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色差 光学 系统

本专题涉及色差 光学 系统的标准有500条。

国际标准分类中，色差 光学 系统涉及到光学设备、技术制图、光学和光学测量、印制技术、光电子学、激光设备、长度和角度测量、辐射测量、(没有标题)、光纤通信、质量、太阳能工程、词汇、玻璃、遥控、遥测、电信系统、医疗设备、管道部件和管道、颜色编码、化工生产、电灯及有关装置、字符集和信息编码、建筑物中的设施、数据存储设备、粒度分析、筛分、音频、视频和视听工程。

在中国标准分类中，色差 光学 系统涉及到光学仪器综合、光电子器件综合、光学测试仪器、放大镜与显微镜、光学设备、颜色、电光源产品、辐射防护监测与评价、、建筑构造与装饰工程、光通信设备、电离辐射计量、激光器件、仪器、仪表用材料和元件、管路附件、望远镜、大地测量与航测仪器、物理学与力学、电气照明综合、纸浆与纸板、基础标准与通用方法、标准化、质量管理、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、太阳能、数据媒体、其他日用品、导航通讯系统与设备、核仪器与核探测器综合、录制设备。

英国标准学会，关于色差 光学 系统的标准

• BS ISO 15795:2002 光学和光学仪器.光学系统质量评估.评定色差引起的图像质量下降
• BS ISO 10110-7:2008 光学和光子学.光学元件和系统制图.表面缺陷公差
• BS ISO 10110-6:2015 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 定心公差
• BS ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.表面形状公差
• BS ISO 10110-11:2016 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 非容差数据
• BS ISO 10110-11:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.非公差数据
• BS ISO 10110-14:2018 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 波前变形容差
• BS ISO 10110-5:2015 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面形状公差
• BS ISO 10110-6:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第6部分:定心公差
• BS ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定
• BS ISO 14999-4:2015 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 ISO 10110 中规定的公差的解释和评估
• BS EN ISO 14880-2:2007 光学和光子学.显微物镜系列.波像差的试验办法
• BS ISO 14490-10:2021 光学和光子学 伸缩系统的试验方法 轴向着色性能试验方法
• BS EN ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微镜系列.不同于波前像差的光学特征试验办法
• BS ISO 9039:2007 光学和光子学.光学系统的质量评估.畸变测定
• BS ISO 10110-1:2006 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.总则
• BS ISO 9039:2008 光学和光子学 光学系统的质量评估 畸变测定
• PD ISO/TR 21477:2017 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面缺陷规格和测量系统
• PD ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 术语、定义和基本关系
• BS ISO 10110-1:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 概述
• PD ISO/TR 16743:2013 光学和光子学 用于表征光学系统和光学元件的波前传感器
• BS ISO 10110-12:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 非球面
• BS ISO 15559:1998 辐射色谱光学波导辐射剂量测定系统的实施规程
• BS ISO 15559:1999 辐射色谱光学波导辐射剂量测定系统的实施规程
• BS ISO 10110-12:2008 光学和光子学 光学元件和系统用图纸的编制 非球面
• BS ISO 10110-12:2007+A1:2013 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 非球面
• BS ISO 10110-8:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面纹理
• BS ISO 10110-16:2023 光学和光子学。准备光学元件和系统的图纸。衍射表面
• BS ISO 10110-7:2017 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面瑕疵
• PD ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 测量和评估技术
• BS ISO 10110-17:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.激光辐射损害阈
• BS ISO 10110-8:1998 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.表面纹理
• BS ISO 10110-8:2010 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.表面纹理
• PD IEC TS 62989:2018 用于聚光光伏系统的初级光学器件
• PD IEC TS 62977-3-1:2019 电子显示器 光学性能评估 基于色差的观察方向依赖性
• 20/30388069 DC BS ISO 14490-10 光学和光子学 伸缩系统的测试方法 第10部分 轴向颜色性能测试方法
• BS ISO 14490-2:2005 光学和光学仪器 望远镜系统的测试方法 双目系统的测试方法
• BS ISO 14132-3:2014 光学和光子学. 望远系统词汇. 瞄准镜的术语
• BS ISO 14132-3:2021 光学和光子学 望远系统词汇 瞄准镜的术语
• BS ISO 10110-13:1998 光学和光学仪器 光学元件和系统图纸的编制 激光辐照损伤阈值
• BS ISO 10110-9:2016 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面处理及涂层
• BS 7012-12:1997 光学显微镜 偏光显微镜参考系统
• PD IEC TR 61282-7:2003 光纤通信系统设计指南 色散统计计算
• BS ISO 20711:2017 光学和光子学.环境要求.望远镜系统的试验要求
• BS ISO 14490-2:2006 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.双筒望远镜系统的试验方法
• BS ISO 9358:1995 光学和光学仪器.图像成形系统遮盖眩光.定义和测量方法
• BS ISO 10109-4:2001 光学和光学仪器.环境要求.望远镜系统的试验要求
• BS ISO 14490-8:2011 光学和光学仪器.系统试验方法.夜视装备试验方法
• PD ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 干涉测试设备和测量的校准和验证
• BS ISO 10110-10:2005 光学 光学元件和系统的制图准备 光学元件和接合组件的数据描述表
• BS ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统
• BS ISO 10110-10:2004 光学.光学元件和系统的制图准备.光学元件和接合组件的数据描述表
• BS ISO 10110-19:2015 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 表面和部件的通用描述
• 18/30332797 DC BS ISO 10110-12 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 第12部分. 非球面
• BS ISO 9358:1994 光学和光学仪器 成像系统的遮盖釉 定义和测量方法
• BS ISO 14490-9:2019 光学和光子学 望远镜系统的测试方法 场曲测试方法
• 16/30324510 DC BS ISO 20711 光学和光子学 环境要求 伸缩系统的测试要求
• BS ISO 14490-5:2021 光学和光子学 伸缩系统的测试方法 透过率测试方法
• BS ISO 10110-9:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第9部分:表面处理和涂层
• 22/30430316 DC BS ISO 10110-16 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第 16 部分：衍射表面
• BS EN 61280-2-2:2012 纤维光学通信子系统试验规程.数字系统.光眼图、波形和消光比的测量
• BS ISO 14490-1:2005 光学和光学仪器 伸缩系统试验方法 基本特性试验方法
• BS ISO 14490-6:2005 光学和光学仪器.望远镜系统测试方法.纱幕眩光指数的测试方法
• BS ISO 14490-6:2014 光学和光子学. 望远镜系统的试验方法. 纱幕眩光指数的试验方法
• BS ISO 10110-2:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第2部分:材料缺陷.应力双折射
• BS ISO 10110-3:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第3部分:材料缺陷.气泡和杂质
• BS ISO 15529:2010 光学和光学仪器.光学传递函数.样品成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
• BS EN ISO 8624:2011 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语
• BS ISO 13099-2:2012 胶体系统.电动电势测定法.光学法
• BS EN ISO 8624:2020 眼科光学 眼镜架 测量系统和词汇

德国标准化学会，关于色差 光学 系统的标准

• DIN ISO 15795:2008-04 光学和光子学 光学系统的质量评估 评估色差引起的图像质量下降
• DIN ISO 15795:2008 光学和光子学.光学系统的质量评定.色差引起的图象质量下降的评定
• DIN ISO 15795:2006 光学和光学仪器.光学系统质量评估.彩色相差引起的图像质量下降的评定(ISO 15795-2002)
• DIN ISO 10110-6:2016 光学和光子学.光学元件和系统图形的制备.第6部分:中心公差
• DIN ISO 10110-6:2016-06 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第6部分：中心公差
• DIN 58172-1:2007 光学系统测试.第1部分:对称性偏差
• DIN 58172-1:2007-07 光学系统测试 第1部分：对称性偏差
• DIN ISO 10110-6:2000 光学和光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第6部分:中心公差
• DIN ISO 10110-11:2000 光学和光学仪器.光学元件和系统的图样制备.第11部分:非公差数据
• DIN ISO 10110-14:2019-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第14部分：波前变形公差
• DIN ISO 10110-5:2016-04 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第5部分：表面形状公差
• DIN ISO 10110-11:2016 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据(ISO 10110-11-2016)
• DIN ISO 10110-5 Bb.1:2003 光学及光学仪器.光学元件和系统图样绘制.第5部分:表面形状公差.用检验镜检验表面形状公差
• DIN ISO 10110-5:2016 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第5部分:表面形状公差(ISO 10110-5-2015)
• DIN ISO 10110-14:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第14部分：波前变形公差（ISO 10110-14:2018）
• DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 光学和光子学-光学元件和光学系统的干涉测量-第4部分：ISO 10110中规定的公差的解释和评估
• DIN 58170-54:1980 光学系统的尺寸和公差说明.第54部分:不洁度
• DIN ISO 14999-4:2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)
• DIN ISO 14999-4:2016-04 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分：ISO 10110(ISO 14999-4:2015)中规定的公差的解释和评估
• DIN ISO 10110-5:2008 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第5部分:表面形状公差(ISO 10110-5-2007).英文版本DIN ISO 10110-5-2008
• DIN ISO/TR 21477:2018-08*DIN SPEC 13477:2018-08 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面缺陷规格和测量系统
• DIN ISO 9039:2008-08 光学和光子学 光学系统的质量评估 畸变的测定
• DIN ISO 10110-7:2009 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第7部分:表面缺陷公差(ISO 10110-7:2008),DIN ISO 10110-7:2009-06的英文版本
• DIN ISO 10110-14:2008 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第14部分:波阵面变形公差(ISO 10110-14-2007).英文版本DIN ISO 10110-14-2008
• DIN ISO 14999-4:2008 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2007).英文版本DIN ISO 14999-4-2008
• DIN ISO 8576:2002-06 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜参考系统
• DIN ISO 14490 Beiblatt 1:2016-06 光学和光学仪器 望远镜系统的测试方法
• DIN ISO 10110-1:2020-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分：概述
• DIN ISO 10110-1:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图的准备.第1部分:总则
• DIN ISO 9358:2021-08 光学和光学仪器 成像系统的杂光 定义和测量方法
• DIN EN ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法(ISO 14880-3-2006)
• DIN ISO 10110-12:2021-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分：非球面
• DIN 58186:1982 光学系统的质量评定.眩光的测定
• DIN ISO 10110-17:2004 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第17部分:激光辐照损伤阈
• DIN ISO 20711:2018-01 光学和光子学 环境要求 伸缩系统的测试要求
• DIN ISO 8576:2002 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜基准系统 (ISO 8576:1996)
• DIN ISO 10110-12:2009 光学和光子学.光学元件和系统制图的制备.第12部分:非球面表面
• DIN ISO 10110-17:2004-12 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第17部分：激光辐照损伤阈值
• DIN ISO 10110-10:2004 光学和光子学.光学元件和系统图形制备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
• DIN ISO 10110-1:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分：总则（ISO 10110-1:2019）
• DIN ISO 10110-12:2021 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分：非球面（ISO 10110-12:2019）
• DIN ISO 20711:2018 光学和光子学 环境要求 伸缩系统的测试要求（ISO 20711:2017）
• DIN ISO 10110-7:2018 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第7部分:表面缺陷(ISO 10110-7-2017)
• DIN ISO 10110-8:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第8部分：表面纹理（ISO 10110-8:2019）
• DIN ISO 10110-9:2000 光学和光学仪器.光学元件和系统的图形制备.第9部分:表面处理和覆层
• DIN ISO 10109-7:2002 光学和光学仪器.环境要求.第7部分:光学测量系统的试验要求 (ISO 10109-7:2001)
• DIN ISO 15529:2010-11 光学和光子学 光学传递函数 采样成像系统的调制传递函数(MTF)测量原理
• DIN EN 61280-2-9:2009 光学纤维通讯子系统测试程序.第2-9部分:数字系统.密集波分复用系统光学纤维信噪比率的测量
• DIN EN 60856/A2:1998-08 预录光学反射视盘系统“激光视觉”50 Hz/625 线
• DIN ISO 10110-2:2000 光学和光学仪器.光学元件和系统的图形制备.第2部分:材料缺陷.应力双折射
• DIN ISO 10110-9:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层(ISO 10110-9-2016)
• DIN ISO 10110-3:2000 光学和光学仪器.光学元件和系统的图形制备.第3部分:材料缺陷.气泡和杂质
• DIN ISO 9345-2:2005 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:完全修正光学系统
• DIN ISO 10110-19:2016-04 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第19部分：表面和组件的一般描述
• DIN ISO 14132-4:2016-07 光学和光子学 望远镜系统词汇 第4部分：天文望远镜术语
• DIN ISO 9358:2021 光学和光学仪器 图像形成系统的遮蔽眩光 定义和测量方法（ISO 9358:1994）
• DIN ISO 14490-5:2007 光学和光学仪器.望远系统的试验方法.第5部分:透光率用试验方法
• DIN ISO 9358:2020 光学和光学仪器 图像形成系统的遮蔽眩光 定义和测量方法（ISO 9358:1994）
• DIN EN ISO 8624:2020-11 眼科光学 眼镜架 测量系统和词汇
• DIN ISO 15529:2010 光学和光子学.光学传递函数.采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理(ISO 15529-2010)
• DIN ISO 14490-2:2006 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第2部分:双目镜系统的试验方法(ISO 14490-2:2005)
• DIN EN 60856:1994 "激光视盘”50Hz/625行预录光学反射视盘系统.PAL制

法国标准化协会，关于色差 光学 系统的标准

• NF ISO 15795:2002 光学和光子学。光学系统的质量评估。色差引起的图像质量下降的估计
• NF S10-008-5:2008 光学和光子学.光学元件和系统制图.第5部分:表面形状公差
• NF S10-008-5*NF ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图.第5部分:表面形状公差
• NF ISO 10110-6:2015 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸指南 - 第 6 部分：对中公差
• NF S10-008-6*NF ISO 10110-6:2015 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第6部分:定心公差
• NF S10-008-11*NF ISO 10110-11:2016 光学和光子学 光学元件和系统用图纸制备 第11部分：非公差数据
• NF S10-008-6:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第6部分:定心公差
• NF ISO 10110-5:2015 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸指南 - 第 5 部分：表面形状公差
• NF S10-051*NF ISO 15795:2002 光学和光学仪器 光学系统的质量评价 由于色彩退色成像质量降级评估
• NF S10-008-11:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据
• NF S10-008-14*NF ISO 10110-14:2018 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第14部分：波前变形公差
• NF ISO 10110-14:2018 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸的准备 - 第 14 部分：波前畸变容差
• NF S10-008-14:2007 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
• NF S10-008-5:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第5部分:表面形状公差
• NF S10-008-7:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第7部分:表面缺陷公差
• NF S10-009-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
• NF S10-009-4*NF ISO 14999-4:2015 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分：ISO 10110 中规定的公差的解释和评估
• NF ISO 14999-4:2015 光学和光子学 - 光学元件和系统的干涉测量 - 第 4 部分：ISO 10110 中规定的公差评估指南
• NF S10-042:1998 光学和光学仪器.光学系统的质量评估.失真测定
• NF ISO 9039:2009 光学和光子学。光学系统质量的评估。畸变的测定
• NF ISO 10110-1:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸指南 第1部分：概述
• NF ISO 10110-8:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸指南 第8部分：表面光洁度
• NF S10-008-1:2006 光学和光子学.光学元件和系统用制图准备.第1部分:总则
• NF S10-008-1*NF ISO 10110-1:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分：总则
• NF S10-008-1:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第1部分:总则
• NF ISO 10110-12:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分：非球面
• NF ISO 10110-7:2017 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸指南 - 第 7 部分：表面缺陷
• NF S10-008-17*NF ISO 10110-17:2005 光学和光子学 光学元件和系统制图准备 第17部分：激光辐照损伤阈
• NF S10-008-7*NF ISO 10110-7:2017 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第7部分：表面缺陷
• NF S10-008-8*NF ISO 10110-8:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第8部分：表面纹理
• NF S10-043*NF ISO 9358:1998 光学和光学仪器 成像系统的黑化闪光 定义和测量方法
• NF X08-105:1986 颜色.化学工厂.管道系统的标记
• NF S10-008-12:2007 光学和光子学.光学元件和系统用制图准备.第12部分:非球面表面
• NF S10-008-8:1998 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第8部分:表面结构
• NF ISO 10110-17:2005 光学和光子学.光学元件和系统图纸的准备.第17部分：激光辐射损伤阈值
• NF S10-008-10:2005 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
• NF S10-008-12/A1:2013 光学和光子学.光学元件和系统制图.第12部分:非球面表面.修改件1
• NF ISO 10110-11:2016 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸指南 - 第 11 部分：不可容忍的数据
• NF ISO 10110-9:2016 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸指南 - 第 9 部分：表面处理和涂层
• NF C43-890*NF EN 62471:2008 灯和灯系统的光生物学安全
• NF S10-008-9*NF ISO 10110-9:2016 光学和光子学 光学元件和系统用图纸制备 第9部分：表面处理和涂层
• NF S10-008-12:1998 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第12部分:非球面形表面
• FD ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 - 光学元件和系统的干涉测量 - 第 2 部分：测量和评估技术
• NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 光学 显微物镜系列 第2部分：波前像差的试验办法
• NF S10-008-9:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第9部分:表面处理和涂层
• NF ISO 9358:1998 光学和光学仪器。来自成像系统的漫射杂散光。定义和测量方法。
• NF S10-050*NF ISO 15529:2011 光学和光子学 光学转移函数 取样成像系统的调制传递函数（MIF）的测量原理
• NF ISO 10110-19:2015 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸指南 - 第 19 部分：表面和组件的一般描述
• NF ISO 15529:2011 光学和光子学 - 光学传递函数 - 测量采样成像系统的调制传递函数 (MTF) 的原理
• NF S10-008-3:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第2部分:材料缺陷.气泡和夹渣
• NF S11-520*NF EN ISO 8624:2020 眼科光学 眼镜架 测量系统和词汇
• NF EN ISO 8624:2020 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语
• NF S10-008-19*NF ISO 10110-19:2015 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 第19部分: 表面和部件的通用描述
• NF S10-008-2:1996 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第2部分:材料缺陷.应力双折射率
• NF EN 60856/A2:1997 预录反射光学视盘系统 - “激光视觉”50 Hz/625 线 - PAL。
• NF EN 60856:1993 预录反射光学视盘系统 - “激光视觉”50 Hz/625 线 - PAL。
• NF EN 60856/A1:1993 预录反射光学视盘系统 - “激光视觉”50 Hz/625 线 - PAL。
• NF C93-807-2-2:2008 纤维光学通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光眼图形、波形和消光系数测量

韩国科技标准局，关于色差 光学 系统的标准

• KS B ISO 15795:2011 光学和光子学.光学系统质量评定.彩色相差引起的图像质量下降的评定
• KS B ISO 15795-2011(2016) 光学和光子学 光学系统的质量评估 评估由于色差造成的图像质量下降
• KS B ISO 15795-2011(2021) 光学和光子学.光学系统的质量评定.由色差引起的图像质量退化的评定
• KS B ISO 10110-6:2007 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第6部分:中心公差
• KS B ISO 10110-11:2013 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第11部分:无公差数据
• KS B ISO 10110-11:2008 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第11部分:无公差数据
• KS B ISO 10110-6:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第6部分:定心公差
• KS B ISO 10110-6-2017(2022) 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的编制.第6部分:定心公差
• KS B ISO 10110-5:2013 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
• KS B ISO 10110-5:2008 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
• KS B ISO 10110-14-2010(2020) 光学和光子学光学元件和系统图纸的制备第14部分:波前变形公差
• KS B ISO 10110-5:2018 光学和光子学 - 光学元件和系统的图纸准备 - 第5部分:表面形状公差
• KS B ISO 10110-14:2010 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第14部分:波阵面变形公差
• KS B ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差
• KS B ISO 10110-7-2017(2022) 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差
• KS B ISO 10110-11:2018 光学和光子学 - 准备光学元件0716和0716系统的图纸 -0716 第071611部分:非公0716差数据
• KS B ISO 14999-4-2016(2021) 光学和光子学——光学元件和光学系统的干涉测量——第4部分:KS B ISO 10110规定公差的解释和评估
• KS B ISO 14999-4:2011 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定
• KS B ISO 14999-4:2016 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉仪测量 第4部分：KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定
• KS B ISO 21094:2011 光学和光子学.光子学系统.夜视装置的规范
• KS B ISO 9039:2013 光学及光学仪器.光学系统的质量评定.挠曲测定
• KS B ISO 9039:2003 光学及光学仪器.光学系统的质量评定.挠曲测定
• KS B ISO 9039:2018 光学和光子学 - 光学系统的质量评估 - 失真的确定
• KS B ISO 14880-2:2013 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
• KS B ISO 14880-2:2008 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
• KS B ISO TR 14999-1-2011(2021) 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第1部分:术语、定义和基本关系
• KS B ISO TR 14999-1-2011(2016) 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第1部分:术语、定义和基本关系
• KS B ISO 21094-2011(2021) 光学和光子学望远镜系统夜视装置规范
• KS B ISO 21094-2011(2016) 光学和光子学望远镜系统夜视装置规范
• KS B ISO 10110-1:2017 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
• KS B ISO 8576:2006 光学和光学仪器.显微镜.偏光显微镜的参考系统
• KS B ISO 10110-1:2007 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第1部分:总则
• KS B ISO 10110-1-2017(2022) 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.第1部分:总则
• KS B ISO 9358-2006(2016) 光学和光学仪器 - 成像系统的眩光眩光定义和测量方法
• KS B ISO 9358:2006 光学和光学仪器.成像系统杂散光.定义及测量方法
• KS B ISO 8576-2006(2021) 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统
• KS B ISO 10110-12:2018 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
• KS B ISO TR 14999-2-2011(2021) 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第2部分:测量和评估技术
• KS B ISO TR 14999-2-2011(2016) 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第2部分:测量和评价技术
• KS B ISO 10109-4:2006 光学和光学仪器.环境要求.第4部分:远焦系统
• KS B ISO 9358-2006(2021) 光学和光学仪器成像系统的遮蔽眩光定义和测量方法
• KS B ISO 10110-12:2008 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第12部分:非球面表面
• KS B ISO 10110-12:2013 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第12部分:非球面表面
• KS B ISO 10110-8:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第8部分:表面结构
• KS B ISO 10110-8-2017(2022) 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第8部分:表面结构
• KS B ISO 10110-17:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第17部分:激光辐射损伤阈值
• KS B ISO 10110-17-2006(2016) 光学和光子学 - 准备光学元件和系统的图纸 - 第17部分:激光照射损伤阈值
• KS B ISO 10110-17-2006(2021) 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.第17部分:激光辐照损伤阈值
• KS B ISO 10110-10:2008 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
• KS B ISO 10110-10:2013 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
• KS B ISO 10110-9:2007 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层
• KS B ISO 14132-3:2019 光学与光子学 - 伸缩系统词汇 - 第3部分:伸缩瞄准术语
• KS B ISO 10110-9-2017(2022) 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第9部分:表面处理和涂层
• KS B ISO 10110-9:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第9部分:表面处理和涂层
• KS B ISO 15529-2011(2021) 光学和光子学.光学传递函数.取样成像系统调制传递函数（MTF）的测量原理
• KS B ISO 15529:2011 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
• KS B ISO 15529-2011(2016) 光学和光子学 - 光学传递函数 - 采样成像系统的调制传递函数（MTF）的测量原理
• KS B ISO 9345-2:2006 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限光学校正系统
• KS B ISO 10110-2-2017(2022) 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第2部分:材料缺陷.应力双折射
• KS B ISO 10110-2:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第2部分:材料缺陷应力双折射
• KS B ISO 9345-2:2016 光学和光学仪器 显微镜 相对机械参考面的象距 第2部分：无限光学校正系统
• KS B ISO 10109-4-2006(2021) 光学和光学仪器.环境要求.第4部分:伸缩系统的试验要求
• KS B ISO 14132-4:2019 光学和光子学.望远镜系统词汇.第4部分:天文望远镜术语
• KS G ISO 8624:2011 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语
• KS G ISO 8624-2011(2021) 眼科光学眼镜架测量系统和术语
• KS G ISO 8624-2011(2016) 眼科光学眼镜架测量系统和术语
• KS B ISO 10110-10:2018 光学和光子学 - 光学元件和系统的图纸准备 - 第10部分:表示4568光学4568元件和水泥组件的数据4568的表
• KS B ISO 10110-2:2007 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第2部分:材料不完全性.应力双折射
• KS B ISO 10110-3:2007 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第3部分:材料不完全性.气泡和杂质
• KS B ISO 10110-3-2017(2022) 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第3部分:材料缺陷.气泡和夹杂物
• KS B ISO 10110-3:2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第3部分:材料缺陷气泡和夹杂物
• KS C IEC 61280-2-2:2022 光纤通信子系统试验程序.第2-2部分:数字系统.光学眼图、波形和消光比测量

国际标准化组织，关于色差 光学 系统的标准

• ISO 15795:2002 光学和光子学.光学系统质量评定.彩色相差引起的图象质量下降的评定
• ISO 15795:2002/cor 1:2007 光学和光学仪器.光学系统质量评定.彩色相差引起的图象质量下降的评定.技术勘误1
• ISO 10110-6:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差
• ISO 10110-6:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差
• ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
• ISO 10110-11:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第11部分:无公差数据
• ISO/CD 10110-11.2 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第11部分：非公差数据
• ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
• ISO 10110-11:2016 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据
• ISO 10110-7:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第7部分:表面疵病公差
• ISO 10110-5:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第5部分:表面形状公差
• ISO 19012-2:2009 光学和光子学.显微镜物镜名称.第2部分:色差修正
• ISO 10110-14:2003 光学及光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第14部分:波前变形公差
• ISO 10110-14:2007 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
• ISO/CD 10110-6 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第6部分：定心和倾斜公差
• ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差
• ISO 10110-14:2018 光学和光子学. 光学元件和系统的制图准备. 第14部分: 波阵面变形公差
• ISO 10110-6:1996/Cor 1:1999 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差 技术勘误表1
• ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
• ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
• ISO 10110-11:1996/cor 1:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据.技术勘误1
• ISO 10110-5:1996/Cor 1:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第5部分:表面形状公差 技术勘误表1
• ISO 21094:2008 光学和光子学.光子学系统.夜视装置的规范
• ISO 20711:2017 光学和光子学.环境要求.远焦系统
• ISO/CD 6760-1.2 光学与光子学《光学玻璃折射率温度系数测试方法》第1部分：最小偏差法
• ISO/DIS 6760-1:2014 光学与光子学 光学玻璃折射率温度系数测试方法 第1部分：最小偏差法
• ISO/TR 21477:2017 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统
• ISO 9039:1994 光学和光学仪器 光学系统的质量评定 畸变测定
• ISO 14880-2:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
• ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法
• ISO/TR 16743:2013 光学和光子学.表示特性的光学系统和光学元件用波前传感器
• ISO 14490-10:2021 光学和光子学.望远镜系统的试验方法.第10部分:轴向颜色性能的试验方法
• ISO 10110-1:2019 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
• ISO 8576:1996 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜的参考系统
• ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系
• ISO 10110-1:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第1部分:总则
• ISO 10110-12:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图.第12部分:非球面表面
• ISO 10110-1:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第1部分:总则
• ISO 9358:1994 光学和光学仪器 成像系统杂散光 定义及测量方法
• ISO 10110-12:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
• ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术
• ISO 10109-4:2001 光学和光学仪器 环境要求 第4部分：远焦系统
• ISO 9039:1994/Cor 1:2004 光学和光学仪器.光学系统的质量评定.畸变的测定.技术勘误1
• ISO/FDIS 10110-16 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第16部分：衍射表面
• ISO 1011:1973 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
• ISO 10110-8:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
• ISO 10110-16:2023 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第 16 部分：衍射表面
• ISO 10110-8:1997 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第8部分:表面结构
• ISO/TR 14999-2:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
• ISO 10110-17:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第17部分:激光辐射损害阈
• ISO 10110-12:1997 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第12部分:非球面表面
• ISO 10110-13:1997 光学和光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第13部分:激光辐射损坏阈
• ISO 10110-9:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层
• ISO 10110-10:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
• ISO 10110-9:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第9部分:表面处理和镀层
• ISO 14490-2:2005 光学和光学仪器.望远镜系统的试验方法.第2部分:双目镜系统的试验方法
• ISO 14132-3:2014 光学和光子学. 望远系统词汇. 第3部分: 瞄准镜的术语
• ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 第12部分: 非球面; 修改件1
• ISO 10110-10:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第10部分:透镜元件的数据表
• ISO 10110-19:2015 光学和光子学 - 准备光学元件和系统的图纸 - 第19部分:表面和部件的概述
• ISO 15529:2007 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
• ISO 15529:2010 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
• ISO 17123-8:2007 光学和光学仪器.大地测量和地质勘测仪器的现场试验程序.第8部分:实时动态差分(RTK)的GNSS现场测量系统
• ISO 17123-8:2015 光学和光学仪器.大地测量和地质勘测仪器的现场试验程序.第8部分:实时动态差分(RTK)的GNSS现场测量系统
• ISO 15529:1999 光学和光学仪器 光的传递函数 成像系统调制传递函数的测量原理
• ISO 8624:2002 眼科光学.眼镜架.测量系统和术语
• ISO 8624:2011 眼科光学.眼镜架.测量系统与术语
• ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证
• ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统
• ISO 10110-2:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第2部分:材料不完全性 应力双折射
• ISO 10110-3:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第3部分:材料不完全性 气泡和杂质
• ISO 15559:1998 辐射化学光学波导剂量测定系统的使用规程

KR-KS，关于色差 光学 系统的标准

• KS B ISO 15795-2023 光学和光学仪器.光学系统的质量评定.由色差引起的图像质量退化的评定
• KS B ISO 10110-11-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第11部分:非公差数据
• KS B ISO 10110-5-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第5部分:表面形状公差
• KS B ISO 10110-6-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第6部分:定心公差
• KS B ISO 10110-5-2018 光学和光子学 - 光学元件和系统的图纸准备 - 第5部分:表面形状公差
• KS B ISO 10110-7-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差
• KS B ISO 10110-11-2018 光学和光子学 - 准备光学元件0716和0716系统的图纸 -0716 第071611部分:非公0716差数据
• KS B ISO 14999-4-2016 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第4部分:KS B ISO 10110规定公差的解释和评定
• KS B ISO 9039-2018 光学和光子学 - 光学系统的质量评估 - 失真的确定
• KS B ISO 9039-2023 光学和光子学光学系统的质量评定畸变的测定
• KS B ISO 10110-12-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第12部分:非球面
• KS B ISO 10110-1-2017 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
• KS B ISO 8576-2023 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜的参考系统
• KS B ISO 10110-12-2018 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
• KS B ISO 10110-10-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第10部分:光学元件和胶合组件数据表
• KS B ISO 10110-8-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第8部分:表面结构
• KS B ISO 10110-17-2023 光学和光子学.光学元件和系统图纸的编制.第17部分:激光辐照损伤阈值
• KS B ISO 9358-2023 光学和光学仪器.图像形成系统的反射眩光.定义和测量方法
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• VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 光学 3D 测量系统 基于区域扫描的多视图系统
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• DIN ISO 10110-5 E:2015-06 光学和光子学 光学元件和系统的图形制备 第5部分：表面形状公差
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• ITU-T G.664-1999 光学传输系统的光学安全程序和要求 G 系列：传输系统和媒体 数字系统和网络传输媒体特性 光学组件和子系统的特性（第 15 研究组；18 页）
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• AIA/NAS NAS882-2012 BAR 光学工具工具条系统（修订版 1）

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澳大利亚标准协会，关于色差 光学 系统的标准

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美国国防后勤局，关于色差 光学 系统的标准

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