探针测量显微镜
本专题涉及探针测量显微镜的标准有18条。
国际标准分类中，探针测量显微镜涉及到光学和光学测量、分析化学、长度和角度测量、光学设备、无损检测。
在中国标准分类中，探针测量显微镜涉及到电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、基础标准与通用方法、化学、稀有金属及其合金分析方法。
国家质检总局，关于探针测量显微镜的标准
- GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
国际标准化组织，关于探针测量显微镜的标准
- ISO 11952-2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 13095:2014 表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
- ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
- ISO 11952:2014 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952-2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO 11039:2012 表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
，关于探针测量显微镜的标准
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
- GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
- GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
- GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
英国标准学会，关于探针测量显微镜的标准
- BS ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
韩国标准，关于探针测量显微镜的标准
- KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
- KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
美国材料与试验协会，关于探针测量显微镜的标准
- ASTM E1813-96e1 扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
- ASTM E1813-96(2002) 扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
