GB/T 4937.17-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation


GB/T 4937.17-2018 发布历史

GB/T 4937.17-2018由国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 发布于 2018-09-17 00:00:00.0,并于 2019-01-01 00:00:00.0 实施。

GB/T 4937.17-2018 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

GB/T 4937.17-2018的历代版本如下:

  • 2018年09月17日 GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 GB/T 4937.17-2018 前三页,或者稍后再访问。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 



标准号
GB/T 4937.17-2018
发布日期
2018年09月17日
实施日期
2019年01月01日
废止日期
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 4937.17-2018系列标准

GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法 GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动 GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾 GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性) GB/T 4937.15-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热 GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照 GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量) GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度 GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压 GB/T 4937.20-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响 GB/T 4937.201-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输 GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性 GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度 GB/T 4937.3-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外部目检 GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 GB/T 4937.4-2012v 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号