31-030 标准查询与下载
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本标准适用于制造各类荧光粉用的硫化锌基质材料。
Zine sulfide for use in phosphors
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1991-04-08
- 实施
- 1991-07-01
本标准规定了用同轴线终端开路法测试各向同性的团体、液体电介质材料的微波复介电常数。 本标准涉及的复介电常数由相对介电常数实部，和介质损耗角正切tan所表示。
Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits--CT54LS00/CT74LS00 Quad 2-input positive-NAND gate
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1991-04-02
- 实施
- 1991-07-01
本标准规定了固体电介质微波复介电常数的"重入腔"测试方法。 本方法适用于射频、微波固体电介质复介电常数的测量。
Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits--CT54LS112/CT74LS112 dual J-K negative-edge flip-flop
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1991-04-02
- 实施
- 1991-07-01
本标准适用于电子级氩气中痕量氮的测定。当进样量为3m1时，其测定范围为2～60ppm。
Method for determination of trace Nitrogen in electronic grade Argon--Argon ionization gas chromatography method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准用于电子级氮和氩中痕量氧的测定方法。其测定范围为0.1～10PPm。
Method for determination of trace oxygen in electronic grade gases--Phosphor scintillating method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
General requirement for gas chromatography analysis method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于各种级别的高纯石英砂的分析。
Determination of Alumiuium in high purity arenacous quartz
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于电子级氩气中痕量氧的测定。当进样量为3m1时。其测定范围为0.2～10ppm。
Method for determination of trace oxygen in electronic grade Argon--Argon ionization gas chromatography method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于各种级别的高纯石英砂的分析。
Determination of Copper in high purity arenaceous quartz
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于各种级别的高纯石英砂的分析。
General rules for methods of analysis for high purity arenaceous quartz
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于制造电子管阳极的双面覆铝铁和一面覆铝，另一面覆镍的复合带。
Double side Aluminium-plated Iron strips and Nickel-Iron-Aluminium alloy strips
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于各种级别的高纯石英砂。
Determination of loss on ignition in high purity arenaceous quartz
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于电子级氩气中痕量氢与甲烷的测定。当进样量为3m1时。其测定范围氢为0.5～25ppm，甲烷为0.3～20ppm。
Method for determination of trace Methane and hydrogen in electronic grade Argon--Argon ionization gas chromatography method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-03-20
- 实施
- 1989-03-25
本标准适用于电子材料在真空环境中热脱附的放气量、放气速率及放气成份的动态分析。
Test method for dynamic relating to vacuum gas emission properties of electronic material
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-20
- 实施
- 1989-03-21
本标准适用于光谱化学分析的感光板和胶版的照相处理。
Treatment methods for sensitized plate and film photograph for chemical analysis using spectrum
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本标准适用于光谱分析中使用的各种石墨电极的形状和尺寸。
Shapes and dimensions of graphite electrode for emision spectrum
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
Definition of terms for soft soldering fluxes
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
Classification for soft soldering fluxes
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本方法适用于大量制造的棒块状、粉末状标准样品或样品的均匀性检验。检验采用发射光谱分析技术。 本方法是以数据统计理论为基础而制定的。
Methods for inspection of standard samples or sample uniformity
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
本标准适用于电真空器件用的金属及其合金、玻璃和陶瓷等材料发射光谱分析方法的一般通则。
General rules for emission spectrum analysis for vacuum materials
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 1989-02-10
- 实施
- 1989-03-01
