LAYERTEC的标准检验流程包括基板的干涉测量和涂层光学元件在波长范围为120纳米到20微米的分光光度计测量。在波长范围λ=120纳米至20微米的标准分光光度计测量,使用紫外-可见-近红外分光光度计,真空紫外和傅里叶变换红外分光光度计。通过腔环衰减时间测量法,可以确定R、T=99.5%至99.9999%的高反射率和透射率。这种方法是一种高精度的绝对测量方法。...
VERTEX 80v采用真空光学台,可消除大气中的水蒸气、二氧化碳吸收干扰,从而实现极佳的灵敏度和稳定性,助力进行诸多高难度试验,如高分辨率、超快速扫描、步进扫描测量等。...
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。#21时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统)我司新推出的时域热反射测量系统可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。关于昊量光电:昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!...
由于这些缺陷的尺寸相对较小,当考虑薄膜的整体特性(如群延迟色散和反射率)时,光束的受影响部分变得无关紧要。虽然在大多数情况下可以忽略不计,但需要小光束尺寸或超低损耗的应用可能会因这些缺陷而增加通过系统的散射。为了满足更严格的规范,可以采取特殊措施来减少整体散射,例如从超级抛光基板开始。06Edmund Optics®的计量Edmund Optics采用严格的全球质量计划,以确保组件满足其特定要求。...
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