31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件 标准查询与下载
共找到 911 条与 频率控制和选择用压电器件与介质器件 相关的标准，共 61 页
本标准规定了铌酸锂、钽酸锂等3m点群压电晶体的弹性、压电、介电常数和机电耦合系数的测试，适用于铌酸锂、钽酸锂等3m点群压电晶体。
Test methods for electroelastic constants of piezoelectric crystals
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1990-12-28
- 实施
- 1991-10-01
本标准规定了声表面波、体波器件用压电晶体性能测试常用名词术语的定义及符号，适用于压电晶体性能测试。
Terms for the measurements of the properties of the piezoelectric crystals
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1990-12-28
- 实施
- 1991-10-01
本规范适用于作为独立部件出售的各种石英晶体振荡器（简称振荡器）。 本规范与产品空白详细规范和详细规范共同使用，当详细规范与总规范有差别时以详细规范为准。详细规范应满足IEC679-1有关条款对详细规范的要求。
Quartz crystal controlled oscillators--Generic specification for
- ICS
- 31.140
- CCS
- L21
- 发布
- 1990-03-15
- 实施
- 1990-10-01
本标准规定了石英晶体振荡器型号命名方法。供型号管理部门给产品型号用。
The rule of type designation for quarz crystal oscillators
- ICS
- 31.140
- CCS
- L21
- 发布
- 1990-03-15
- 实施
- 1990-10-01
Quartz crystal controlled oscillators Generic specificatoin for
- ICS
- 31.140
- CCS
- L21
- 发布
- 1990-02-09
- 实施
- 1990-10-01
本标准规定了压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法。 本标准适用于测量压电陶瓷材料在室温下的静态弯曲强度。
Testing methods for static flexural strength of piezoelectric ceramics
- ICS
- 31.140
- CCS
- L18
- 发布
- 1989-05-20
- 实施
- 1990-01-01
本标准适用于-65～十85℃温度范围内测试压电陶瓷材料的相对自由介电常数ε和ε的温度特性。*** **@@@@@1131100.TXT GB 11311-89 本标准适用于压电陶瓷材料泊松比σ的测试。
Test methods for the properties of piezoelectric ceramics--Test methods for temperature characteristics of relative free dielectric constants
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1989-03-31
- 实施
- 1990-01-01
本标准规定了压电陶瓷材料和压电晶体声表面波速度、声表面波机电耦合系数、声表面波速度温度系数和延迟时间的温度系数的测试方法，适用于压电陶瓷材料和压电晶体。
Test methods for SAW properties of piezoelectric ceramics and crystals
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1989-03-31
- 实施
- 1990-01-01
本标准规定用导纳圆图法测定低品质因数压电陶瓷振子的厚度振动模的机电耦合系数k和品质因数Q。 本标准适用于kQ不小于0.2的低品质因数压电陶瓷材料。
Test methods for the properties of piezoelectric ceramics material with the low mechanical quality factor
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1989-03-31
- 实施
- 1990-03-01
本标准适用于压电陶瓷材料泊松比a的测试。
Test methods for the properties of piezoelectric ceramics test for poisson's Ratio σ**E
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1989-03-31
- 实施
- 1990-01-01
本标准适用于压电陶瓷材料纵向压电应变常数ｄ的准静态测试。
Test methods for the properties of piezoelectric ceramics--Quasi-static test for piezoelectric strain constant d33
- ICS
- 31.140
- CCS
- L32
- 发布
- 1989-03-31
- 实施
- 1990-01-01
本标准适用于石英谐振器用晶体盒的型号命名。
The rule of type designation for crystal holders (enclosures)
- ICS
- 31.140
- CCS
- L21
- 发布
- 1986-05-27
- 实施
- 1987-05-01
本标准适用于各类石英谐振器的型号命名。
The rule of type designation for quartz crystal units
- ICS
- 31.140
- CCS
- L21
- 发布
- 1986-05-27
- 实施
- 1987-05-01
本文件规定了高频宽带单晶氮化铝滤波器生产工艺规范的术语与定义、基本要求、技术规范、制备工艺、成品检验、生产管理等。 本文件适用于高频宽带单晶氮化铝滤波器的生产。
High frequency broadband single crystal aluminum nitride filter production process specifications
- ICS
- 31.140
- CCS
- C397
- 发布
- 2023-11-21
- 实施
- 2023-12-06
Surface acoustic wave(SAW) and bulk acoustic wave(BAW) duplexers of assessed quality — Part 2: Guidelines for the use
- ICS
- 31.140
- CCS
- 发布
- 2023-11-14
- 实施
Surface acoustic wave(SAW) and bulk acoustic wave(BAW) duplexers of assessed quality ― Part 1: Generic specification
- ICS
- 31.140
- CCS
- 发布
- 2023-11-14
- 实施
本文件规定了无铅压电陶瓷雾化元件的技术要求与试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等基本规则。 本文件适用于铅含量小于等于0.1 wt%（质量分数）的无铅压电陶瓷雾化元件的设计、制造和验收。
Lead-free piezoelectric ceramic atomizer components
- ICS
- 31.140
- CCS
- C398
- 发布
- 2023-08-08
- 实施
- 2023-08-11
本文件规定了通讯产品用石英晶体谐振器（以下简称“谐振器”）的基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量承诺。 本文件适用于通讯产品的表面贴装热敏电阻式谐振器。
Quartz crystal resonators for communication products
- ICS
- 31.140
- CCS
- C3990
- 发布
- 2023-06-30
- 实施
- 2023-07-30
本文件规定了声表面波器件用钽酸锂（LT）和铌酸锂（LN）还原单晶晶片明度和色差的术语和定义、技术要求和测量方法。 本文件适用于声表面波器件用LT和LN单面抛光还原单晶晶片的设计、制造与验收。 本文件不适用于声表面波器件用LT和LN双面抛光还原单晶晶片。
Lithium tantalate and lithium niobate reduced single crystal wafers— technical requirements and measurement methods for lightness and color difference
- ICS
- 31.140
- CCS
- C398
- 发布
- 2023-06-13
- 实施
- 2023-06-20
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators — Part 3: Frequency aging test methods
- ICS
- 31.140
- CCS
- 发布
- 2023-05-16
- 实施
