TXRF是Thin Film X-ray Fluorescence(薄膜X射线荧光光谱法)的缩写,也可称为Total Reflection X-ray Fluorescence(全反射X射线荧光光谱法)。它是一种用于分析表面微区元素成分的分析技术,通常用于分析低浓度的元素。...
TXRF是Thin Film X-ray Fluorescence(薄膜X射线荧光光谱法)的缩写,也可称为Total Reflection X-ray Fluorescence(全反射X射线荧光光谱法)。它是一种用于分析表面微区元素成分的分析技术,通常用于分析低浓度的元素。...
目前我们为了能测a试出晶圆表面这些超微量的金属离子当前大家使用的比较常见的技术手段一般为:VPD(Vapor Phase decomposition)化学气相分解)配合以下元素分析设备中的一种来实现: 1.TXRF(total reflection X-ray luorescence全反射X射线荧光光谱仪) TXRF因为是X射线作为荧光的激发源,所以对于某些轻金属元素像Na、Mg、Al等超微量存在的离子无法检测出来...
同样ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光谱法在样品前处理过程中也常用大量化学试剂,造成环境污染。X射线荧光光谱法具有样品前处理简单、分析周期短、重现性好、可同时测定多元素、测试成本低等优点。由于XRF是表面分析技术,X射线的强度随着样品的粒度和样品不均匀而变化产生颗粒效应,地质化探样品成分复杂、组分含量低,样品很难磨碎到500目以下,在粉末压片XRF法中影响了测定的准确度和精密度。...
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