降落值测定仪详细介绍:降落值测定仪它是测定谷物中淀粉酶活性的仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的*仪器。降落值测定仪是根据GB/T 10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产。 ...
仪器研制符合GB/T 10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定 Hagberg-Perten法》,因此其测定结果能够满足各类检测机构的需求。 ...
降落值测定仪(新国标)是公司吸收工艺和技术.根据符合新国家标准GB/T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》。仪器是按照伯格哈格--坦恩降落数值法对谷物中α—淀粉酶活性指标进行测定的。...
6、《小麦、黑麦及其面粉和杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten 法》 本标准规定了采用降落数值法对谷物中α-淀粉酶的活性进行测定的方法,规定了全杜伦麦粗粒粉和全麦粉的粒度,适用于谷物,特别适用于小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉,不适用于低α-淀粉酶活性的测定,不适用于海拔高度在 2500 米以上的地区。 ...
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