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x射线 分子 光谱
本专题涉及x射线 分子 光谱的标准有49条。
国际标准分类中，x射线 分子 光谱涉及到无损检测、分析化学、光学和光学测量、医疗设备、表面处理和镀涂、金属的腐蚀、长度和角度测量。
在中国标准分类中，x射线 分子 光谱涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、化学、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置。
美国材料与试验协会，关于x射线 分子 光谱的标准
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
国际标准化组织，关于x射线 分子 光谱的标准
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
国家质检总局，关于x射线 分子 光谱的标准
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
英国标准学会，关于x射线 分子 光谱的标准
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
法国标准化协会，关于x射线 分子 光谱的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X21-061:2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线 分子 光谱的标准
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
韩国科技标准局，关于x射线 分子 光谱的标准
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
日本工业标准调查会，关于x射线 分子 光谱的标准
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
- JIS T 0306:2002 用X射线光电子光谱法分析金属生物材料形成的无源膜的状态
澳大利亚标准协会，关于x射线 分子 光谱的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
德国标准化学会，关于x射线 分子 光谱的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x射线 分子 光谱的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
KR-KS，关于x射线 分子 光谱的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
未注明发布机构，关于x射线 分子 光谱的标准
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
