测量迁移率

本专题涉及测量迁移率的标准有18条。

国际标准分类中，测量迁移率涉及到金属材料试验、绝缘流体、半导体材料、物理学、化学、建筑物的防护、振动、冲击和振动测量。

在中国标准分类中，测量迁移率涉及到半金属及半导体材料分析方法、金属物理性能试验方法、建筑物理、半导体二极管、化合物半导体材料、半导体分立器件综合。

国家质检总局，关于测量迁移率的标准

• GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• GB 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

美国材料与试验协会，关于测量迁移率的标准

• ASTM E2865-12(2018) 纳米生物材料的电泳迁移率和Zeta电位的测量标准指南
• ASTM F76-08(2016) 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-08(2016)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM E2865-12 纳米生物材料的电泳迁移率和Zeta电位的测量标准指南
• ASTM E2865-2012 测量纳米生物材料电泳迁移率和电动电势的标准指南
• ASTM F76-08 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-2008(2016) 测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-2008 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
• ASTM F76-86(1996)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-1986(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
• ASTM F76-1986(1996)e1 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

德国标准化学会，关于测量迁移率的标准

• DIN EN 15657-1-2009 建筑物和建筑元件的声学特性.来自建筑设备的空气传递或结构传递的声音的实验室测量.第1部分:设备迁移率大大高于接收迁移率的简化情况,以漩涡浴池为例.英文版本DIN EN 15657-1-2009-10

国际标准化组织，关于测量迁移率的标准

• ISO 7626-5:1994 振动和冲击.机械迁移率的实验测定.第5部分:用未连接到结构上的激励器进行冲击激励的测量

行业标准-电子，关于测量迁移率的标准

• SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法

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可能用到的仪器设备