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シングルチップ

シングルチップは全部で 50 項標準に関連している。

シングルチップ 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 非鉄金属、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 語彙、 金属材料試験、 建物内の設備、 太陽工学。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, シングルチップ

• GB/T 15713-1995 ゲルマニウム単結晶
• GB/T 5238-2009 ゲルマニウム単結晶およびゲルマニウム単結晶ウエハ
• GB/T 5238-2009(英文版) 単結晶ゲルマニウムおよび単結晶ゲルマニウムウェーハ
• GB/T 30866-2014 炭化珪素枚葉径試験方法
• GB/T 32278-2015 炭化珪素枚葉平坦性試験方法
• GB/T 30867-2014 炭化珪素枚葉ウェーハの厚みと総厚みばらつきの試験方法
• GB/T 30868-2014 化学エッチング法による炭化ケイ素枚葉ウェーハのマイクロチューブ密度の測定
• GB/T 12964-2003 シリコン単結晶研磨ウェーハ
• GB/T 29506-2013 300mmシリコン単結晶研磨ウェーハ
• GB/T 30656-2014 炭化珪素単結晶研磨ウェハ
• GB/T 30656-2023 炭化珪素単結晶研磨ウェハ
• GB/T 12965-1996 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク
• GB/T 12965-2005 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, シングルチップ

• GB/T 5238-2019 ゲルマニウム単結晶およびゲルマニウム単結晶ウエハ
• GB/T 26071-2018 太陽電池用シリコン枚葉ウェーハ
• GB/T 12964-2018 シリコン単結晶研磨ウェーハ
• GB/T 26069-2022 シリコン単結晶アニールシート
• GB/T 12965-2018 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, シングルチップ

• GJB 3076A-2021 リン化ガリウムシングルチップ仕様
• GJB 3076-1997 リン化ガリウムシングルチップ仕様
• GJB 2917A-2018 リン化インジウム枚葉仕様
• GJB 2917A-2004 リン化インジウム枚葉仕様
• GJB 2917-1997 リン化インジウム枚葉仕様
• GJB 1944A-2017 宇宙用太陽電池用シリコン単結晶の規格
• GJB 2452-1995 赤外線検出器用テルル化カドミウム単結晶ウェーハの仕様
• GJB 2918-1997 検出器グレードの高抵抗ゾーン溶融シリコンモノリスの仕様
• GJB 757-1989 レーダーマイクロ波装置用合成マイカ大型シングルチップ

Professional Standard - Electron, シングルチップ

• SJ 20640-1997 赤外線検出器用インジウムアンチモン単結晶ウェーハの規格
• SJ 20750-1999 軍用CMOS回路用の耐放射線硬化シリコンモノリシックウェーハの仕様
• SJ 2572-1985 太陽電池用シリコン単結晶ロッドおよびシート
• SJ 3241-1989 ガリウムヒ素単結晶ロッドおよびシート
• SJ 3243-1989 リン化インジウム単結晶ロッドおよびシート

Association Francaise de Normalisation, シングルチップ

• NF C93-616:2006 弾性表面波デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, シングルチップ

• DB13/T 1314-2010 ソーラーグレード単結晶シリコン角棒、単結晶シリコンウェーハ
• DB13/T 1828-2013 ソーラーグレードの単結晶シリコンウェーハ

Group Standards of the People's Republic of China, シングルチップ

• T/IAWBS 013-2019 半絶縁性炭化珪素枚葉ウェーハの非接触抵抗率測定方法
• T/IAWBS 017-2022 ダイヤモンド単結晶の半値幅の試験方法 X線二重結晶ロッキングカーブ
• T/IAWBS 015-2021 酸化ガリウム単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法
• T/IAWBS 016-2022 炭化珪素単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法
• T/IAWBS 011-2019 導電性炭化ケイ素枚葉比抵抗測定法 非接触渦電流法
• T/ZZB 0497-2018 弾性表面波デバイス用単結晶ウエハ
• T/SZBX 118-2023 太陽電池用単結晶シリコンウェーハ
• T/CEC 290-2019 バックコンタクト単結晶シリコンウェーハの技術要件
• T/ZZB 2675-2022 TVS用シリコン単結晶研磨ディスク

International Electrotechnical Commission (IEC), シングルチップ

• IEC PAS 62276:2001 弾性表面波デバイスに適用できる枚葉規格と測定方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, シングルチップ

• GB/T 34481-2017 低転位密度ゲルマニウム単結晶ウェーハの腐食ピット密度（EPD）の測定方法

Professional Standard - Non-ferrous Metal, シングルチップ

• YS/T 1167-2016 シリコン単結晶エッチングシート

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, シングルチップ

• DB61/T 512-2011 太陽電池用単結晶シリコンウェーハの検査ルール

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, シングルチップ

• YB 1603-1983 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク

UNKNOWN, シングルチップ

• YB 1603-83 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク

その他：   ウエハース, 標準シリコンウェーハ, シリコンウェーハ, ウェーハ検査, シリコンウェーハの検出方法, ウェーハ ウェーハ, シリコンウェーハ要素, txrfシリコンウェーハ, シリコンウェーハエッジ, TXRFチップ, ウェーハ処理, テルル化亜鉛ウェーハ, 3チップトリガー, チップ3枚, ウェハCNC切断, ウェハCNC切断, シングルチップ, スーパーチップ, ウェーハ検査, ウェーハキャリア.