GB/T 4937.4-2012
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
Semiconductor devices.Mechanical and climatic test methods.Part 4:Damp heat,steady state,highly accelerated stress test(HAST)
GBT4937.4-2012, GB4937.4-2012
GB/T 4937.4-2012 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- GB/T 4937.4-2012
- 别名
- GBT4937.4-2012
GB4937.4-2012 - 发布
- 2012年
- 采用标准
- IEC 60749-4:2002 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 4937.4-2012
- GB/T4937 的本部分规定了强加速稳态湿热试验C(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。 2 强加速稳态湿热试验(HAST) ————般说明
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