IEC 60749:1984
半导体器件.机械和气候试验方法

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods


 

 

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标准号
IEC 60749:1984
发布
1984年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749/AMD1:1991
当前最新
IEC 60749:2002
 
 

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