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单晶衍射仪 晶体
本专题涉及单晶衍射仪 晶体的标准有56条。
国际标准分类中，单晶衍射仪 晶体涉及到金属材料试验、化工产品、金属生产、教育、无损检测、分析化学、光学和光学测量、无机化学、陶瓷、半导体材料、半导体分立器件、物理学、化学、长度和角度测量、核能工程、有色金属、辐射测量。
在中国标准分类中，单晶衍射仪 晶体涉及到金属物理性能试验方法、金属化学分析方法综合、教学专用仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学计量、电离辐射计量、金属无损检验方法、教育、学位、学衔、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、人工晶体、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、无机盐、元素半导体材料、物理学与力学、半导体分立器件综合、、催化剂基础标准与通用方法、核探测器、炭素材料综合、炭素材料、通用核仪器、核仪器与核探测器综合。
国家质检总局，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
日本工业标准调查会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法
行业标准-教育，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则
- JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍身方法通则
国家计量检定规程，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
- JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
- JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程
英国标准学会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- BS EN 13925-3:2005(2009) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
- BS EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
- BS ISO 22278:2020 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
- 20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
- BS ISO 20203:2006 铝生产用碳素材料.煅烧焦炭.用X射线衍射法测定煅烧石油焦炭的晶体粒度
- BS IEC 61435:2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
- GB/T 39865-2021 单轴晶光学晶体折射率测量方法
- GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- GB/T 39867-2021 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体
- GB/T 40291-2021 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法
国家计量技术规范，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- JJF 1256-2010 X射线单晶体定向仪校准规范
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
德国标准化学会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
- DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
- DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
- DIN 50443-1:1988 半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性
欧洲标准化委员会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
- EN 13925-1:2003 无损检验.多晶体材料和无定形材料的X射线衍射.第1部分:一般原理
法国标准化协会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
丹麦标准化协会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- DS/EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
立陶宛标准局，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- LST EN 13925-3-2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
AENOR，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- UNE-EN 13925-3:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
行业标准-机械，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪
- JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
行业标准-航空，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
德国机械工程师协会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 射线光学系统 单色器晶体
国际标准化组织，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- ISO 22278:2020 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）.用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的试验方法
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO 20203:2005 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.用X-射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
IT-UNI，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- UNI 6966-1971 通过X射线的衍射进行多晶体中的极面图形数量测定
美国材料与试验协会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- ASTM E2627-10 在完全再结晶的多晶体物质中使用电子背向反射衍射(EBSD)测定平均粒度的标准实施规程
美国国防后勤局，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- DLA SMD-5962-87560 REV F-2006 硅单块 晶体管-晶体管逻辑电路到发射极耦合逻辑的翻译,数字微型电路
- DLA SMD-5962-87508 REV E-2006 硅单块 发射极耦合逻辑到晶体管-晶体管逻辑电路的翻译,数字微型电路
- DLA SMD-5962-91530 REV A-2006 硅单块 六进制晶体管晶体管逻辑电路到发射极耦合逻辑的翻译器,发射极耦合逻辑,数字微型电路
- DLA SMD-5962-91531 REV A-2004 硅单块 六进制晶体管晶体管逻辑电路到发射极耦合逻辑的翻译器,发射极耦合逻辑,数字微型电路
- DLA SMD-5962-92075 REV B-2006 硅单块 68030/40发射极耦合逻辑或晶体管-晶体管逻辑电路钟驱动器,发射极耦合逻辑,数字微型电路
- DLA SMD-5962-07218 REV A-2008 单片硅超高频NPN-PNP组合晶体管阵列耐辐射线性微电路
中国团体标准，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- T/SAS 0003-2018 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体
行业标准-化工，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- HG/T 6149-2023 加氢催化剂及其载体中二氧化硅晶相含量的测定 X射线衍射法
RU-GOST R，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- GOST R 8.696-2010 确保测量一致性的国家体系.晶体中的平面间距和衍射图中的亮度分布.利用电子衍射计方法的测量
韩国科技标准局，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- KS M ISO 20203:2011 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.X.射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
- KS M ISO 20203:2016 铝生产中使用的碳素材料 煅烧焦炭 X 射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
国际电工委员会，关于单晶衍射仪 晶体的标准
- IEC 61435:2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
