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走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡は全部で 293 項標準に関連している。

走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡 国際標準分類において、これらの分類:光学機器、 光学および光学測定、 分析化学、 語彙、 教育する、 空気の質、 長さと角度の測定、 犯罪予防、 熱力学と温度測定、 電子表示装置、 表面処理・メッキ、 建材、 計測学と測定の総合、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 鉄鋼製品、 電子部品および部品、 セラミックス、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 総合電子部品、 塗料とワニス、 金属材料試験、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 製図、 複合強化素材、 塗料成分、 ゴムやプラスチックの原料、 物理学、化学、 繊維。


British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
  • BS EN ISO 9220:1989 金属皮膜 皮膜厚さ測定 走査型電子顕微鏡法
  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
  • BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • BS ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定 走査型電子顕微鏡
  • BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形状分布を測定します
  • BS EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • 12/30228339 DC BS ISO 16000-27 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面沈降繊維状粉塵の測定 (直接法)
  • BS ISO 14966:2019 走査型電子顕微鏡による大気中の無機繊維粒子の濃度数値測定
  • BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749 ナノテクノロジー 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • BS ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
  • BS ISO 14966:2002 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966 周囲空気中の無機繊維粒子の数値濃度の測定 走査型電子顕微鏡
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
  • BS EN ISO 17751-2:2023 走査型電子顕微鏡を使用したカシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析
  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • BS ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、電子顕微鏡分析、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価。
  • BS EN ISO 17751-2:2016 テキスタイル:カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびそれらのブレンドの定量分析走査型電子顕微鏡
  • BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
  • BS ISO 13794:1999 周囲空気 アスベスト繊維の測定 間接転写電子顕微鏡法
  • PD ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 マイクロビーム分析 電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 エネルギー分解能の測定
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214 透過型電子顕微鏡による線形結晶成長方向の決定に関するガイド
  • BS ISO 13794:2019 間接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • BS ISO 10312:2019 直接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 9220:2022 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO 9220:1988 金属皮膜膜厚測定走査型電子顕微鏡
  • ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
  • ISO 16000-27:2014 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面降下繊維粉塵の測定 (直接法)
  • ISO 14966:2019 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
  • ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
  • ISO 14966:2002 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 周囲空気 無機繊維粒子の数値濃度の測定 走査型電子顕微鏡法 技術訂正事項 1
  • ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
  • ISO 13794:1999 間接転写電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • ISO 10312:1995 直接転写電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • ISO 21363:2020 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル
  • ISO 17751-2:2014 カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡
  • ISO 17751-2:2023 カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびそれらの混合物の定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡
  • ISO 13794:2019 周囲空気 - アスベスト繊維の測定 - 間接転写透過型電子顕微鏡
  • ISO 10312:2019 周囲空気 アスベスト繊維の測定 直接転写透過電子顕微鏡法
  • ISO 17751-2:2016 テキスタイル: カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびそれらのブレンドの定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

Professional Standard - Machinery, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

KR-KS, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド
  • KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
  • KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
  • KS D 2716-2023 ナノ粒子径の測定 - 透過型電子顕微鏡
  • KS K ISO 17751-2-2019 テキスタイル - カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混合物の定量分析 - パート 2: 走査型電子顕微鏡
  • KS C ISO 21363-2023 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法
  • GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法
  • GB/T 34331-2017 キュウリ緑斑モザイクウイルスの透過型電子顕微鏡検出法

Professional Standard - Education, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
  • ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
  • ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
  • ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
  • ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
  • ASTM E986-04 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E986-04(2010) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
  • ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
  • ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
  • ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
  • ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
  • ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
  • ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
  • ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
  • ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
  • ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
  • ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
  • ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド
  • ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
  • ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
  • ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E2142-01 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の不純物の評価と分類のための標準試験方法
  • ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
  • ASTM E3284-23 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) を使用したプライマー残基 (pGSR) の法医学的検査のトレーニングの標準的な実践方法
  • ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
  • ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
  • ASTM E3143-18a リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM E3143-18 リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM E3143-18b リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM D605-82(1996)e1 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D6059-96(2011) 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3849-13 電子顕微鏡を使用したカーボンブラックの形態学的特性の標準試験方法
  • ASTM D3849-14 電子顕微鏡を使用したカーボンブラックの形態学的特性の標準試験方法
  • ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM D3849-95a(2000) 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態学的特性を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3849-07 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態学的特性を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3849-22 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態学的特性を測定するための標準試験方法
  • ASTM E3143-18b(2023) リポソームの低温透過電子顕微鏡検査を実行するための標準的な手法
  • ASTM D7201-06(2020) 位相差顕微鏡(透過型電子顕微鏡オプションあり)による職場内のアスベスト繊維を含む浮遊繊維のサンプリングと計数の標準的な実施方法

Professional Standard - Petroleum, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

国家能源局, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
  • NF A91-108:1995 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
  • NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
  • NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡の用語
  • NF X21-010:2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • NF T25-111-4:1991 炭素繊維 - テクスチャーと構造 - パート 4: 走査型電子顕微鏡によるフラクトグラフィー
  • NF ISO 16000-27:2014 室内空気 - パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面堆積繊維状粉塵の測定 (直接法)
  • NF EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法)
  • FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • FD T16-209:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • NF T16-404:2020 ナノテクノロジー、透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • NF ISO 13794:2020 間接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡
  • NF ISO 10312:2020 直接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

Professional Standard - Judicatory, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • SF/T 0139-2023 土壌検査 走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

Group Standards of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

Professional Standard - Commodity Inspection, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • SN/T 4388-2015 革の識別走査型電子顕微鏡および光学顕微鏡
  • SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1:X線回折・走査型電子顕微鏡法

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • DB32/T 3459-2018 グラフェンフィルムの微小領域の被覆率をテストするための走査型電子顕微鏡法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 23414-2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
  • GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査 パート 6; 走査電子顕微鏡法
  • GB 7667-1996 電子顕微鏡 X線漏洩線量
  • GB 7667-2003 電子顕微鏡 X線漏洩線量
  • GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
  • GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
  • GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査 第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
  • GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生体形態効果に対する環境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理
  • GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
  • GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
  • GB/T 21637-2008 コロナウイルス透過型電子顕微鏡による形態学的識別法
  • GB/Z 26083-2010 オクチルオキシ銅フタロシアニン分子の黒鉛表面への吸着構造の実験方法(走査型トンネル顕微鏡)
  • GB/T 28044-2011 ナノマテリアルの生物学的影響の透過型電子顕微鏡検出法の一般規則
  • GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 43196-2023 ナノ粒子のサイズと形状分布を測定するナノテクノロジー走査型電子顕微鏡

SE-SIS, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

European Committee for Standardization (CEN), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • EN ISO 9220:2022 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
  • EN ISO 9220:1994 金属被覆 コーティング厚さ測定 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220-1988)
  • EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
  • prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
  • EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル

RU-GOST R, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム 走査型電子顕微鏡
  • GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 校正方法
  • GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 識別方法
  • GOST ISO 16000-27-2017 室内空気 その27 SEM(走査型電子顕微鏡)による表面に付着した繊維粉塵の定量(直接法)
  • GOST R 8.631-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子測定顕微鏡 検証方法
  • GOST 21006-1975 電子顕微鏡、用語、定義、およびアルファベット記号
  • GOST 8.593-2009 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 識別方法
  • GOST R 8.630-2007 国家測定均一性保証制度 原子力走査型検出顕微鏡 検証方法
  • GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡 校正方法
  • GOST R 8.593-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム 原子間力走査型トンネル顕微鏡 校正手順

Danish Standards Foundation, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
  • DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • DS/ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します

German Institute for Standardization, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
  • DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空気 その27:表面に付着した繊維状粉塵のSEM(走査型電子顕微鏡)による測定(直接法)
  • DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 (ISO 19749:2021)
  • DIN ISO 16000-27:2014 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法) (ISO 16000-27-2014)
  • DIN EN ISO 9220:1995 金属コーティング、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)、ドイツ語版 EN ISO 9220:1994
  • DIN EN ISO 17751-2:2016-11 カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡
  • DIN EN ISO 17751-2:2022-09 カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡

ES-UNE, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法
  • UNE-EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • UNE-EN ISO 17751-2:2016 カシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析 パート 2: 走査型電子顕微鏡法

Professional Standard - Public Safety Standards, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1938-2021 法医学 金属検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1937-2021 法医学 ゴム検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1522-2018 法医学 銃撃残渣検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法 射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
  • GA/T 1521-2018 法医学 プラスチック元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1519-2018 法医学 トナー元素組成検査 走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1520-2018 法医学 黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法
  • GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

AENOR, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)
  • UNE 77236:1999 直接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

Lithuanian Standards Office , 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

AT-ON, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Association of German Mechanical Engineers, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • DVS 2803-1974 顕微鏡下での電子ビーム溶接(調査)
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定
  • VDI 3492-2004 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
  • VDI 3492-2013 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡

BE-NBN, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。 保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析 透過電子顕微鏡法 透過電子顕微鏡法 植物ウイルスの形態の同定

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

未注明发布机构, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • BS CECC 13:1985(1999) 電子部品の品質評価連携体制:基本仕様:半導体チップの走査型電子顕微鏡検査

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

International Electrotechnical Commission (IEC), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

American National Standards Institute (ANSI), 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • ANSI/ASTM D6059:2001 走査型電子顕微鏡を使用して作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法

工业和信息化部, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析
  • SJ/T 11759-2020 太陽電池電極のグリッドラインのアスペクト比の測定 レーザー走査型共焦点顕微鏡

GOSTR, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボン ナノチューブ

IT-UNI, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • UNI 7604-1976 レプリカを使用した金属材料の電子顕微鏡検査。 顕微鏡写真検査用のレプリカの作成
  • UNI 7329-1974 レプリカを使用した金属材料の電子顕微鏡検査。 微細構造検査用レプリカの作成

PH-BPS, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • PNS ISO 21363:2021 ナノテクノロジー、透過型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GJB 5384.22-2005 火工品特性の試験方法 - パート 21: 電子顕微鏡による煙固体粒子数濃度の測定

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • GJB 8684.22-2015 火工品特性の試験方法 - パート 22: 電子顕微鏡による煙固体粒子数濃度の測定

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • DB44/T 1216-2013 走査型電子顕微鏡とX線分光法を使用したグラフェンの特性評価

BELST, 走査型電子顕微鏡 SEM 電子顕微鏡

  • STB 2210-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料のパラメータを決定する方法




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