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RUHalbleitermaterial
Für die Halbleitermaterial gibt es insgesamt 26 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleitermaterial die folgenden Kategorien: Isolierflüssigkeit, Halbleitermaterial, Schneidewerkzeuge, Umfangreiche elektronische Komponenten, Prüfung von Metallmaterialien, Wortschatz, analytische Chemie, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Dichtungen, Dichtungsgeräte.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Halbleitermaterial
RO-ASRO, Halbleitermaterial
Professional Standard - Electron, Halbleitermaterial
- SJ/T 11775-2021 Mehrdrahtsäge für Halbleitermaterialien
- SJ/Z 3206.13-1989 Allgemeine Regeln für die Emissionsspektrumanalyse von Halbleitermaterialien
- SJ 20744-1999 Allgemeine Regel der Infrarot-Absorptionsspektralanalyse für die Verunreinigungskonzentration in Halbleitermaterialien
HU-MSZT, Halbleitermaterial
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Halbleitermaterial
- GB/T 14844-2018 Bezeichnungen von Halbleitermaterialien
- GB/T 1550-2018 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien
- GB/T 36646-2018 Ausrüstung zur Herstellung von Nitrid-Halbleitermaterialien durch Hydrid-Dampfphasenepitaxie
Group Standards of the People's Republic of China, Halbleitermaterial
- T/CASME 798-2023 Spezialisierte Bearbeitungswerkzeuge für Halbleitermaterialien
- T/CNIA 0143-2022 Hochreine Harzgefäße für die Spurenverunreinigungsanalyse von Halbleitermaterialien
- T/ZJATA 0017-2023 Epitaxieausrüstung für chemische Gasphasenabscheidung (CVD) zur Herstellung von Siliziumkarbid-Halbleitermaterialien
- T/ICMTIA CM0035-2023 Dichtung für eine Vorrichtung zur Verarbeitung von Halbleitersiliziummaterial
RU-GOST R, Halbleitermaterial
Association Francaise de Normalisation, Halbleitermaterial
- XP CEN/TS 16599:2014 Photokatalyse – Bestimmung der Bestrahlungsbedingungen zur Prüfung der photokatalytischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien
- XP B44-014*XP CEN/TS 16599:2014 Photokatalyse – Bestrahlungsbedingungen zur Prüfung der photokatalytischen Eigenschaften halbleitender Materialien und Messung dieser Bedingungen
European Committee for Standardization (CEN), Halbleitermaterial
- PD CEN/TS 16599:2014 Photokatalyse – Bestrahlungsbedingungen zur Prüfung der photokatalytischen Eigenschaften halbleitender Materialien und Messung dieser Bedingungen
- CEN/TS 16599:2014 Photokatalyse – Bestrahlungsbedingungen zur Prüfung der photokatalytischen Eigenschaften halbleitender Materialien und Messung dieser Bedingungen
British Standards Institution (BSI), Halbleitermaterial
- BS PD CEN/TS 16599:2014 Photokatalyse. Bestrahlungsbedingungen zur Prüfung der photokatalytischen Eigenschaften halbleitender Materialien und Messung dieser Bedingungen
German Institute for Standardization, Halbleitermaterial
- DIN CEN/TS 16599:2014-07*DIN SPEC 7397:2014-07 Photokatalyse – Bestrahlungsbedingungen zur Prüfung der photokatalytischen Eigenschaften halbleitender Materialien und Messung dieser Bedingungen; Deutsche Fassung CEN/TS 16599:2014
- DIN 50435:1988 Prüfung von Halbleitermaterialien; Bestimmung der radialen Widerstandsschwankung von Silizium- oder Germaniumscheiben mittels der Vier-Sonden-/Gleichstrom-Methode
- DIN 50431:1988 Prüfung von Halbleitermaterialien; Messung des spezifischen Widerstands von Silizium- oder Germanium-Einkristallen mittels der Vier-Sonden-/Gleichstrommethode mit kollinearem Array