ASTM E2735-14
选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南

Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy 40;XPS41; Experiments


ASTM E2735-14 发布历史

ASTM E2735-14由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2014。

ASTM E2735-14 发布之时,引用了标准

  • ASTM E1078 表面分析中试样制备和安装程序的标准指南
  • ASTM E1127 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
  • ASTM E1217 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
  • ASTM E1523 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
  • ASTM E1577 用于表面分析的离子束参数报告的标准指南
  • ASTM E1634 溅射焰口深度测量标准导则
  • ASTM E1636 用扩展的逻辑函数描述深度剖面和行扫描剖面数据的标准实施规程
  • ASTM E1829 先于表面分析的样品处置标准指南
  • ASTM E2108 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
  • ASTM E995 螺旋电子光谱法中基本抽减技术
  • ASTM E996 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
  • ISO 10810 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
  • ISO 14606 表面化学分析.溅射深度轮廓.使用分层系统作为参考材料的优化
  • ISO 14701 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
  • ISO 14976 表面化学分析 数据传输格式 技术勘误表1
  • ISO 15470 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 15472 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • ISO 18115-1 表面化学分析词汇第1部分:通用术语和光谱学中使用的术语
  • ISO 18115-2 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
  • ISO 18116 表面化学分析.分析用试样的制备和装配指南
  • ISO 18117 表面化学分析.样品处理前分析
  • ISO 18118 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
  • ISO 18516 表面化学分析.纳米到微米范围内束基方法横向分辨率和锐度的测定
  • ISO 19318 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
  • ISO 20903 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
  • ISO 21270 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • ISO 24237 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
  • ISO/TR 15969 表面化学分析 - 深度分析 - 溅射深度的测量
  • ISO/TR 18392 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
  • ISO/TR 19319 表面化学分析.基于光束方法中横向分辨率和清晰度的测定基础方法

ASTM E2735-14的历代版本如下:

  • 2020年 ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
  • 2014年 ASTM E2735-14 选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南
  • 2013年 ASTM E2735-13 X射线光电子光谱法 (XPS) 试验所需校准选择的标准指南

 

1.1 本指南描述了一种方法,使用户和分析人员能够确定校准和标准,以通过 X 射线光电子能谱 (XPS) 获得有意义的表面化学数据,并针对特定分析目标和数据收集时间优化仪器。 1.2 本指南提供了有组织的信息集合或一系列选项,并不推荐具体的行动方案。本指南不能取代教育或经验,应与专业判断结合使用。本指南的所有方面并非都适用于所有情况。

1.3 以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。

1.4 本标准无意代表或取代必须用来判断特定专业服务是否充分的护理标准,也不应在不考虑项目许多独特方面的情况下应用本文件。 “标准”这个词本文件标题中的 仅表示该文件已通过 ASTM 共识流程获得批准。

1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。


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