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실리콘 웨이퍼

모두 219항목의 실리콘 웨이퍼와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 실리콘 웨이퍼와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 태양광 공학, 반도체 소재, 배터리 및 축전지, 비철금속, 절연유체, 금속 재료 테스트, 공작기계 장비, 철강 제품, 절단 도구, 유리, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 어휘, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 쓰레기, 반도체 개별 장치, 단열재, 씰, 씰링 장치, 에너지 및 열 전달 공학 종합, 일반, 용어, 표준화, 문서화, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 전기 장비 부품, 길이 및 각도 측정, 농업 기계, 도구 및 장비, 내부 연소 엔진, 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치, 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 데이터 저장 장치, 분석 화학, 경보 및 경고 시스템, 환풍기, 선풍기, 에어컨.


German Institute for Standardization, 실리콘 웨이퍼

  • DIN V VDE V 0126-18-2-1:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 2-1부: 실리콘 웨이퍼 기하학적 치수 측정 실리콘 웨이퍼 두께
  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 3부: 결정질 실리콘 웨이퍼의 알칼리성 부식 손상 단결정 및 다결정 실리콘 웨이퍼의 부식 속도 결정 방법.
  • DIN V VDE V 0126-18-5:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 5부: 실리콘 웨이퍼의 저항 측정 절차
  • DIN V VDE V 0126-18-2-2:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 2-2부: 실리콘 웨이퍼의 기하학적 치수 측정 두께 변화
  • DIN V VDE V 0126-18-2-3:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 파트 2-3: 실리콘 웨이퍼의 기하학적 치수 측정 주름 및 왜곡.
  • DIN EN 50513:2009 태양광 실리콘 웨이퍼 태양전지 제조에 사용되는 결정질 실리콘 웨이퍼에 대한 데이터 시트 및 제품 정보
  • DIN V VDE V 0126-18-2-4:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 2-4부: 실리콘 웨이퍼의 기하학적 치수 측정 톱 마크 및 스텝 톱 마크
  • DIN V VDE V 0126-18-4-1:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 4-1부: 실리콘 웨이퍼의 전기적 특성 측정 절차 온라인 측정 방법을 통한 소수 캐리어 수명 결정
  • DIN EN 62047-9:2012 반도체 장치 마이크로 전자 기계 장치 파트 9: 마이크로 전자 기계 시스템 실리콘 웨이퍼에 대한 실리콘 웨이퍼 결합 강도 테스트(IEC 62047-9-2011) 독일어 버전 EN 62047-9-2011
  • DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정
  • DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 4-2부: 실리콘의 전기적 특성 측정 절차 소수 캐리어 수명 결정을 위한 실험실 측정

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 실리콘 웨이퍼

Group Standards of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 실리콘 웨이퍼

  • GB/T 14140-2009 실리콘 웨이퍼 직경 측정 방법
  • GB/T 6619-1995 실리콘 웨이퍼 굽힘 시험 방법
  • GB/T 6619-2009 실리콘 웨이퍼 굽힘 시험 방법
  • GB/T 29055-2012 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼
  • GB/T 15615-1995 실리콘 웨이퍼 굽힘 강도 시험 방법
  • GB/T 26067-2010 실리콘 웨이퍼 컷 사이즈 테스트 방법
  • GB/T 32279-2015 실리콘 웨이퍼 주문서 입력 사양
  • GB/T 6621-2009 실리콘 웨이퍼 표면 평탄도 테스트 방법
  • GB/T 29055-2019(英文版) 광전지 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼
  • GB/T 14140.2-1993 실리콘 웨이퍼 직경 측정 방식 마이크로미터 방식
  • GB/T 42789-2023 실리콘 웨이퍼 표면광택 시험방법
  • GB/T 14140.1-1993 실리콘 웨이퍼 직경 측정 방법 광학 투영 방법
  • GB/T 6620-1995 실리콘 웨이퍼 Warpage의 비접촉식 테스트 방법
  • GB/T 6620-2009 실리콘 웨이퍼 Warpage의 비접촉식 테스트 방법
  • GB/T 6617-1995 확장된 저항 프로브 방법을 이용한 실리콘 웨이퍼 저항률 측정
  • GB/T 6618-1995 실리콘 웨이퍼 두께 및 총 두께 변화 테스트 방법
  • GB/T 11073-2007 실리콘 웨이퍼의 방사상 저항률 변화 측정 방법
  • GB/T 6617-2009 확장된 저항 프로브 방법을 이용한 실리콘 웨이퍼 저항률 측정
  • GB/T 6618-2009 실리콘 웨이퍼 두께 및 총 두께 변화 테스트 방법
  • GB/T 43315-2023 실리콘 웨이퍼의 흐름 패턴 결함을 검출하기 위한 부식 방법
  • GB/T 32280-2015 실리콘 웨이퍼 Warpage 테스트를 위한 자동 비접촉 스캐닝 방법
  • GB/T 29505-2013 실리콘 웨이퍼의 평평한 표면의 표면 거칠기 측정 방법
  • GB/T 32814-2016 실리콘 기반 MEMS 제조 기술 SOI 실리콘 웨이퍼 기반 MEMS 공정 사양
  • GB/T 19922-2005 실리콘 웨이퍼의 국부 평탄도에 대한 비접촉 표준 테스트 방법
  • GB/T 13388-2009 실리콘 웨이퍼 기준면 결정학적 방향 X선 테스트 방법
  • GB/T 14143-1993 300-900μm 실리콘 웨이퍼 갭의 산소 함량에 대한 적외선 흡수 측정 방법
  • GB/T 13388-1992 실리콘 웨이퍼 기준면의 결정학적 방향에 대한 X선 측정 방법
  • GB/T 14139-1993 실리콘 에피택셜 웨이퍼
  • GB/T 14139-2009 실리콘 에피택셜 웨이퍼
  • GB/T 19444-2004 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 결정 - 격자간 산소 함량 감소 방법
  • GB/T 32281-2015 2차 이온 질량 분석법을 통한 태양광 등급 실리콘 웨이퍼 및 재료의 산소, 탄소, 붕소 및 인 측정
  • GB/T 6616-1995 반도체 실리콘 웨이퍼 저항률 및 실리콘 박막 시트 저항 측정을 위한 비접촉 와전류 방법
  • GB/T 30859-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 Warpage 및 Waviness 테스트 방법
  • GB/T 30869-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 두께 및 전체 두께 변화 시험 방법
  • GB/T 24577-2009 열탈착 가스 크로마토그래피를 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염물질 측정
  • GB/T 26068-2018 실리콘 웨이퍼 및 실리콘 잉곳의 캐리어 재결합 수명 테스트 비접촉 마이크로파 반사 광전도 감쇠 방법
  • GB/T 6616-2009 반도체 실리콘 웨이퍼 저항률 및 실리콘 박막 시트 저항 테스트 방법 비접촉 와전류 방법
  • GB/T 30860-2014 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 표면 거칠기 및 절단선 표시 시험방법
  • GB/T 24578-2015 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 오염에 대한 전반사 X선 형광 분광법 테스트 방법
  • GB/T 24578-2009 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 오염에 대한 전반사 X선 형광 분광법 테스트 방법
  • GB/T 26069-2010 실리콘 어닐링 웨이퍼 사양
  • GB/T 29507-2013 실리콘 웨이퍼 평탄도, 두께, 전체 두께 변화를 테스트하는 자동 비접촉 스캐닝 방법
  • GB/T 42907-2023 실리콘 잉곳, 실리콘 블록 및 실리콘 웨이퍼에서 비평형 캐리어의 재결합 수명을 테스트하기 위한 비접촉 와전류 유도 방법
  • GB/T 26068-2010 실리콘 웨이퍼 캐리어 재결합 수명에 대한 비접촉 마이크로파 반사 광전도 감쇠 테스트 방법
  • GB/T 28276-2012 실리콘 기반 MEMS 제조 기술 벌크 실리콘 웨이퍼 공정 사양

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 실리콘 웨이퍼

  • KS D 0261-2012 미러 실리콘 웨이퍼의 외관 검사
  • KS D 0261-2012(2022) 미러 실리콘 웨이퍼의 육안 검사
  • KS D 0262-2002(2022) 단면화 및 랩핑된 실리콘 웨이퍼의 육안 검사
  • KS D 0262-2002(2017) 단면화되고 겹쳐진 웨이퍼의 육안 검사
  • KS D 0259-2012(2017) 고르지 못한 두께의 두께 측정 또는 보우 실리콘 웨이퍼 방식
  • KS D 0259-2012(2022) 실리콘 웨이퍼 두께, 두께 변화 및 굽힘 측정 방법
  • KS C 0256-2002(2022) 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률에 대한 4점 프로브 테스트 방법
  • KS D 0260-1999 단결정 실리콘 웨이퍼의 저항률을 테스트하기 위한 4점 프로브 방법
  • KS C 0256-2002 4-프로브법을 이용한 실리콘 단결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 측정 방법
  • KS D 0259-2012 실리콘 웨이퍼의 두께, 두께 변화 및 곡률 측정 방법
  • KS D 0261-2012(2017) 거울을 이용한 실리콘 웨이퍼 검사
  • KS D 0260-1989(1994) 4점 프로브를 이용한 단결정 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
  • KS C IEC 62276:2019 표면 탄성파(Saw)를 위한 단결정 실리콘 웨이퍼 장치 응용 - 사양 및 측정 방법
  • KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 실리콘 웨이퍼

  • JIS H 0614:1996 미러 실리콘 웨이퍼의 육안 검사
  • JIS H 0611:1994 실리콘 웨이퍼의 두께, 두께 변화 및 굽힘 측정 방법
  • JIS H 0602:1995 4점 탐침법을 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률 테스트 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘 웨이퍼

  • GB/T 29055-2019 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼
  • GB/T 40279-2021 실리콘 웨이퍼 표면의 막 두께를 측정하는 광학 반사 방법
  • GB/T 14139-2019 실리콘 에피택셜 웨이퍼
  • GB/T 37051-2018 태양광 등급 다결정 실리콘 잉곳 및 웨이퍼의 결정 결함 밀도 측정 방법
  • GB/T 32280-2022 실리콘 웨이퍼 휨 및 곡률 테스트를 위한 자동 비접촉 스캐닝 방법
  • GB/T 39145-2020 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 원소 함량 측정
  • GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 실리콘 웨이퍼

American Society for Testing and Materials (ASTM), 실리콘 웨이퍼

  • ASTM F534-02 실리콘 웨이퍼 벤딩에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F534-97 실리콘 웨이퍼 곡률에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1152-93 실리콘 웨이퍼 홈 치수에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1152-93(2001) 실리콘 웨이퍼 홈 치수에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1618-96 실리콘 웨이퍼의 박막 균일성을 결정하기 위한 표준 실습
  • ASTM F1726-97 실리콘 웨이퍼의 결정학적 무결성 분석을 위한 표준 지침
  • ASTM F104-00 실리콘 웨이퍼의 얕은 에칭 피트 검사에 대한 표준 관행
  • ASTM F1049-00 실리콘 웨이퍼의 얕은 에칭 피트 검사에 대한 표준 관행
  • ASTM F533-96 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 변화에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F533-02 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 변화에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM F81-00 실리콘 웨이퍼의 방사상 저항률 변화 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F951-01 실리콘 웨이퍼의 방사상 격자간 산소 변화를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1727-97 연마된 실리콘 웨이퍼의 산화로 인한 결함 검출을 위한 표준 사례
  • ASTM F951-96 실리콘 웨이퍼의 방사형 갭 산소 변화를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1810-97 실리콘 웨이퍼 침식 또는 표면 결함의 우선 통계를 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F523-93(1997) 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사에 대한 표준 관행
  • ASTM F1239-94 격자간 산소 감소를 측정하여 실리콘 웨이퍼의 산소 침전을 특성화하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F847-94(1999) 단결정 실리콘 웨이퍼 기준면의 결정학적 방향에 대한 X선 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1527-00 실리콘 저항률 측정 장비의 교정 및 제어를 위한 실리콘 표준 물질 및 표준 실리콘 웨이퍼 사용에 대한 표준 가이드

工业和信息化部, 실리콘 웨이퍼

  • YS/T 26-2016 실리콘 웨이퍼 엣지 윤곽 검사 방법
  • HG/T 5962-2021 실리콘 웨이퍼 절단 폐액 처리 및 폐기 방법
  • SJ/T 11631-2016 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 외관 불량 시험방법
  • SJ/T 11630-2016 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 기하학적 치수 테스트 방법
  • SJ/T 11627-2016 태양전지용 실리콘 웨이퍼 저항률 온라인 테스트 방법
  • SJ/T 11632-2016 태양전지용 실리콘 웨이퍼의 미세균열 결함 검사방법
  • SJ/T 11629-2016 실리콘 웨이퍼 및 태양전지용 셀의 온라인 광발광 분석 방법
  • SJ/T 11628-2016 태양전지의 실리콘 웨이퍼 크기 및 전기적 특성 분석을 위한 온라인 테스트 방법

Association Francaise de Normalisation, 실리콘 웨이퍼

  • NF C57-203*NF EN 50513:2009 태양광 실리콘 웨이퍼 태양전지 생산용 결정질 실리콘에 대한 데이터 시트 및 제품 정보 결정질 실리콘 웨이퍼
  • NF EN 50513:2009 태양광 웨이퍼 - 태양전지 제조에 사용되는 결정질 실리콘 웨이퍼에 대한 데이터시트 및 제품 정보
  • NF C96-050-9*NF EN 62047-9:2012 반도체 장치 - 미세 전자기계 장치 - 파트 9: 미세 전자기계 시스템 실리콘 웨이퍼의 실리콘 결합 강도 테스트.
  • NF EN 62276:2018 표면탄성파(OAS) 장치를 사용하는 애플리케이션을 위한 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 및 측정 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 실리콘 웨이퍼

  • YB/T 4397-2014 실리콘 웨이퍼 절단용 전기도금된 황동 강선

Professional Standard - Building Materials, 실리콘 웨이퍼

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 실리콘 웨이퍼

  • GJB 1944-1994 우주태양전지 실리콘 웨이퍼 사양
  • GJB 2052-1994 적외선 전하 결합 소자용 실리콘 웨이퍼 사양

Defense Logistics Agency, 실리콘 웨이퍼

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 실리콘 웨이퍼

International Electrotechnical Commission (IEC), 실리콘 웨이퍼

  • IEC 62047-9:2011 반도체 장치 미세 전자기계 장치 9부: 미세 전자기계 시스템 실리콘 웨이퍼의 실리콘 웨이퍼 결합 강도 테스트
  • IEC 62047-9:2011/COR1:2012 반도체 장치 미세 전자기계 장치 9부: 미세 전자기계 시스템 실리콘 웨이퍼의 실리콘 웨이퍼 결합 강도 테스트
  • IEC 62276:2016 표면 탄성파(Saw)를 위한 단결정 실리콘 웨이퍼 장치 응용 - 사양 및 측정 방법

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼

  • DB61/T 512-2011 태양전지용 단결정 실리콘 웨이퍼 검사 규칙

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 실리콘 웨이퍼

  • EN 62047-9:2011 반도체 장치 미세 전자 기계 장치 9부: 미세 전자 기계 시스템(MEMS) 실리콘 웨이퍼의 실리콘 결합 강도 테스트

Professional Standard - Machinery, 실리콘 웨이퍼

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼

  • DB31/ 792-2014 실리콘 단결정 및 실리콘 웨이퍼의 단위제품당 에너지 소비 한도
  • DB31/T 792-2014 실리콘 단결정 및 실리콘 웨이퍼의 단위제품당 에너지 소비 한도
  • DB31/ 792-2020 실리콘 단결정 및 실리콘 웨이퍼의 단위제품당 에너지 소비 한도

Professional Standard - Electron, 실리콘 웨이퍼

  • SJ/T 31096-1994 정밀 실리콘 웨이퍼 그라인더 무결성 요구 사항 및 검사 및 평가 방법
  • SJ 20636-1997 IC용 대구경 박형 실리콘 웨이퍼의 산소 및 탄소 함량에 대한 미세 영역 테스트 방법
  • SJ 1549-1979 실리콘 에피택셜 웨이퍼(가칭)
  • SJ/T 10627-1995 격자간 산소 함량의 감소를 측정하여 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성을 특성화하는 방법
  • SJ 1550-1979 실리콘 에피택셜 웨이퍼 검사 방법
  • SJ/Z 1610-1980 실리콘 에피택셜 웨이퍼 결함 아틀라스

Professional Standard - Aviation, 실리콘 웨이퍼

机械电子工业部, 실리콘 웨이퍼

KR-KS, 실리콘 웨이퍼

  • KS C IEC 62276-2019 표면 탄성파(Saw)를 위한 단결정 실리콘 웨이퍼 장치 응용 - 사양 및 측정 방법

Professional Standard - Agriculture, 실리콘 웨이퍼

Aerospace Industries Association, 실리콘 웨이퍼

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., 실리콘 웨이퍼

  • NAS3450-1983 케이스 없는 장치(실리콘 모놀리식)(개정 2)

JP-JEITA, 실리콘 웨이퍼

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 실리콘 웨이퍼

  • JJG 405-1986 규소강판(스트립) 표준시료의 시험검증 절차

Professional Standard - Commodity Inspection, 실리콘 웨이퍼





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