GB/T 14264-1993
半导体材料术语

Semiconductor materials-Terms and definitions

GBT14264-1993, GB14264-1993

2010-06

GB/T 14264-1993 中,可能用到以下仪器

 

材料/金相显微镜Leica DM2700M 徕卡 应用于电子/半导体

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圆派科学仪器(上海)有限公司

 

徕卡材料/金相显微镜DVM6 应用于电子/半导体

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Leica DM 4000M 材料/金相显微镜徕卡 应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜Leica DM2700M 徕卡 应用于电子/半导体

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徕卡材料/金相显微镜Leica DM 4000M  应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜徕卡Leica DM 4000M  应用于电子/半导体

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材料/金相显微镜徕卡Leica DM2700M  应用于电子/半导体

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徕卡DVM6材料/金相显微镜 应用于电子/半导体

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GB/T 14264-1993

标准号
GB/T 14264-1993
别名
GBT14264-1993
GB14264-1993
发布
1993年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 14264-2009
当前最新
GB/T 14264-2009
 
 
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料。

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