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硅元素光谱
本专题涉及硅元素光谱的标准有17条。
国际标准分类中，硅元素光谱涉及到分析化学、半导体材料、非金属矿、金属矿、金属材料试验、珠宝、有色金属。
在中国标准分类中，硅元素光谱涉及到基础标准与通用方法、半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、石油地质勘探、建材原料矿、、工艺美术品、轻金属及其合金分析方法。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于硅元素光谱的标准
- GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
英国标准学会，关于硅元素光谱的标准
- BS ISO 14706:2000 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2014 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2001 表面化学分析 采用全反射X射线荧光（TXRF）光谱法对硅片表面元素污染物的测定
GSO，关于硅元素光谱的标准
- GSO ISO 14706:2013 表面化学分析 通过全反射 X 射线闪烁 (TXRF) 光谱对硅晶片上元素的表面污染进行定量
福建省地方标准，关于硅元素光谱的标准
- DB35/T 1146-2011 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
国家能源局，关于硅元素光谱的标准
- SY/T 7420-2018 X射线荧光光谱元素录井规范
国家质检总局，关于硅元素光谱的标准
- GB/T 14506.28-1993 硅酸盐岩石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定主、次元素量
- GB/T 28021-2011 饰品.有害元素的测定.光谱法
- GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分：元素含量的测定.X射线荧光光谱法
- GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
中国团体标准，关于硅元素光谱的标准
- T/SDAQI 036-2021 钛铁矿中硅、铝、铁、钛、钙、镁、钾、钠、锰、磷元素的测定 x射线荧光光谱法
行业标准-有色金属，关于硅元素光谱的标准
- YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于硅元素光谱的标准
- GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
行业标准-商品检验，关于硅元素光谱的标准
- SN/T 3916-2014 钼精矿中钼、铁、铅、铜、硅、钙元素的含量测定 波长色散X射线荧光光谱法
黑龙江省地方标准，关于硅元素光谱的标准
- DB23/T 1906-2017 石墨原矿及精矿中镁、铝、硅、钾、钙、铁元素含量的测定 X射线荧光光谱法
RO-ASRO，关于硅元素光谱的标准
- STAS 9163/16-1973 硅铝矿产品铁、钛、铜、镁、锰、铜元素的谱分析
