77.040.01 金属材料试验综合 标准查询与下载

GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定

本标准规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料粘度的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料粘度的测定。非贵金属浆料 亦可参照使用。

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of viscosity

GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定

本标准规定了贵金属浆料附着力的测试方法。 本标准适用于贵金属导体浆料附着力的测定，非贵金属浆料亦可参照使用。

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion

GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。 本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测宝。非贵金属浆料亦可参照使用。

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance

GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。 本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆料的细度测定亦可参照使用。

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness

GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。 本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。

Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials

GB/T 16481-1996 稀土元素微波等离子体炬发射光谱(MPT-AES)标准谱表

本标准规定了稀土元素微波等离子体炬发射光谱（MPT-AES）的主要谱线及相应的摄谱条件。波长范围：240nm～450nm。 本标准适用于微波等离子体炬激发稀土元素光谱的测试分析及理论研究。

Standard spectrum tables of microwave plasma torch-atomic emitting spectrum of rare earth

GB/T 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法

本标准规定了硅单晶切割片、研磨片和抛光片（简称硅片）的抗弯强度测试方法。 本标准适用于晶向为和的直拉、悬浮区熔硅单晶片的常温下抗弯强度的测量。硅片厚度为250～900μm。

Test method for measuring flexture strength of silicon slices

GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法

本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。 本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为φ40～φ100mm。 本标准不适用于测量硅片的不圆度。 本标准用作仲裁测量方法。

Silicon slices and wafers--Measuring of diameter--Optical projecting method

GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法

本标准规定了用千分尺测量硅片直径的方法。 本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为φ25～φ100mm。 本标准不适用于测量硅片的不圆度。

Silicon slices and wafers--Measuring of diameter--Micrometer method

GB 8760-1988 砷化镓单晶位错密度的测量方法

Gallium arsenide single crystal－Determination of dislocation density

MZ/T 204-2023 地名标志耐候性能试验方法

Test method for weather resistance of place name signs

T/CASME 799-2023 CVD碳化硅涂层产品技术要求

本文件规定了CVD碳化硅涂层产品的术语和定义、一般规定、技术要求、试验方法、检验规则及标志、使用说明书、包装、运输和贮存内容。

CVD silicon carbide coating product technical requirements

T/CCTAS 54-2023 轨道交通车辆用铝合金材料晶间腐蚀测定方法

本文件规定了轨道交通车辆用6×××铝合金材料的晶间腐蚀测试方法，包括试剂、仪器设备、制样、晶间腐蚀试验、晶间腐蚀结果、腐蚀评级、试验报告等内容。 本文件适用于轨道交通车辆用6×××铝合金材料的晶间腐蚀测试和评级。

Determination method for intergranular corrosion of aluminum alloy materials used in rail transit vehicles

ASTM F3660-23 电动隔断标准消费者安全性能规范

Standard Consumer Safety Performance Specification for Motorized Partitions

T/CSTM 00831-2023 金属材料 十字形面内双轴疲劳试验方法

本文件规定了金属材料十字形面内双轴疲劳试验方法的术语和定义、符号和说明、试验原理、试验设备、试样、试验程序、试验结果表达及试验报告等。 本文件适用于金属材料在室温或高温下采用十字形试样在各加载轴施加幅值恒定的加载波形，以实现比例或非比例加载路径以及路径变换的双轴疲劳试验。

Metallic materials —Testing method for in-plane cruciform biaxial fatigue

T/CNIA 0175-2022 多晶硅生产固定污染源含氢排气中气态污染物采样方法

本文件规定了多晶硅生产中淋洗塔及其他固定污染源含氢排放口中气态污染物的采样方法。 本文件适用于多晶硅生产中淋洗塔及其他固定污染源含氢排放口中气态污染物的采样。

Sampling method for gaseous pollutants in hydrogen-containing exhaust gas from stationary pollution sources in polycrystalline silicon production

T/CNS 80-2022 核电厂不锈钢材料热老化试验方法

本文件描述了核电厂不锈钢材料的热老化试验的仪器和设备、加速热老化温度与时间、试样制备和要求、检测方法、试验结果表征及数据处理等内容。

Test method of thermal aging for stainless steel materials used in nuclear power plants

T/CNS 79-2022 压水堆用燃料包壳管高温高压水中切向微动磨损试验方法

本文件描述了压水堆用燃料包壳管在高温高压水中切向微动磨损试验系统和设备、试样制备和夹具加工、条件和步骤、结果分析和数据处理等内容。

Test method for tangential fretting wear of fuel cladding in high temperature pressurized water of pressurized water reactor

T/CNS 75-2022 高温高压水环境燃料包壳污垢沉积试验方法

本文件描述了高温高压水环境燃料包壳污垢沉积的总体要求、试验仪器和设备、试样制备、试验条件和步骤、试验结果分析及试验报告等内容。

Crud deposit test method for fuel cladding in high temperature pressurized water environment