共找到 911 条与 频率控制和选择用压电器件与介质器件 相关的标准,共 61 页
GB/T 12859的本部分规定了电子设备中振荡电路用压电陶瓷谐振器的术语和试验方法、本部分给出了电子元器件质量评定体系及其鉴定批准的分规范和空白详细规范中使用的标准术语、检查程序和试验方法、
Piezoelectric ceramic resonators.A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ).Part 1:Generic specification.Qualification approval
GB/T12274 的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质共的石英总体振菏器的试验方法和通用性要求,本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质其的厂英晶体振沪器,
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality.Part 1:Generic specification
本标准规定了声表面波和声体波器件用压电单晶材料型号命名方法。 本标准适用于声表面波和声体波器件用压电单晶材料型号命名方法。 本标准不适用于人造石英晶体材料型号命名方法。 2 型号命名
Designations for piezoelectric crystals
本标准规定了频率控制和选择压电元件用人造石英晶体原晶和制材的术语和定义、技术要求、测量方法、检验规则及使用指南。 本标准适用于制造频率控制和选择压电元件用人造石英晶体。
Synthetic quartz crystal.Specifications and guide to the use
GB/T 12859的本部分规定了自总规范GB/T 12859.1-2012中选取的优先额定值和特性,以及适用的质量评定程序、适用的试验方法和测量方法、本部分适用于GB/T 12859电子设备的压电陶瓷谐振器,但不适用于无引线谐振器和多振子谐振器或带有其他电子元件的谐振器、
Piezoelectric ceramic resonators.A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ).Part 2:Sectional specification.Qualification approval
本空白详细规范是分规范的补充文件,规定了详细规范的格式、编排和最少内容的要求、不采用这些要求的详细规范可以认为是不符合相关规范规定的、制定详细规范时,应考虑分规范中2.3的内容、下列内容填入表中方括号内对应数字标注的位置处、
Piezoelectric ceramic resonators.A specification in the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ).Part 2-1:Blank detail specification.Assessment level E
优先额定值见GB/T 12273—1996的2.3。 ——工作温度范围; ——电路条件; ——最大激励电平; ——激励电平测量; ——气候类别; ——机械试验严酷度。 按本详细规范批准合格的元件制造厂的资料可从IECQC 001005得到。
Quartz crystal units.A specification in the quality assessment system for electronic components.Part 5.1:Blank detail specification.Qualification approval
GB/T 27700的本部分规定了用于能力批准程序或鉴定批准程序有质量评定的声表面波滤波器的试验方法和通用性能要求。
Surface acoustic wave(SAW) filters of assessed quality.Part 1:Generic specification
本部分规定的声表面波滤波器广泛应用于电视,卫星通讯,光纤通讯和移动通讯等领域。由于这些声表面波滤波器具有不同的性能指标。所以可将其划分成一些基本类别。 本部分包括各种声表面波滤波器结构,这些声表面波滤波器结构的工作频率范围大约为10 MHz~3 GHz不等,相对带宽为中心频率的0.02%~100%。 制定本部分的目的不是进行理论解释,同时,本部分也不能解决实际中可能发生的问题。本部分旨在就用户定购一种新用途声表面波滤波器之前应考虑的一些基本问题加以阐述,从而使用户获得性能符合要求的产品。 本部分给出的标准以及由生产商发布的详细规范,定义了标称频率、通带带宽、通带波动、矩形系数以及终端阻抗等指标。该部分列举了大量的具有典型性能的各种声表面波滤波器。但是不应该过分强调使用者在任何情况下都应选择标准中的声表面波滤波器,他可能为了使用标准中的声表面波滤波器只是导致电路的微小改变。这点特别针对声表面波滤波器标称频率的选择上。
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality.Part 2: Guidance on use
GB/T 22319 的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具,测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。 使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。 此外,本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和C片的校准。 本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C、动态电容C和动态电感L的测量夹具,其频率范围为1MHz~150MHz,采用基于IEC 60444-5-1995的自动网络分析仪。
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
GB/T 22318的本部分适用于声表面波(SAW)谐振器(以下简称SAW谐振器)的试验方法。 本部分的4~6章给出了SAW谐振器电性能的测试方法细则。 本部分的7~20章给出了声表面波谐振器使用一定周期后,保持其电性能能力的试验方法。 完成上诉规定的试验后,样品应能满足电性能要求。
Surface acoustic wave(SAW)resonators.Part1-2:Test conditions
GB/T 22318的本部分适用于振荡器用声表面波(SAW)谐振器(以下简称“谐振器”)。 GB/T 2421、GB/T 2423应与本部分一起使用。 本部分涵盖了多种类型的谐振器通用的检测与试验方法及一般原则。 详细规范应给出适用于每种类型谐振器的试验方法及特殊要求。 当本部分与详细规范发生冲突时,应优先采用详细规范。
Surface acoustic wave(SAW)resonators.Part1-1:General information and standard values
本标准规定了压电陶瓷在外电场作用下静态应变和动态应变的测试方法。 本标准适用于压电陶瓷场-应变曲线的测量,并可通过应变曲线来计算压电陶瓷元件单位电场下的形变量。
Test methods of the properties of the relation between strain and electric field for piezoelectric ceramic
本标准规定了压电铌酸锂单晶体声波衰减测试的术语、方法原理、试样制备、测试步骤和结果计算。 本标准适用于压电铌酸锂单晶材料,也适用于压电钽酸锂、钼酸铅和二氧化碲等单晶材料。
Test method for bulk acoustic wave attenuation of piezoelectric lithium niobate crystals
本规范规定了压电陶瓷换能元件(以下简称元件)的通用要求、试验方法和检验规则。 本规范适用于换能器用压电陶瓷换能元件。
Generic specification for piezoelectric ceramic transducing elements
本空白详细规范是对总规范的一种补充文件,并包含了详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,不认为是符合有关认证体系的规范,也不应该按这些格式来编排。在首页括号内数字标注位置上应填写下列相应内容。 详细规范的识别 (1)授权起草详细规范的组织:IEC或国家标准机构。 (2)IEC和(或)国家标准的详细规范编号,出版日期和国家体制需要的更多内容。 (3)IEC和(或)国家标准的总规范的编号和版本号。 (4)IEC和(或)国家标准的空白详细规范编号。 (5)晶体元件类型的简略说明。 (6)典型结构的简略说明(当适用时)。 (7)标有对互换性有重要影响的主要尺寸的外形图和(或)引用国家或国际的外形图方面的文件,另一种方法是这种图形也可在详细规范的附录中给出。 (8)用途或用途组别和(或)评定水平。 (9)最重要特性的参考数据,以供不同类型晶体元件之间能进行比较。
Quartz crystal units for use in electronic equipment.Bland detail specification for.Resistance welded quartz crystal units.Assessment level E
本标准适用于低于1MHz的低频压电陶瓷谐振器,该谐振器预定用于电子设备,但不适用于无引线的谐振器和由多片制成的或含有其他电子元器件的谐振器。
Piezoelectric ceramic resonators for use in electronic equipment--Sectional specification for piezoelectric ceramic resonators for low frequency
本标准适用于高于(含)1MHz的高频压电陶瓷谐振器,该谐振器预定用于电子设备,但不适用于无引线的谐振器和由多片制成的或含有其他电子元器件的谐振器。
Piezoelectric ceramic resonators for use in electronic equipment--Sectional specification for piezoeletric ceramic resonators for high frequency
空白详细规范是分规范的一种补充性文件,并包括详细规范的格式,编排及最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,不认为是符合有关规范的,也不应按这种格式来编排。 在制定详细规范时,应考虑GB/T12860中的1.4条的内容。 在首页括号内数字标注的位置上应填写下列相应内容。 详细规范的识别 (1)授权起草详细规范的组织:IEC或国家标准机构。 (2)IEC和(或)国家标准的详细规范编号,出版日期及国家体制需要的更多内容。 (3)IEC和(或)国家标准的总规范编号及其版本号。 (4)IEC和(或)国家标准的空白详细规范编号。 谐振器的识别 (5)谐振器类型的简述。 (6)典型结构简略说明(适用时)。 (7)标有对互换性有重要影响的主要尺寸的外形图和(或)引用国家或国际的外形方面的文件,另一种方法是这种图形也可在详细规范的附录中给出。 (8)用途或用途组别和(或)评定水平。 注:详细规范采用的一个或几个评定水平,应从GB/T12860中的3.5.4条中选取。这意味着只要试验组的编组不变, 几个评定水平就可以共用一个空白详细规范。 (9)最重要特性的参考数据。以供不同类型谐振器之间能进行比较。
Piezoelectric ceramic resonators for use in electronic equipment--Blank detail specification for piezoelectric ceramic resonators for low frequency--Assessment level E
本标准适用于电子设备用压电陶瓷谐振器。 本标准规定了有鉴定批准和质量评定体系的电子元器件分规范和详细规范中使用的标准术语、检验程序和试验方法。
Generic specification for piezoelectric ceramic resonators for use in electronic equipment
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