT-UNIVERSAL-BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 MIKROSCHALTER, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-SCAN-TESTGERÄT MIT 18-BIT-UNIVERSAL-BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 MIKROSCHALTER, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-SCAN-TESTGERÄT MIT 18-BIT-TRANSCEIVER UND REGISTERN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92024 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, 16-BIT-D-TYP-TRANSPARENTER LATCH MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96577 REV B-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES CMOS, STRAHLENGEHÄRTEN, LOOK-AHEAD-CARRY-GENERATOR FÜR ZÄHLER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-98580 REV G-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, ADVANCED CMOS, SCHMITT 16-BIT BIDIREKTIONALER MEHRZWECK-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-98580 REV H-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, ADVANCED CMOS, SCHMITT 16-BIT BIDIREKTIONALER MEHRZWECK-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-98580 REV J-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, ADVANCED CMOS, SCHMITT 16-BIT BIDIREKTIONALER MEHRZWECK-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95578 REV B-2009 Mikroschaltkreis, digital, fortschrittliches bipolares CMOS, registrierter 36-Bit-Bus-Transceiver mit dreistufigen Ausgängen, TTL-kompatiblen Eingängen, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-94508 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLARES CMOS, 9-BIT-BUS-SCHNITTSTELLEN-FLIP-FLOP MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94671 REV B-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 18-BIT-UNIVERSAL-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-06239 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT PARALLELFEHLERERKENNUNG UND KORREKTURSCHALTUNG, MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-06239 REV C-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT PARALLELFEHLERERKENNUNG UND KORREKTURSCHALTUNG, MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-84033 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHER NIEDRIGER ENERGIE-SHOTTKY, OKTAL-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89947 REV A-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, 12-STUFIGER BINÄRZÄHLER MIT RIPPLE-CARRY, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93200 REV D-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 16-BIT TRANSPARENTER D-TYP-LATCH MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-92025 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 16-BIT D-TYP EDGE-GETriggertes FLIP-FLOP MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBEL, EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-91610 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES CMOS, 9-BIT-D-FLIP-FLOP, POSITIV-FLANKEN-GETRIEBEN, MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96563 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, FORTGESCHRITTENES CMOS, SYNCHRONER 4-BIT-AUF/AB-BCD-DEKADENZÄHLER, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-06234 REV A-2012 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTEN, ADVANCED CMOS, SCHMITT 16-BIT BIDIREKTIONALER MEHRZWECK-REGISTRIERTER TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94502 REV B-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 16-BIT-BUS-TRANSCEIVER UND REGISTER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-93199 REV C-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 16-BIT-PUFFER/TREIBER MIT INVERTIERENDEN DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-94509 REV B-2009 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLARES CMOS, 10-BIT-PUFFER/TREIBER MIT NICHTINVERTIERENDEN DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96812 REV B-2010 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 10-BIT ADRESSIERBARE SCAN-PORTS, MULTIDROP-ADRESSIERBARER IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92199 REV B-2013 Mikroschaltkreis, digital, fortschrittliches CMOS, 10-Bit-Puffer/Leitungstreiber mit nichtinvertierenden Drei-Zustands-Ausgängen, TTL-kompatiblen Eingängen, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-90720 REV B-2009 MIKROKIRCUIT, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY, TTL, 9-BIT-BUS-SCHNITTSTELLE D-TYP-LATCHES MIT DREI ZUSTANDSAUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB4115/T 087-2023 Standards für die Sternebewertung von Aufzugswartungseinheiten
DB41/T 791-2017 Klassifizierung und Bewertung ländlicher Tourismusmanagementeinheiten
DB41/T 791-2013 Klassifizierung und Bewertung ländlicher Tourismusmanagementeinheiten

Association Francaise de Normalisation, Korngrößeneinheit

NF EN ISO 18847:2016 Feste Biobrennstoffe – Bestimmung der Dichteeinheit von Pellets und Briketts
NF X11-601:1979 Sieben und Granulometrie. Bestimmung der Fläche pro Massen- oder Volumeneinheit von Pulvern mittels Permeametrie. Lea- und Krankenschwester-Methode.
NF A92-803:2014 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik) - Keramische Verbundwerkstoffe - Bestimmung des Grades der Fehlausrichtung in einachsigen mechanischen Tests
NF A92-803*NF EN ISO 17161:2016 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik) - Keramische Verbundwerkstoffe - Bestimmung des Grades der Fehlausrichtung in einachsigen mechanischen Tests

Professional Standard - Public Safety Standards, Korngrößeneinheit

GA 586-2005 Sicherheitsrisiko und Schutzniveau für Schlüsseleinheit und lebenswichtige Position von Radio, Film und Fernsehen

American National Standards Institute （ANSI), Korngrößeneinheit

ANSI/ASA S12.58-2012 Bestimmung des Schallleistungspegels für Quellen anhand einer Einzelquellenposition
ANSI/TIA/EIA 492CAAA-1998 Detailspezifikation für Dispersions-unverschobene Singlemode-Lichtwellenleiter der Klasse IVa
ANSI/EIA/TIA 492BB00:1989 Blanko-Detailspezifikation für Dispersionsverschobene optische Einmoden-Wellenleiterfasern der Klasse lVb
ANSI/TIA-492CAAB-2000 Detailspezifikation für nicht verschobene optische Singlemode-Fasern der Klasse IVa mit Dispersion und niedrigem Wasserpeak
ANSI/EIA/TIA 492BBOO:1989 Blanko-Detailspezifikation für Dispersionsverschobene optische Einmoden-Wellenleiterfasern der Klasse lVb / Hinweis: Genehmigt am 12.12.1989.

AT-ON, Korngrößeneinheit

ONORM S 5001-3-1993 Akustik – Größen, Einheiten und Definitionen – Schallmessung und Bewertungsgrößen
ONORM S 5026-1996 Messung der Lärmemission schienengebundener Fahrzeuge – Schallleistungspegel pro Längeneinheit

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB36/ 652-2012 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit Polysilizium

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB37/T 4214-2020 Vorschriften über die Verwaltung der Immobilienveräußerung durch Provinzverwaltungseinrichtungen
DB37/T 2973-2017 Detaillierte Regeln für das hierarchische Management- und Kontrollsystem für berufsbedingte Gefahrenrisiken von Arbeitgebern
DB37/T 3512-2019 Detaillierte Regeln für das Sicherheits-, Produktionsrisikoklassifizierungs-, Management- und Kontrollsystem der Betriebsmanagementeinheiten von Wasserschutzprojekten
DB37/T 4259-2020 Richtlinien für die Implementierung eines Management- und Kontrollsystems zur Klassifizierung von Sicherheitsrisiken in der Produktion für Projektbetriebs- und -managementeinheiten in Bewässerungsbezirken
DB37/T 4261-2020 Richtlinien für die Umsetzung des Sicherheitsmanagement- und Kontrollsystems für die Klassifizierung von Produktionsrisiken für Flussbau-Betriebsmanagementeinheiten
DB37/T 4263-2020 Richtlinien für die Umsetzung des Sicherheitsmanagement- und Kontrollsystems für die Klassifizierung von Produktionsrisiken für Managementeinheiten für den Betrieb von Reservoirprojekten
DB37/T 4265-2020 Richtlinien für die Implementierung eines Sicherheitsmanagement- und Kontrollsystems für die Risikoklassifizierung von Wasserumleitungsprojekten
DB37/T 4597-2023 Richtlinien für die Umsetzung des Sicherheitsmanagement- und Kontrollsystems zur Klassifizierung von Produktionsrisiken für geologische Explorationseinheiten von metallischen und nichtmetallischen Mineralressourcen

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB13/T 5273-2020 Hierarchische Managementvorgaben für arbeitsbedingte Gefahrenrisiken von Arbeitgebern
DB13/T 5799-2023 Leitindikatoren für den Energieverbrauchsgrenzwert pro Produkteinheit von Abdichtungsbahnen auf Asphaltbasis
DB13/T 5324-2020 Energieverbrauch pro Produkteinheit von granuliertem Hochofenschlackenpulver, das in Zement, Mörtel und Beton verwendet wird

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB22/T 1817-2021 Klassifizierung und Bewertung der Qualitätsgrade ländlicher Tourismusmanagementeinheiten
DB22/T 1817-2013 Klassifizierung und Bewertung der Servicequalität ländlicher Tourismusmanagementeinheiten
DB22/T 2885-2018 Allgemeine Normen für den Aufbau dualer Präventionsmechanismen für das Risikomanagement und die Kontrolle von Berufskrankheitsgefahren durch Arbeitgeber sowie für die Untersuchung und Behandlung versteckter Gefahren
DB22/T 3214-2020 Implementierungsspezifikationen für den Aufbau dualer Präventionsmechanismen für das Sicherheitsrisikomanagement und die Kontrolle sowie die Untersuchung und Steuerung versteckter Gefahren für Benutzer spezieller Ausrüstung

文化和旅游部, Korngrößeneinheit

LB/T 076-2019 Klassifizierungs- und Bewertungsbedingungen touristischer Planungs- und Gestaltungseinheiten

RU-GOST R, Korngrößeneinheit

GOST 22617.4-1991 Rübensamen. Methoden zur Bestimmung der Masse von 1000 Samen und der Masse einer Säeinheit
GOST 8.079-1979 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Geben Sie den Primärstandard der Temperatureinheit im Bereich von 13,81 bis 273,15 K an

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB15/T 1504-2018 Regeln zur Klassifizierung und Bewertung der Arbeitsqualität von Aufzugswartungseinheiten

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB52/T 931-2014 Technische Spezifikationen für die Bewertung des Brandschutzniveaus von Einheiten mit hohem Brandrisiko

RO-ASRO, Korngrößeneinheit

STAS 4612-1968 Qualitätseinheit. Zylindrische Gewichte aus Gusseisen. Fertigungsstufe 5

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB31/T 595-2012 Zulässiger Wert des Stromverbrauchs und Energieeffizienzniveau von Kühlgeräten
DB31/ 595-2012 Zulässiger Wert des Stromverbrauchs und Energieeffizienzniveau von Kühlgeräten
DB31/595-2012 Zulässiger Wert des Stromverbrauchs und Energieeffizienzniveau von Kühlgeräten

TIA - Telecommunications Industry Association, Korngrößeneinheit

EIA/TIA-492BB00-1989 Blank Detail Specification for Class IVb Dispersion - Shifted Single - Mode Optical Waveguide Fibers

SE-SIS, Korngrößeneinheit

SIS SS CECC 41301-1979 Vordruck für Bauartspezifikation: Singleturn-Drehpotentiometer mit geringer Leistung (Bewertungsstufe S)

British Standards Institution (BSI), Korngrößeneinheit

BS EN 623-3:2001 Hochleistungstechnische Keramik - Monolithische Keramik - Allgemeine und strukturelle Eigenschaften - Bestimmung der Korngröße und Größenverteilung (charakterisiert durch die lineare Intercept-Methode)
BS ISO 20290-1:2021 Zuschlagstoffe für Beton. Prüfverfahren für mechanische und physikalische Eigenschaften – Bestimmung der Schüttdichte, der Partikeldichte, der Partikelmasse pro Volumen und der Wasseraufnahme
BS ISO 17161:2014 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik). Keramische Verbundwerkstoffe. Bestimmung des Grades der Fehlausrichtung bei einachsigen mechanischen Tests

American Society for Testing and Materials (ASTM), Korngrößeneinheit

ASTM D4718-87(2001) Standardpraxis zur Korrektur des Einheitsgewichts und des Wassergehalts für Böden, die übergroße Partikel enthalten
ASTM D4718-87(1994)e2 Standardpraxis zur Korrektur des Einheitsgewichts und des Wassergehalts für Böden, die übergroße Partikel enthalten
ASTM D4718/D4718M-15 Standardpraxis zur Korrektur des Einheitsgewichts und des Wassergehalts für Böden, die übergroße Partikel enthalten
ASTM D4718-87(2007) Standardpraxis zur Korrektur des Einheitsgewichts und des Wassergehalts für Böden, die übergroße Partikel enthalten
ASTM D4718/D4718M-15(2023) Standardpraxis zur Korrektur des Einheitsgewichts und des Wassergehalts für Böden, die übergroße Partikel enthalten
ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten
ASTM D8358-21 Standardhandbuch zur Bewertung und Einbeziehung von Wandablagerungen in die Analyse einstufiger Probenehmer für luftgetragene Partikel
ASTM D7382-08 Standardtestmethoden zur Bestimmung des maximalen Trockengewichts und des Wassergehaltsbereichs für eine effektive Verdichtung körniger Böden mithilfe eines Vibrationshammers
ASTM D7382-07 Standardtestmethoden zur Bestimmung des maximalen Trockengewichts und des Wassergehaltsbereichs für eine effektive Verdichtung körniger Böden mithilfe eines Vibrationshammers

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Korngrößeneinheit

DB35/T 1051-2010 Klassifizierung und Bewertung der Servicequalität von Betriebseinheiten im ländlichen Tourismus in der Provinz Fujian
DB35/T 1051-2016 Klassifizierung und Bewertung der Servicequalität von Betriebseinheiten im ländlichen Tourismus in der Provinz Fujian

European Committee for Standardization (CEN), Korngrößeneinheit

EN 15659:2009 Sichere Lagereinheiten – Klassifizierung und Prüfverfahren für den Feuerwiderstand – Lagereinheiten für leichtes Feuer
EN 13053:2006+A1:2011 Lüftung für Gebäude – Lüftungsgeräte – Nennleistung und Leistung für Geräte, Komponenten und Abschnitte
EN 13053:2001 Lüftung von Gebäuden – Lüftungsgeräte – Nennwerte und Leistung für Geräte, Komponenten und Abschnitte mit Berichtigung vom Juli 2002

Acoustical Society of America (ASA), Korngrößeneinheit

ASA S12.58-2012 Bestimmung des Schallleistungspegels nach amerikanischem Nationalstandard für Quellen unter Verwendung einer Einzelquellenposition

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Korngrößeneinheit

JIS C 5260-5-2:2000 Potentiometer zur Verwendung in elektronischen Geräten – Teil 5: Vordruck für Bauartspezifikation: Eindrehende Drehpotentiometer mit geringer Leistung Bewertungsstufe F
JIS C 5260-5-1:2000 Potentiometer zur Verwendung in elektronischen Geräten – Teil 5: Vordruck für Bauartspezifikation: Eindrehende Drehpotentiometer mit geringer Leistung Bewertungsstufe E
JIS C 5260-4-1:2000 Potentiometer zur Verwendung in elektronischen Geräten – Teil 4: Vordruck für Bauartspezifikation: Leistungsdrehpotentiometer mit einer Drehung Bewertungsstufe E
JIS C 5260-4-2:2000 Potentiometer zur Verwendung in elektronischen Geräten – Teil 4: Vordruck für Bauartspezifikation: Leistungsdrehpotentiometer mit einer Drehung Bewertungsstufe F

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Korngrößeneinheit

KS C IEC 60393-5-1-2013 Potentiometer zur Verwendung in elektronischen Geräten – Teil 5: Blanko-Bauartspezifikation: Eindrehende Drehpotentiometer mit geringer Leistung, Bewertungsniveau E
KS C 5393-42-2013 Potentiometer zur Verwendung in elektronischen Geräten – Teil 4: Blanko-Bauartspezifikation: Leistungsdrehpotentiometer mit einer Drehung, Bewertungsstufe F

International Organization for Standardization (ISO), Korngrößeneinheit

ISO 20290-1:2021 Zuschlagstoffe für Beton – Prüfverfahren für mechanische und physikalische Eigenschaften – Teil 1: Bestimmung der Schüttdichte, Partikeldichte, Partikelmasse pro Volumen und Wasseraufnahme

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Korngrößeneinheit

VDI 2119-2011 Raumluftmessung - Passive Probenahme von Grobstaub zur Charakterisierung einzelner Partikel und Berechnung der größenfraktionierten Massenkonzentration

IEC - International Electrotechnical Commission, Korngrößeneinheit

IEC 60050 CHAP 111-03:1977 Vorabausgabe des International Electrotechnical Vocabulary, Kapitel 111: Physik und Chemie, Abschnitt 111-03 – Konzepte im Zusammenhang mit Größen und Einheiten

ES-UNE, Korngrößeneinheit

UNE-EN 12589:2003 ERRATUM Belüftung für Gebäude. Luftterminaleinheiten. Aerodynamische Prüfung und Bewertung von Endgeräten mit konstanter und variabler Rate.

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), Korngrößeneinheit

ETSI TR 102 214-2003 Dienste und Protokolle für fortgeschrittene Netzwerke (SPAN); Ergebnis der Fragebögen von PNOs und Geräteherstellern zur Identifizierung der Geräteeinheit (V1.1.1)

Society of Automotive Engineers (SAE), Korngrößeneinheit

SAE AS85028/1A-2010 Steckverbinder, elektrisch, rechteckig, individuelle Kontaktabdichtung, polarisierter Innensechskant, Stecker, abnehmbare Crimp-Stiftkontakte, Klasse E

SAE - SAE International, Korngrößeneinheit

SAE AS85028/1-2004 STECKER@ ELEKTRISCH@ RECHTECKIG@ EINZELKONTAKTDICHTUNG@ POLARISIERTE ZENTRIERSCHRAUBE@ STECKER@ CRIMP-ENTFERNBARE STIFTKONTAKTE@ KLASSE E
SAE AS85028/1B-2016 STECKER@ ELEKTRISCH@ RECHTECKIG@ EINZELKONTAKTDICHTUNG@ POLARISIERTE ZENTRIERSCHRAUBE@ STECKER@ ABNEHMBARE CRIMP-STIFTKONTAKTE@ KLASSE