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Prueba de monocristal

Prueba de monocristal, Total: 22 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de monocristal son: Dispositivos semiconductores, Materiales semiconductores, Productos de hierro y acero., pruebas de metales, Óptica y medidas ópticas., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos..


Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Prueba de monocristal

  • GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
  • GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio

Professional Standard - Electron, Prueba de monocristal

  • SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
  • SJ/T 11500-2015 Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino.
  • SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
  • SJ/T 11499-2015 Método de prueba para medir las propiedades eléctricas del carburo de silicio monocristalino.
  • SJ 20844-2002 Método de prueba para la homogeneidad de microzonas de arseniuro de galio monocristalino semiaislante
  • SJ 20858-2002 Métodos de medición de parámetros eléctricos del material monocristalino de carburo de silicio.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Prueba de monocristal

  • GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
  • GB/T 41765-2022 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 22453-2008 Método de medición de dispositivos de cristal de borato óptico no lineal
  • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
  • GB/T 15250-1994 Método de prueba para la atenuación masiva de ondas acústicas de cristales piezoeléctricos de niobato de litio.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Prueba de monocristal

  • KS D 0070-2002(2022) Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
  • KS D 0070-2002(2017) Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
  • KS D 0260-1999 MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Prueba de monocristal

  • GB/T 5252-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del germanio monocristalino.
  • GB/T 8760-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del arseniuro de galio monocristalino

IEC - International Electrotechnical Commission, Prueba de monocristal

  • PAS 62277-2001 Accesorio de prueba de unidades de cristal de cuarzo de montaje en superficie (Edición 1.0;)

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Prueba de monocristal

  • YS/T 557-2006 Método de prueba para la atenuación de ondas acústicas del monocristal piezoeléctrico de niobato de litio

German Institute for Standardization, Prueba de monocristal

  • DIN EN 60444-8:2017-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2016); Versión alemana EN 60444-8:2017 / Nota: DIN EN 60444-8 (2004-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 19 de enero de 2020.




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