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반도체 소재

모두 26항목의 반도체 소재와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 소재와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 절연유체, 반도체 소재, 절단 도구, 종합 전자 부품, 금속 재료 테스트, 어휘, 분석 화학, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 표면 처리 및 도금, 씰, 씰링 장치.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 소재

RO-ASRO, 반도체 소재

Professional Standard - Electron, 반도체 소재

  • SJ/T 11775-2021 반도체 소재 다선 절단기
  • SJ/Z 3206.13-1989 반도체 재료의 방출 스펙트럼 분석 방법에 대한 일반 원리
  • SJ 20744-1999 반도체 재료의 불순물 함량에 대한 적외선 흡수 분광 분석에 대한 일반 지침

HU-MSZT, 반도체 소재

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 반도체 소재

  • GB/T 14844-2018 반도체 재료등급 표현방법
  • GB/T 1550-2018 외부 반도체 재료의 전도성 유형 테스트 방법
  • GB/T 36646-2018 질화물 반도체 재료 제조를 위한 수소화물 기상 에피택시 장비

Group Standards of the People's Republic of China, 반도체 소재

RU-GOST R, 반도체 소재

  • GOST 22622-1977 반도체 재료, 기본 전기 및 물리적 매개변수, 용어 및 정의

Association Francaise de Normalisation, 반도체 소재

  • XP CEN/TS 16599:2014 광촉매는 반도체 재료의 광촉매 성능을 테스트하기 위해 조사 조건을 결정합니다.
  • XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 소재의 광촉매 성능을 테스트하는 데 사용되는 조사 조건 및 이러한 조건의 측정

European Committee for Standardization (CEN), 반도체 소재

  • PD CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 재료의 광촉매 특성을 위한 조사 조건 및 이러한 조건 결정
  • CEN/TS 16599:2014 광촉매 시험 반도체 소재의 광촉매 성능을 위한 조사조건 및 측정조건

British Standards Institution (BSI), 반도체 소재

  • BS PD CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 재료의 광촉매 특성을 테스트하기 위한 조사 조건 및 이러한 조건의 측정

German Institute for Standardization, 반도체 소재

  • DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 광촉매 시험 반도체 소재의 광촉매 성능을 위한 조사조건 및 측정조건
  • DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정
  • DIN 50431:1988 반도체 재료의 테스트 프로브를 직선으로 배열한 4-프로브/DC 방식을 사용하여 단결정 실리콘 또는 게르마늄 단결정의 저항률을 측정합니다.

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