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x射线衍射仪怎么校准
本专题涉及x射线衍射仪怎么校准的标准有45条。
国际标准分类中，x射线衍射仪怎么校准涉及到辐射防护、无损检测、职业安全、工业卫生、石油和天然气工业设备、电学、磁学、电和磁的测量、计量学和测量综合、分析化学、光学和光学测量、辐射测量、信息技术应用。
在中国标准分类中，x射线衍射仪怎么校准涉及到放射卫生防护、金属无损检验方法、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、石油勘探、开发、集输设备综合、电磁计量、电离辐射计量、、化学计量、基础标准与通用方法、实验室基础设备、勘探采矿和工艺监测核仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、电子计算机应用、长度计量。
国家质检总局，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
- GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分：低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
- GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分：低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
- GB/T 12162.4-2010 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射第4部分：低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
美国材料与试验协会，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
- ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
- ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
- ASTM E915-19 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准试验方法
- ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
- ASTM E915-21 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准实施规程
- ASTM E2108-05 X-射线光电分光仪的电子结合能刻度表校准的标准实施规程
- ASTM E2108-00 X射线光电子分光仪的电子结合能刻度表的校准的标准操作规程
卫生部国家职业卫生标准，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准
国家计量技术规范，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- JJF 1952-2021 X射线荧光测硫仪校准规范
- JJF 1275-2011 X射线安全检查仪校准规范
- JJF 1613-2017 掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准规范
- JJF 1256-2010 X射线单晶体定向仪校准规范
- JJF 1306-2011 X射线荧光镀层测厚仪校准规范
- JJF 2024-2023 能量色散X射线荧光光谱仪校准规范
- JJF 1473-2014 医用诊断X射线非介入电流仪校准规范
- JJF 1133-2005 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准规范
国家能源局，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- SY/T 7324-2016 X射线荧光录井仪校准方法
行业标准-公共安全标准，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- GA/T 1064-2013 X射线源老化测试仪校准规范
中国团体标准，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- T/CSTM 00901-2023 手持式X射线荧光光谱仪校准规范
未注明发布机构，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准
国际标准化组织，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO/PRF 5861:2024 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO 16413:2013 X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
法国标准化协会，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
KR-KS，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
- KS D ISO 16413-2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
GSO，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度的校准
SCC，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- BS ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度的校准
- ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能量校准 修改件1
- DIN ISO 15472 E:2019 文件草案 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度校准（ISO 15472:2010） 英文文本
德国标准化学会，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
韩国科技标准局，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- KS D ISO 16413:2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
英国标准学会，关于x射线衍射仪怎么校准的标准
- BS ISO 16413:2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
- 23/30442725 DC BS ISO 5861 草案 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器的强度校准方法
