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表面分析系统
本专题涉及表面分析系统的标准有126条。
国际标准分类中，表面分析系统涉及到石油和天然气工业设备、分析化学、词汇、家用、商用和工业用加热器具、声学和声学测量、工业自动化系统、信息技术应用、化工设备、道路工程、无线通信、糖、糖制品、淀粉、试验条件和规程综合、长度和角度测量、化工产品、太阳能工程、电学、磁学、电和磁的测量。
在中国标准分类中，表面分析系统涉及到海洋石油作业用设备、化学、物理学与力学、基础标准与通用方法、投影器、幻灯机、化学助剂、工业电热设备、、计算机应用、化工专用仪器仪表、公路工程、数据通信设备、电化学、热化学、光学式分析仪器、信息处理技术综合、太阳能、其他物质成份分析仪器、工业控制机与计算技术应用装置。
API - American Petroleum Institute，关于表面分析系统的标准
- API RP 14C ERTA-1984 海上生产平台基本表面安全系统分析 设计 安装和测试的推荐做法（第三版）
- API RP 14C-1986 海上生产平台基本表面安全系统分析 设计 安装和测试的推荐实践第四版；勘误表 1986年11月
国际标准化组织，关于表面分析系统的标准
- ISO 10418:1993 石油和天然气工业 近海生产平台 基础表面安全系统的分析 设计 安装和测试
- ISO 10418:2003 石油和天然气工业.近海生产装置.基础表面操作安全系统的分析、设计、安装和测试
- ISO 10418:2003/cor 1:2008 石油和天然气工业.近海生产装置.基础表面操作安全系统的分析、设计、安装和测试.技术勘误1
- ISO/CD 20579-2:2023 表面化学分析
- ISO/CD 20289:2017 表面化学分析
- ISO 18115:2001 表面化学分析 词汇
- ISO 18117:2009 表面化学分析.样品处理前分析
- ISO/CD 13473-4 利用表面轮廓表征路面结构 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- ISO 14975:2000 表面化学分析 信息格式
- ISO/TS 13473-4:2008 表面外观路面结构的特性.第4部分:表面轮廓的光谱分析
- ISO 14606:2022 表面化学分析.溅射深度轮廓.使用分层系统作为参考材料的优化
- ISO/TR 15969:2021 表面化学分析 - 深度分析 - 溅射深度的测量
- ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 - 纳米结构材料的表征
- ISO 18115-3:2022 表面化学分析.词汇.第3部分:光学界面分析中使用的术语
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 20289:2018 表面化学分析.水的全反射X射线荧光分析
- ISO/DIS 13473-4 利用表面轮廓表征路面结构 第4部分：表面轮廓的三分之一倍频程光谱分析
- ISO 18115:2001/Amd 1:2006 表面化学分析.词汇.修改件1
- ISO 18115:2001/Amd 2:2007 表面化学分析.词汇.修改件2
- ISO 14976:1998 表面化学分析 数据传输格式
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
法国标准化协会，关于表面分析系统的标准
- NF EN ISO 10418:2004 石油和天然气工业 海上生产平台 重要表面安全系统的分析、设计、安装和测试
- NF ISO 18117:2009 表面化学分析 分析前样品的处理
- NF X21-065*NF ISO 18117:2009 表面化学分析 优先分析样本的处理
- NF ISO 18116:2006 表面化学分析 分析样品的制备和安装指南
- NF ISO 14606:2008 表面化学分析 通过轰击进行厚度分析 使用单层或多层系统作为参考材料进行优化
- NF X21-052/A2:2008 表面化学分析.词汇.修改件2
- NF X21-052/A1:2008 表面化学分析.词汇.修改件1
RU-GOST R，关于表面分析系统的标准
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
- GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
英国标准学会，关于表面分析系统的标准
- BS EN ISO 10418:2003 石油和天然气工业.近海生产装置.基础表面操作安全性系统的分析,设计,安装和测试
- BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- BS 6351-2:1983 表面电电表面加热.第2部分:表面电加热系统设计指南
- BS ISO 18117:2009 表面化学分析.分析前样品的处理
- PD IEC TR 63176:2019 作为安全仪表系统一部分的过程分析技术系统
- 21/30440164 DC BS ISO 14606 表面化学分析 溅射深度剖析 使用分层系统作为参考材料进行优化
- BS ISO 18115-3:2022 表面化学分析 词汇 光学界面分析中使用的术语
- BS ISO 14975:2000 表面化学分析.信息格式
- BS ISO 14975:2001 表面化学分析 信息格式
- BS ISO 14606:2022 跟踪更改 表面化学分析 溅射深度剖析 使用分层系统作为参考材料进行优化
- BS ISO 14606:2015 表面化学分析.溅射深度剖面测定.采用作为参考材料的成层系统最优化
- BS ISO 14606:2000 表面化学分析.溅射深度剖面测定.采用作为参考材料的成层系统最优化
- BS ISO 14606:2001 表面化学分析.溅射深度剖面测定.采用作为参考材料的成层系统最优化
- PD ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 纳米结构材料的表征
- BS ISO 14952-3:2003 空间系统 流体系统的表面清洁度 测定非挥发性残留物和颗粒污染的分析程序
- PD ISO/TS 15338:2020 表面化学分析 辉光放电质谱分析 运营流程
- BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
- BS ISO 14976:1998 表面化学分析.数据传送格式
- BS EN 61725:1997 每日太阳剖面的分析表达式
- DD ISO/TS 13473-4:2008 使用表面轮廓表征路面纹理 纹理轮廓的光谱分析
- BS EN 61115:1994 过程分析仪样品处理系统的性能表达
国家质检总局，关于表面分析系统的标准
- GB/T 13592-1992 表面分析术语
- GB/T 22461-2008 表面化学分析.词汇
- GB/T 28894-2012 表面化学分析.分析前样品的处理
- GB/T 21007-2007 表面化学分析 信息格式
- GB/T 19768-2005 过程分析器试样处理系统性能表示
- GB/T 19768-2005 过程分析器试样处理系统性能表示
- GB/T 19768-2005 过程分析器试样处理系统性能表示
- GB/T 29557-2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 19499-2004 表面化学分析 数据传输格式
RO-ASRO，关于表面分析系统的标准
- STAS 11195-1987 表面剂分析方法
- SR 110-9-1995 糖．分析方法．测定表面质量
AT-ON，关于表面分析系统的标准
- ONORM M 1113-1982 技术曲面．表面分析方法
YU-JUS，关于表面分析系统的标准
- JUS H.E0.005-1979 表面活性剂．词汇．分析列表
美国国防后勤局，关于表面分析系统的标准
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767-1983 表面光洁度分析仪
澳大利亚标准协会，关于表面分析系统的标准
- AS ISO 18115:2006 表面化学分析．词汇
- AS ISO 14975:2006 表面化学分析．信息格式
- AS ISO 14976:2006 表面化学分析．数据传送格式
韩国科技标准局，关于表面分析系统的标准
- KS D ISO 18115:2006 表面化学分析.词汇
- KS D ISO 18115-2006(2021) 表面化学分析词汇
- KS D ISO 18115-2006(2016) 表面化学分析词汇
- KS D ISO 14606:2003 表面化学分析.溅射深度剖面测定.作为参考材料的层系统最优化
- KS D ISO 14975:2011 表面化学分析.信息格式
- KS D ISO 14975-2011(2016) 表面化学分析信息格式
- KS D ISO 14975-2011(2021) 表面化学分析信息格式
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
- KS D ISO 14606-2003(2018) 表面化学分析-推杆长度分布图-作为标准物质 利用分层系统的优化
- KS D ISO 14976:2011 表面化学分析.数据传输格式
- KS C IEC 61725-2005(2020) 日常太阳能剖面分析表达式
- KS D ISO 14976-2011(2016) 表面化学分析数据传输格式
- KS D ISO 14976-2011(2021) 表面化学分析数据传输格式
- KS D ISO TR 15969-2011(2021) 表面化学分析深度剖面溅射深度测量
- KS D ISO TR 15969-2011(2016) 表面化学分析深度剖面测量溅射深度
日本工业标准调查会，关于表面分析系统的标准
- JIS K 0147:2004 表面化学分析.词汇
- JIS K 0142:2000 表面化学分析.信息格式
- JIS K 0146:2002 表面化学分析.溅镀深度造型.利用分层系统作为标准物质的优选法
- JIS K 0181:2021 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
- JIS K 0154:2017 表面化学分析. 分析用试样制备和安装指南
- JIS K 0141:2000 表面化学分析.数据传送格式
US-FCR，关于表面分析系统的标准
- FCR COE ER 1-1-11-1995 进度、时间表和网络分析系统
未注明发布机构，关于表面分析系统的标准
- BS ISO 18117:2009(2015) 表面化学分析——分析前样品的处理
- BS 6351-2:1983(1999) 电表面加热 - 第2部分：电表面加热系统设计指南
- BS ISO 14975:2000(2012) 表面化学分析——信息格式
- BS EN 61115:1994(2000) 过程分析仪样品处理系统的性能表达
德国标准化学会，关于表面分析系统的标准
- DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 使用表面轮廓表征路面纹理 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- DIN ISO/TS 13473-4:2009 通过使用表面轮廓表征路面结构.第4部分:表面轮廓的光谱分析
- DIN EN 61115:1994 过程分析器试样处理系统性能表示
国际电工委员会，关于表面分析系统的标准
- IEC TR 63176:2019 作为安全仪表系统一部分的过程分析技术系统
- IEC 61115:1992 过程分析器试样处理系统性能表示
中国团体标准，关于表面分析系统的标准
- T/ZSA 110-2022 比表面积及孔径分析仪
- T/SHDSGY 040-2022 LIN-36型表情特征分析系统技术规范
行业标准-化工，关于表面分析系统的标准
- HG/T 6138-2023 比表面积及孔径分析仪
- HG/T 21581-1995HK05 分析仪表系统管路连接安装图册
国际电信联盟，关于表面分析系统的标准
- ITU-T Q.604-1993 信号系统的交互工作-信息分析表
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面分析系统的标准
- GB/T 33498-2017 表面化学分析 纳米结构材料表征
KR-KS，关于表面分析系统的标准
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
加拿大标准协会，关于表面分析系统的标准
- CSA C22.2 NO.62-1993 表面管道系统（第二版）
美国土木工程师协会，关于表面分析系统的标准
- ASCE GSP 176-2007 沥青路面材料和系统新兴方法分析
美国材料与试验协会，关于表面分析系统的标准
- ASTM E673-98E1 与表面分析相关的标准术语
- ASTM E673-01 与表面分析相关的标准术语
- ASTM E673-03 与表面分析相关的标准术语
- ASTM E673-02 与表面分析相关的标准术语
- ASTM E673-02b 与表面分析相关的标准术语
- ASTM E673-02a 与表面分析相关的标准术语
ET-QSAE，关于表面分析系统的标准
- ES 515-2000 表面活性剂——洗涤剂——定性分析
AENOR，关于表面分析系统的标准
- UNE-EN 61725:1998 每日太阳剖面的分析表达式
行业标准-机械，关于表面分析系统的标准
- JB/T 6854-1993 过程分析仪器试样处理系统性能表示
ES-UNE，关于表面分析系统的标准
- UNE-EN 61115:1993 过程分析仪样品处理系统性能的表达
