ASTM E902-05
检查X射线光电子光谱仪的操作特性的标准实施规程

Standard Practice for Checking the Operating Characteristics of X-Ray Photoelectron Spectrometers

2011-11

ASTM E902-05 发布历史

ASTM E902-05由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2005,于 2011-11-07 废止。

ASTM E902-05 在中国标准分类中归属于: N34 光学计量仪器,在国际标准分类中归属于: 17.180.30 光学测量仪器,71.040.50 物理化学分析方法。

ASTM E902-05 检查X射线光电子光谱仪的操作特性的标准实施规程的最新版本是哪一版?

最新版本是 ASTM E902-05

ASTM E902-05 发布之时,引用了标准

  • ASTM E1078 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南
  • ASTM E2108 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
  • ASTM E673 与表面分析相关的标准术语
  • ASTM E996 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
  • ISO 21270 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • ISO 24237 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性

ASTM E902-05的历代版本如下:

  • 2005年 ASTM E902-05 检查X射线光电子光谱仪的操作特性的标准实施规程
  • 1999年 ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程

 

这种做法首先应用于确定特定 X 射线光电子能谱仪在已知能谱仪性能最佳时的操作特性。因此,第 5 节中的光谱仪设置和第 7 节中给出的预期性能数据仅作为指导,并由用户实际光谱仪的行为所取代。随后,这种做法应作为常规检查,以相同的仪器设置定期进行,并将结果与 4.1 中获得的结果进行比较。与最佳性能的显着偏差可能表明光谱仪需要重新校准或其他维护。此实践中应使用典型的分析设置。本实践中未指定的设置的使用由用户自行决定,但是,应根据实践 E 996 记录设置,并且每当重复此实践时应一致使用相同的设置,以便获得结果将直接与以前的结果进行比较。

1.1 本实践涵盖了检查 X 射线光电子能谱仪的一些操作特性的程序。本文的测试提供了强度测量的可重复性以及强度随时间的漂移的检查。此实践可以与使用实践 E 2108.1.2 限制的光谱仪能量校准同时进行。此实践旨在增强而不是取代光谱仪制造商推荐的校准程序。这种做法也无意用作 X 射线光电子能谱仪之间的比较手段,而仅作为对单个能谱仪的操作特性的自洽检查。

1.3 本标准并不旨在解决所有安全问题与其使用相关的担忧(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM E902-05

标准号
ASTM E902-05
发布
2005年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E902-05
 
 
引用标准
ASTM E1078 ASTM E2108 ASTM E673 ASTM E996 ISO 21270 ISO 24237

ASTM E902-05相似标准


推荐

X荧光光谱仪原理及应用

因此,欧盟针对塑料产品等标准以及对有毒有害元素含量有了更为严格限制。 我国每年有大量塑材出口,这一标准实施对我国原材料生产和出口有着极大影响。而XRF光谱仪技术则特别适合于用来监控相关材料中有毒有害元素含量,该技术已广泛应用于实际生产质控制。 ...

X荧光光谱仪应用及发展

X射线荧光光谱仪是由物质中组成元素产生特征辐射,通过侧里和分析样品产生x射线荧光,即可获知样品中元家组成,得到物质成分定性和定量信息。  特征x射线产生与特性当用高能电子束照射样品时,人射高能电子被样品中电子减速,这种带电拉子加速度会产生宽带连续X射线谱,简称为连续潜或韧致辐射。...

如何使用X荧光光谱仪

并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小特点。X荧光光谱仪优劣势分析X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发样品中每一种元素会放射出二次X射线,并且不同元素所放射出二次X射线具有特定能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来二次X射线能量及数量。...

表面成分分析和微区成分分析

特点:在靠近表面5-20埃范围内化学分析灵敏度高,很高空间分辨率,最小可达到6nm;能探测周期表上He以后所有元素及元素分布;通过成分变化测量超薄膜厚4.X射线光电子能谱(XPS)原理:激发源为X射线,用X射线作用于样品表面,产生光电子。通过分析光电子能量分布得到光电子能谱研究样品表面组成和结构。...


谁引用了ASTM E902-05 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号