Остаточное стресс-тестирование

Остаточное стресс-тестирование, Всего: 16 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Остаточное стресс-тестирование, являются: Испытание металлов, Упаковка и распространение товаров в целом, Керамика, Гидравлическое строительство, Полупроводниковые приборы, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования.

Indonesia Standards, Остаточное стресс-тестирование

SNI 07-6735-2002 Методы испытаний для определения остаточных напряжений тензометрическими методами сверления отверстий

RU-GOST R, Остаточное стресс-тестирование

GOST 31292-2006 Стеклянные контейнеры. Методы испытаний остаточных напряжений после отжига

Professional Standard - Electron, Остаточное стресс-тестирование

SJ 3232.2-1989 Метод испытаний на склеивание остаточных напряжений порошка легкоплавкого сварочного стекла

Group Standards of the People's Republic of China, Остаточное стресс-тестирование

T/CSTM 00440-2023 Метод испытаний для определения коэффициента теплового расширения и остаточного напряжения керамических покрытий CVD

Professional Standard - Water Conservancy, Остаточное стресс-тестирование

SL 499-2010 Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений тензометрическим методом сверления отверстий (ASTM E837-08,IDT)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Остаточное стресс-тестирование

ASTM E837-08e1 Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений тензометрическим методом сверления отверстий
ASTM E837-01 Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений тензометрическим методом сверления отверстий
ASTM E837-20 Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений тензометрическим методом сверления отверстий
ASTM E2860-20 Стандартный метод испытаний подшипниковых сталей для измерения остаточных напряжений методом рентгеновской дифракции

Association Francaise de Normalisation, Остаточное стресс-тестирование

NF C96-050-16*NF EN 62047-16:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Кривизна пластины и методы отклонения консольной балки
NF EN 62047-16:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Методы кривизны пластин и отклонения консольной балки

ES-UNE, Остаточное стресс-тестирование

UNE-EN 62047-16:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Методы кривизны пластины и отклонения консольного луча (одобрено AENOR в августе 2015 г.)
UNE-EN ISO 21432:2022 Неразрушающий контроль. Стандартный метод испытаний для определения остаточных напряжений методом нейтронографии (ISO 21432:2019)

International Electrotechnical Commission (IEC), Остаточное стресс-тестирование

IEC 62047-16:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Кривизна пластины и методы отклонения консольной балки

German Institute for Standardization, Остаточное стресс-тестирование

DIN EN 62047-16:2015-12 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Методы кривизны пластин и отклонения консольной балки (IEC 62047-16:2015); Немецкая версия EN 62047-16:2015

未注明发布机构, Остаточное стресс-тестирование

DIN EN 62047-16 E:2012-11 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок МЭМС. Кривизна пластины и методы отклонения консольной балки