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반폭결

모두 19항목의 반폭결와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반폭결와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 음료수, 반도체 소재, 광전자공학, 레이저 장비, 금속 재료 테스트, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 종합 전자 부품, 반도체 개별 장치, 비파괴 검사.

Group Standards of the People's Republic of China, 반폭결

T/BJWA 004-2022 천연 식수에 대한 낮은 헤르츠 17O-NMR 반피크 폭
T/BJWA 005-2022 수질 17O-NMR 반피크 폭 측정 핵자기공명법
T/IAWBS 017-2022 다이아몬드 단결정 X선 이중결정 요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 015-2021 산화갈륨 단결정 웨이퍼의 X선 쌍요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 016-2022 탄화규소 단결정 웨이퍼의 X선 트윈 로킹 곡선의 반높이 폭 시험 방법

Professional Standard - Electron, 반폭결

SJ 2355.7-1983 반도체 발광 소자의 시험 방법, 발광 피크 파장 및 스펙트럼 반폭 시험 방법
SJ 2658.12-1986 반도체 적외선 발광 다이오드의 테스트 방법 피크 방출 파장 및 스펙트럼 반폭 테스트 방법
SJ/T 2658.12-2015 반도체 적외선 방출 다이오드의 측정 방법 - 파트 12: 피크 방출 파장 및 스펙트럼 방사 대역폭

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반폭결

GB/T 32188-2015 질화갈륨 단결정 기판의 X선 쌍결정 로킹 커브의 반치폭 시험 방법
GB/T 23413-2009 나노물질의 입자 크기 및 미세 변형률 측정 X-선 회절선 확장 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 반폭결

IEC 62435-5:2017 전자 부품 전자 반도체 장비의 장기 보관 5부: 다이 및 웨이퍼 장비

British Standards Institution (BSI), 반폭결

BS EN 62435-5:2017 전자 부품 전자 반도체 장비의 장기 보관 5부: 다이 및 웨이퍼 장비

BE-NBN, 반폭결

NBN A 23-114-1983 반제품으로 배송되는 자기 냉간 압연 비방향성 합금강 스트립

Association Francaise de Normalisation, 반폭결

NF A04-503:1988 알루미늄, 구리, 니켈 및 그 합금의 반제품 입자 크기 결정 알루미늄 및 알루미늄 합금
NF A04-505:1988 알루미늄, 구리, 니켈 및 그 합금의 반제품 입자 크기 결정 니켈 및 니켈 합금

Defense Logistics Agency, 반폭결

DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 반도체 장치, N채널 트랜지스터 전계 효과 방사선 내성(총 선량 및 단일 이벤트 효과), 실리콘 모델 2N7405, 2N7406, 2N7407 및 2N7408, JANSD 및 JANSR
DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 반도체 장치, N채널 트랜지스터 전계 효과 방사선 내성(총 선량 및 단일 이벤트 효과), 실리콘 모델 2N7488T3, 2N7489T3 및 2N7490T3, JANTXVR 및 JANSR
DLA MIL-PRF-19500/658 VALID NOTICE 2-2011 반도체 장치, 전계 효과 방사선 강화(총 선량 및 단일 이벤트 효과) 트랜지스터, P 채널 실리콘 유형 2N7438 및 2N7439 JANSD 및 JANSR
DLA MIL-PRF-19500/706 A VALID NOTICE 1-2010 반도체 장치, 전계 효과 방사선 강화(총 선량 및 단일 이벤트 효과) 트랜지스터, N 채널, 실리콘 유형 2N7497T2, 2N7498T2 및 2N7499T2, JANTXVR 및 JANSR

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