DIN 50435:1988
半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
DIN 50435:1988 中，可能用到以下仪器
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