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제덱 22

모두 129항목의 제덱 22와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 제덱 22와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 정보 기술 응용, 표면 처리 및 도금, 전자 장비용 기계 부품.

未注明发布机构, 제덱 22

• JEDEC JESD 22-A104F-2020
• JEDEC JESD22-A121A-2008(2014)
• JEDEC JESD22-A105D-2020
• JEDEC JESD22-A111B-2018
• JEDEC JESD22-B118A-2021
• JEDEC JESD22-B120-2022
• JEDEC JESD22-A120C-2022
• JEDEC JESD22-B111A-2016
• JEDEC JESD22-A108G-2022
• JEDEC JESD22-B121-2023
• JEDEC JESD22-B119-2018
• JEDEC JESD22-B130-2022
• JEDEC JESD22-A117E-2018
• JEDEC JESD22-A113I-2020
• JEDEC JESD22-A119A-2015(2021)
• JEDEC JESD22-B114B-2020
• JEDEC JESD22-A104F.01-2023
• JEDEC JESD22-B105E-2018
• JEDEC JESD22-A102E-2015(2021)
• JEDEC JESD22-B116B-2017
• JEDEC JESD22-A106B.02-2022
• JEDEC JESD22-B112C-2023
• JEDEC JESD22-B113B-2018
• JEDEC JESD22-A118B.01-2018
• JEDEC JESD22-A107C-2013(2020)
• JEDEC JESD22-A101D.01-2021
• JEDEC JESD22-B112B-2018
• JEDEC JESD22-B101D-2022
• JEDEC JESD22-B110B.01-2019
• JEDEC JESD22-B100B-2003(2016)
• JEDEC JESD22-B107D-2011(2018)
• JEDEC JESD22-B104C-2004(2009)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 제덱 22

• JEDEC JESD22A121A-2008 주석 및 주석 합금 표면의 장식 위스커 성장을 측정하는 테스트 방법
• JEDEC JESD22-A109-A-2001 기밀성
• JEDEC JESD22-A115-A-1997 A115-A 정전기 방전 감도 테스트 기계 모드
• JEDEC JESD22-A117A-2006 전자 소거 가능 프로그래밍 가능 ROM 프로그래밍/삭제 내구성 및 데이터 보존 테스트
• JEDEC JESD22-A118-2000 습기에 대한 저항력이 향상되었습니다.
• JEDEC JESD22-A119-2004 저온 보관
• JEDEC JESD22-A120-2001 집적회로에 사용되는 유기물질의 수분확산도 및 수용해도 측정 시험방법
• JEDEC JESD22-A122-2007 전원 사이클
• JEDEC JESD22A111-2004 솔더에 담근 표면 실장 제품의 성능을 평가하는 절차
• JEDEC JESD22A121.01-2005 주석 및 주석 합금 표면의 위스커 성장을 측정하는 테스트 방법
• JEDEC JESD22-A119A-2015 저온 보관 수명
• JEDEC JESD22-A121A-2008 주석 및 주석 합금 표면 마감재의 위스커 성장을 측정하는 테스트 방법
• JEDEC JESD22-A118A-2011 가속된 내습성 편견 없는 HAST
• JEDEC JESD22-A111A-2010 소형 표면 실장 솔리드 스테이트 장치의 전체 본체 솔더 침지를 통한 하단 측면 부착 기능을 결정하기 위한 평가 절차
• JEDEC JESD22-A122A-2016 전원 사이클
• JEDEC JESD22-A113H-2016 UFS(범용 플래시 저장소) 카드 확장 버전 3.0
• JEDEC JESD22-A108D-2010 온도, 바이어스 및 수명
• JEDEC JESD22-A104E-2014 온도주기
• JEDEC JESD22-A107C-2013 소금분위기
• JEDEC JESD22-A101D-2015 정상 상태 온도 및 습도 바이어스 수명 테스트
• JEDEC JESD22-A100C-2007 순환 온도 및 습도 바이어스 수명 테스트
• JEDEC JESD22-A100D-2013 순환 온도 및 습도 바이어스 수명 테스트
• JEDEC JESD22-B115A-2010 솔더 볼 장력
• JEDEC JESD22-A100-B-2000 주기적인 온도와 습도가 수명에 미치는 영향에 대한 테스트
• JEDEC JESD22-A101-B-1997 정상상태 온도 및 습도 편차 내구성 테스트
• JEDEC JESD22-A102-C-2000 가속화된 내습성.편향되지 않은 오토클레이브
• JEDEC JESD22-A103C-2004 고온 보관
• JEDEC JESD22-A104C-2005 온도주기
• JEDEC JESD22-A105C-2004 전력 및 온도 사이클링
• JEDEC JESD22-A106B-2004 열충격
• JEDEC JESD22-A107B-2004 소금 스프레이
• JEDEC JESD22-A108C-2005 온도, 편차 및 작동 수명
• JEDEC JESD22-A110-B-1999 A110-B 고가속 온도, 습도 및 압력 테스트 방법
• JEDEC JESD22A113E-2006 신뢰성 테스트에 앞서 밀봉되지 않은 표면 장착 장비의 사전 조정
• JEDEC JESD22-A114E-2007 정전기 방전 감수성 테스트.인체 모델
• JEDEC JESD22-B101A-2004 육안 검사
• JEDEC JESD22-B108A-2003 표면 실장 반도체 장비의 동일 평면성 테스트
• JEDEC JESD22-B109-2002 플립 칩 장력
• JEDEC JESD22-B110A-2004 하위 어셈블리의 기계적 충격
• JEDEC JESD22-B111-2003 휴대용 전자제품 부품의 책상 높이 낙하 시험 방법
• JEDEC JESD22-B113-2006 휴대용 전자 제품 부품의 상호 연결 신뢰성 특성에 대한 테이블 높이 교번 굽힘 시험 방법
• JEDEC JESD22-B115-2007 솔더 볼 장력
• JEDEC JESD22-B116-1998 와이어 연결 전단 테스트
• JEDEC JESD22-B117A-2006 솔더 볼 전단
• JEDEC JESD22B112-2005 고온 패키지 변형 측정 방법
• JEDEC JESD22-A108F-2017 UFS(범용 플래시 저장소) 카드 확장 버전 3.0
• JEDEC JESD22-A104F-2020 온도주기
• JEDEC JESD22-A110E-2015 HAST(고가속 온도 및 습도 스트레스 테스트)
• JEDEC JESD22-A115C-2010 정전기 방전(ESD) 감도 테스트, 기계 모델(MM)
• JEDEC JESD22B113A-2012 휴대용 전자 장치의 SMT IC 상호 연결의 신뢰성 특성화를 위한 보드 레벨 순환 굽힘 테스트 방법
• JEDEC JESD22-A117C-2011 전기적으로 지울 수 있는 프로그래밍 가능 ROM(EEPROM) 프로그램/삭제 내구성 및 데이터 보존 스트레스 테스트
• JEDEC JESD22-B109A-2009 플립 칩 풀
• JEDEC JESD22-A115B-2010 정전기 방전(ESD) 감도 테스트, 기계 모델(MM)
• JEDEC JESD22-A113F-2008 신뢰성 테스트 전 비밀폐형 표면 실장 장치의 사전 조정
• JEDEC JESD22-A113G-2015 신뢰성 테스트 전 비밀폐형 표면 실장 장치의 사전 조정
• JEDEC JESD22-A102D-2010 가속된 습기 저항성 없는 오토클레이브
• JEDEC JESD22-A102E-2015 가속된 습기 저항성 없는 오토클레이브
• JEDEC JESD22-A118B-2015 가속된 내습성 편견 없는 HAST
• JEDEC JESD22-A109B-2011 기밀성
• JEDEC JESD22-A110C-2009 HAST(고가속 온도 및 습도 스트레스 테스트)
• JEDEC JESD22-A110D-2010 HAST(고가속 온도 및 습도 스트레스 테스트)
• JEDEC JESD22-A103D-2010 고온 보관 수명
• JEDEC JESD22-A103E-2015 고온 보관 수명
• JEDEC JESD22-A120B-2014 전자소자에 사용되는 유기재료의 수분확산도 및 수용해도 측정을 위한 시험방법
• JEDEC JESD22B114A-2011 마크 가독성
• JEDEC JESD22-B118-2011 반도체 웨이퍼 및 칩 후면 외관검사
• JEDEC JESD22-A114F-2008 정전기 방전(ESD) 민감도 테스트 인체 모델(HBM)
• JEDEC JESD22-A100E-2020 표면 응축 수명 테스트를 통한 순환 온도-습도 오프셋
• JEDEC JESD82-22-2006 FBDIMM 진단 감각 회로 기기 칩 데이터 시트
• JEDEC JESD8-22-2009 HSUL_12 LPDDR2 입력/출력
• JEDEC JESD22-B106E-2016 UFS(범용 플래시 저장소) 카드 확장 버전 3.0
• JEDEC JESD22-B106D-2008 스루홀 실장 장치의 납땜 충격 저항
• JEDEC JESD22-C101D-2008 마이크로 전자 부품의 정전기 방전 허용 한계값에 대한 현장 충전 장치 모델 테스트 방법
• JEDEC JESD22-B101B-2009 외부 시력
• JEDEC JESD22-B101C-2015 외부 시력
• JEDEC JESD22-B100B-2003 물리적 크기
• JEDEC JESD22-B102D-2004 납땜성
• JEDEC JESD22-B103B-2002 가변 주파수 진동
• JEDEC JESD22-B104C-2004 기계적 충격
• JEDEC JESD22-B105C-2003 리드 무결성
• JEDEC JESD22-B106C-2005 스루홀 고정 장치의 납땜 온도 저항에 대한 B106C 테스트 방법
• JEDEC JESD22-B107C-2004 지속성을 표시
• JEDEC JESD22-C101C-2004 마이크로 전자 부품의 정전기 방지 방전 임계값에 대한 전계 유도 방전 장치 모델 테스트 방법
• JEDEC JESD22-A118B.01-2021 UFS(범용 플래시 저장소) 카드 확장 버전 3.0
• JEDEC JESD22-B109C-2021 플립 칩 인장력
• JEDEC JESD22-B109B-2014 플립 칩 풀
• JEDEC JESD22-B102E-2007 납땜성
• JEDEC JESD22-B110B-2013 기계적 충격 어셈블리 및 하위 어셈블리
• JEDEC JESD22-B105D-2011 리더십 무결성
• JEDEC JESD22-A103E.01-2021 고온 보관 수명(JESD22-A103E의 일부 편집 개정판, 2015년 10월)
• JEDEC JESD22-B107D-2011 영구적으로 표시
• JEDEC JESD22-C101F-2013 마이크로 전자 부품의 정전기 방전 허용 한계값에 대한 현장 충전 장치 모델 테스트 방법
• JEDEC JESD22-B115A.01-2016 솔더 볼 장력
• JEDEC JESD22-B108B-2010 표면 실장 반도체 장치의 동일 평면성 테스트
• JEDEC JESD22-B117B-2014 솔더 볼 전단
• JEDEC JESD8-22B-2014 ODT 옵션이 있는 HSUL_12 LPDDR2 및 LPDDR3 I/O
• JEDEC JESD22-B103B.01-2016 UFS(범용 플래시 저장소) 카드 확장 버전 3.0

기타:   제덱, jedecjesd22a121a-2008, 제덱 jesd22-c101d-2008, 제덱 22, 제덱 jesd22, 제덱22 b116, 제덱 jesd22-c101f-2013, 제덱 22-b111, 제덱 jesd22-c101, jedec-22-a102, 제덱 jesd22b1, jedecjesd22-b108b, 제덱 22-b117, 제덱 jesd22-b117a-2006, 제덱2, jedecjesd22-a114f, 제덱 jesd22-a118, jedecjesd22-a115-a, jedecjesd22-a101d, JEDEC 22 A102.