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DE반도체 테스트 장비 모델
모두 178항목의 반도체 테스트 장비 모델와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 반도체 테스트 장비 모델와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전기 장비 부품, 길이 및 각도 측정, 반도체 개별 장치, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 광전자공학, 레이저 장비, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 전송 및 배전망, 조선 및 해양 구조물 통합, 산업자동화 시스템, 진공 기술, 정보 기술을 위한 언어, 공기질, 기술 도면, 전자 장비용 기계 부품, 인터페이스 및 상호 연결 장비.
Professional Standard - Machinery, 반도체 테스트 장비 모델
Group Standards of the People's Republic of China, 반도체 테스트 장비 모델
YU-JUS, 반도체 테스트 장비 모델
RO-ASRO, 반도체 테스트 장비 모델
Defense Logistics Agency, 반도체 테스트 장비 모델
- DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 반도체 장비, 트랜지스터, 유형 2N389 및 2N424(해군)
- DLA MIL-PRF-19500/597 D VALID NOTICE 1-2008 N 채널과 4개의 트랜지스터를 갖춘 모델 번호 2N7334, JAN, JANTX, JANTXV, JANS, JANHC, JANKCA2N7334 및 JANHCA2N7334의 실리콘 크리스탈 전계 효과 반도체 장치
- DLA SMD-5962-93228 REV B-2005 실리콘 모놀리식, 테스트 버스 트랜시버, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-86864-1988 프로그래밍 가능 논리 장치 보완형 금속 산화물 반도체 지울 수 있는 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87640 REV B-2002 실리콘 모놀리식 바이폴라 금속 산화물 반도체 기술 인터럽트 인터페이스 래치 장치, 선형 마이크로 회로
- DLA MIL-PRF-19500/534 F-2008 모델은 2N5002 및 2N5004, JAN, JANTX, JANTXV, JANS, JANSM, JANSD, JANSP, JANSL, JANSR, JANSF, JANSG, JANSH, JANHCB, JANKCB, JANKCBM, JANKCBD, JANKCBP, JANKCBL, JANKCBR, JANKCBF, JANKCBG 및 JANKCB입니다. H. 실리콘 트랜지스터 반도체 장치
- DLA MIL-PRF-19500/420 L-2008 모델 번호 1N5550 ~ 1N5554, 1N5550US ~ 1N5554US, JAN, JANTX, JANTXV, JANS, JANHCA, JANHCB, JANHCC, JANHCD, JANHCE, JANKCA, JANKCD 및 JANKCE의 실리콘 다이오드 반도체 장치(전력 정류기 포함)
- DLA SMD-5962-87641-1988 실리콘 모놀리식 래칭 장치, 입력 밀봉, 양극 금속 산화물 반도체 기술 8비트, 선형 미세 회로
SE-SIS, 반도체 테스트 장비 모델
CZ-CSN, 반도체 테스트 장비 모델
PL-PKN, 반도체 테스트 장비 모델
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 반도체 테스트 장비 모델
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 반도체 테스트 장비 모델
Lithuanian Standards Office , 반도체 테스트 장비 모델
HU-MSZT, 반도체 테스트 장비 모델
British Standards Institution (BSI), 반도체 테스트 장비 모델
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 반도체 테스트 장비 모델
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 테스트 장비 모델
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 반도체 테스트 장비 모델
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 반도체 테스트 장비 모델
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 반도체 테스트 장비 모델
AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., 반도체 테스트 장비 모델
Association Francaise de Normalisation, 반도체 테스트 장비 모델
Aerospace Industries Association, 반도체 테스트 장비 모델
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 반도체 테스트 장비 모델
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 반도체 테스트 장비 모델
Danish Standards Foundation, 반도체 테스트 장비 모델
Professional Standard - Electron, 반도체 테스트 장비 모델
工业和信息化部, 반도체 테스트 장비 모델
United States Navy, 반도체 테스트 장비 모델
国家质量监督检验检疫总局, 반도체 테스트 장비 모델
German Institute for Standardization, 반도체 테스트 장비 모델
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 반도체 테스트 장비 모델
AENOR, 반도체 테스트 장비 모델
未注明发布机构, 반도체 테스트 장비 모델
RU-GOST R, 반도체 테스트 장비 모델
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 반도체 테스트 장비 모델
AT-OVE/ON, 반도체 테스트 장비 모델
Canadian Standards Association (CSA), 반도체 테스트 장비 모델
International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 테스트 장비 모델
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 반도체 테스트 장비 모델
ECIA - Electronic Components Industry Association, 반도체 테스트 장비 모델
Professional Standard - Aerospace, 반도체 테스트 장비 모델
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 반도체 테스트 장비 모델
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 반도체 테스트 장비 모델
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 반도체 테스트 장비 모델
ES-UNE, 반도체 테스트 장비 모델
American National Standards Institute （ANSI), 반도체 테스트 장비 모델
- ANSI/IEEE 1450.1:2005 반도체 설계 환경을 위한 STIL(Standard Test Interface Language)(IEEE Std. 1450-1999) 확장에 대한 표준