碳化硅中微量元素分析主要采用原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法。本文根据国家标准GB/T3045-2017中电感耦合等离子体质谱法测定的方法,经过检测条件的优化,建立了电感耦合等离子体光谱(ICP-OES)法测定碳化硅粉末中铁、镁、钛、铝、钙、钠含量的方法,可供相关人员参考。...
经过大量的研究,人们发现:材料所含离子的种类与含量等方面的差异对材料性能、生态环境以及健康的影响是十分巨大的。因此,离子色谱法作为一种重要的检测方法也被引入到材料的检测与分析中。本文为大家简单介绍离子色谱法在常见的几种材料检测中的应用案例。01氮化硅提取液中阴离子的测定氮化硅是一种重要的新型结构陶瓷材料。...
二氧化硅的测定方法有多种,下面逐一将不同方法作简单介绍。1 挥散法若某个试样中二氧化硅的含量在98%以上,应用氢氟酸挥发重量差减法(即挥散法)来测定SiO2含量。具体测定步骤如下:将铂坩埚中测定过烧失量的试样,用少量水润湿,加入4~5滴硫酸及5~7mL氢氟酸,放在电炉上低温加热,挥发至近干时,取下放冷,再加2~3滴硫酸及3~4mL氢氟酸,继续加热挥发至干,然后升高温度,至三氧化硫白烟完全逸尽。...
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