GB/T 14264-1993
半导体材料术语
Semiconductor materials-Terms and definitions
GBT14264-1993, GB14264-1993
2010-06
GB/T 14264-1993 发布历史
GB/T 14264-1993由国家质检总局 CN-GB 发布于 1993-03-12，并于 1993-12-01 实施，于 2010-06-01 废止。
GB/T 14264-1993 在中国标准分类中归属于: H80 半金属与半导体材料综合。
GB/T 14264-1993 半导体材料术语的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 14264-2009 。
GB/T 14264-1993的历代版本如下：
- 2009年 GB/T 14264-2009 半导体材料术语
- 1993年 GB/T 14264-1993 半导体材料术语
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。 本标准适用于元素和化合物半导体材料。
- 标准号
- GB/T 14264-1993
- 别名
- GBT14264-1993
GB14264-1993 - 发布
- 1993年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 14264-2009
- 当前最新
- GB/T 14264-2009
GB/T 14264-1993相似标准
GB/T 14264-1993 中可能用到的仪器设备
谁引用了GB/T 14264-1993 更多引用
GB/T 12963-2022 电子级多晶硅
GB/T 31092-2022 蓝宝石单晶晶棒
GB/T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素（镁、镓）含量及分布的测定 二次离子质谱法
GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
GB 29447-2022 多晶硅和锗单位产品能源消耗限额
GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
GB/T 41652-2022 刻蚀机用硅电极及硅环