GB/T 6624-1995
硅抛光片表面质量目测检验方法
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
GBT6624-1995, GB6624-1995
2010-06
GB/T 6624-1995 发布历史
GB/T 6624-1995由国家质检总局 CN-GB 发布于 1995-04-18，并于 1995-12-01 实施，于 2010-06-01 废止。
GB/T 6624-1995 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法。
GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 6624-2009 。
GB/T 6624-1995的历代版本如下：
- 2009年 GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
- 1995年 GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法
本标准规定了在一定光照条件下，用目测检验硅单晶单面抛光片（以下简称抛光片）表面质量的方法。 本标准适用于硅抛光片表面质量检验。
- 标准号
- GB/T 6624-1995
- 别名
- GBT6624-1995
GB6624-1995 - 发布
- 1995年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 6624-2009
- 当前最新
- GB/T 6624-2009