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x光电子能谱样品处理
本专题涉及x光电子能谱样品处理的标准有37条。
国际标准分类中，x光电子能谱样品处理涉及到电子元器件综合、电学、磁学、电和磁的测量、分析化学、环保、保健和安全、辐射测量、核能工程。
在中国标准分类中，x光电子能谱样品处理涉及到标准化、质量管理、综合测试系统、化学、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、电离辐射计量、放射性物质与放射强度分析测试方法。
行业标准-电子，关于x光电子能谱样品处理的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
国家质检总局，关于x光电子能谱样品处理的标准
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
韩国科技标准局，关于x光电子能谱样品处理的标准
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS A ISO 11929-8-2008(2013) 电离辐射测量检测限和判定阈的测定第8部分:不受样品处理影响的光谱测量展开的基本原理和应用
- KS A ISO 11929-8:2008 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第8部分:无样品处理影响的光谱测量法演变的应用
- KS A ISO 11929-8:2014 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定 第8部分：无样品处理影响的光谱测量法演变的应用
- KS A ISO 11929-3:2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第3部分:样本处理不影响高分解能γ光谱测定法计数检测原理和应用
- KS A ISO 11929-3:2014 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定 第3部分：样本处理不影响高分解能γ光谱测定法计数检测原理和应用
- KS A ISO 11929-3-2002(2012) 电离辐射测量的检出限和判定阈的测定第3部分:不受样品处理影响的高分辨率伽马能谱计数测量的基本原理和应用
美国材料与试验协会，关于x光电子能谱样品处理的标准
- ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E1217-11 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
- ASTM E1217-00 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E1217-05 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM D7343-18 用于石油产品和润滑剂元素分析的X射线荧光光谱法优化 样品处理 校准和验证的标准操作规程
- ASTM D7343-20 用于石油产品和润滑剂元素分析的X射线荧光光谱法优化 样品处理 校准和验证的标准操作规程
- ASTM D7343-12(2017) 用于石油产品和润滑剂元素分析的X射线荧光光谱法优化 样品处理 校准和验证的标准操作规程
澳大利亚标准协会，关于x光电子能谱样品处理的标准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
国际标准化组织，关于x光电子能谱样品处理的标准
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 11929-8:2005 电离辐射测量探测限和判断阈的确定.第8部分:基本原则及对不受样品处理影响的光谱测量法演变的应用
英国标准学会，关于x光电子能谱样品处理的标准
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- 19/30364173 DC BS ISO 22581 通过 XPS 进行表面化学分析 数据管理和处理 来自 X 射线光电子能谱调查扫描的近实时信息 识别和纠正表面污染的规则
- BS ISO 11929-8:2004 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定 不受样品处理影响的光谱测量展开的基本原理和应用
- BS ISO 11929-3:2004 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定 不受样品处理影响的高分辨率伽马光谱法计数测量的基本原理和应用
行业标准-商品检验，关于x光电子能谱样品处理的标准
- SN/T 2003.4-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
- SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法
法国标准化协会，关于x光电子能谱样品处理的标准
- NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
- NF M60-200-8:2005 电离辐射测量的探测极限和判断阈值的测定.第8部分:基本原理和不受样品处理影响的光谱测量演变的应用
KR-KS，关于x光电子能谱样品处理的标准
- KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析
行业标准-核工业，关于x光电子能谱样品处理的标准
- EJ/T 1204.3-2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量
