KS D 0259-2012(2022)
硅片厚度、厚度变化和弯曲的测量方法

Methods of measurement of thickness,thickness variation and bow for silicon wafer

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KS D 0259-2012(2022) 发布历史

KS D 0259-2012(2022)由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 2012-05-17。

KS D 0259-2012(2022)在国际标准分类中归属于: 77.120.99 其他有色金属及其合金。

KS D 0259-2012(2022)的历代版本如下：

0000年 KS D 0259-2012(2022)
0000年 KS D 0259-2012(2017)
2012年 KS D 0259-2012 硅片的厚度、厚度变化和弯曲度的测定方法
0000年 KS D 0259-2007

标准号: KS D 0259-2012(2022)
发布: 2012年
发布单位: 韩国科技标准局
当前最新: KS D 0259-2012(2022)

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