ASTM E1829-97由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1997。
ASTM E1829-97 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法。
1.1 本指南涵盖表面分析之前的样品处理和准备,并适用于以下表面分析学科:
1.1.1 俄歇电子能谱 (AES)、1.1.2 X 射线光电子能谱(XPS 或 ESCA)和 1.1.3 二次离子质谱法、SIMS.1.1.4 虽然主要针对 AES、XPS 和 SIMS,但这些方法也适用于许多表面敏感分析方法,例如离子散射光谱法、低能电子衍射和电子能量损失光谱法,样品处理可能影响表面敏感测量。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
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