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잔류 응력 테스트

모두 15항목의 잔류 응력 테스트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 잔류 응력 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 금속 재료 테스트, 상품의 종합 포장 및 운송, 세라믹, 수자원 보호 건설, 반도체 개별 장치, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품.


Indonesia Standards, 잔류 응력 테스트

  • SNI 07-6735-2002 시추공 스트레인 게이지를 이용한 잔류 응력 테스트 방법

RU-GOST R, 잔류 응력 테스트

Professional Standard - Electron, 잔류 응력 테스트

  • SJ 3232.2-1989 저융점 용접 유리분말 본드의 잔류응력 시험방법

Group Standards of the People's Republic of China, 잔류 응력 테스트

  • T/CSTM 00440-2023 CVD 세라믹 코팅의 열팽창계수 및 잔류응력 시험방법

Professional Standard - Water Conservancy, 잔류 응력 테스트

  • SL 499-2010 드릴링 변형법에 의한 잔류 응력 측정을 위한 표준 시험 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 잔류 응력 테스트

  • ASTM E837-08e1 시추공 스트레인 게이지를 이용한 잔류 응력 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E837-01 시추공 스트레인 게이지를 이용한 잔류 응력 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E837-20 시추공 스트레인 게이지를 이용한 잔류 응력 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2860-20 베어링강의 X선 회절을 이용한 잔류응력 측정의 표준시험방법

Association Francaise de Normalisation, 잔류 응력 테스트

  • NF C96-050-16*NF EN 62047-16:2015 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 16부: MEMS 필름의 잔류 응력 결정을 위한 테스트 방법 웨이퍼 곡률 및 캔틸레버 편향 방법
  • NF EN 62047-16:2015 반도체 장치, 미세 전자기계 장치, 파트 16: MEMS 필름의 잔류 응력 측정을 위한 테스트 방법, 웨이퍼 곡률 및 캔틸레버 편향 방법

ES-UNE, 잔류 응력 테스트

  • UNE-EN 62047-16:2015 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 16부: MEMS 필름의 잔류 응력을 결정하는 테스트 방법 웨이퍼 곡률 및 캔틸레버 편향 방법
  • UNE-EN ISO 21432:2022 중성자 회절에 의한 잔류 응력의 비파괴 시험을 위한 표준 시험 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 잔류 응력 테스트

  • IEC 62047-16:2015 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 16부: MEMS 필름의 잔류 응력을 결정하기 위한 테스트 방법 웨이퍼 곡률 및 캔틸레버 편향 방법

German Institute for Standardization, 잔류 응력 테스트

  • DIN EN 62047-16:2015-12 반도체 장치 - 미세 전자 기계 장치 - 16부: MEMS 필름의 잔류 응력 결정을 위한 테스트 방법 - 웨이퍼 곡률 및 캔틸레버 편향 방법




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