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芯片测试
本专题涉及芯片测试的标准有14条。
国际标准分类中，芯片测试涉及到集成电路、微电子学、半导体分立器件、信息技术应用、光电子学、激光设备、字符集和信息编码、涂料和清漆。
在中国标准分类中，芯片测试涉及到、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、数据加密、涂料、半导体集成电路。
中国团体标准，关于芯片测试的标准
- T/CIE 126-2021 磁随机存储芯片测试方法
- T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法
- T/QGCML 3140-2024 芯片测试智能仓储管理系统
- T/CESA 1119-2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
- T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
- T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
行业标准-电子，关于芯片测试的标准
- SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
广东省标准，关于芯片测试的标准
- DB44/T 1905-2016 超高频射频识别（RFID）芯片测试方法
SCC，关于芯片测试的标准
- BS DD ENV 50219:1996 欧洲微型测试芯片可靠性测试结构描述
- BS PD 6598:1996 欧洲微型测试芯片表征的测量技术
(美国)福特汽车标准，关于芯片测试的标准
- FORD FLTM BI 007-1-2001 涂漆面板的芯片电阻测试
- FORD FLTM EU-BI 007-1-2001 涂漆面板的芯片电阻测试
韩国科技标准局，关于芯片测试的标准
- KS M ISO 21227-2:2012 涂料和清漆.光成像法评定涂覆表面的缺陷.第2部分:多种冲击石芯片测试评估程序
工业和信息化部，关于芯片测试的标准
- YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法
