GB/T 1555-2009
半导体单晶晶向测定方法
Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
GBT1555-2009, GB1555-2009
GB/T 1555-2009 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GB/T 1555-2009
- 别名
- GBT1555-2009
GB1555-2009 - 发布
- 2009年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 1555-2009
- 引用标准
- GB/T 14264-2009 GB/T 2481.1-1998 GB/T 2481.2-2009
- 被代替标准
- GB/T 1555-1997
- 本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。