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扫描 探针 系统

本专题涉及扫描 探针 系统的标准有14条。

国际标准分类中,扫描 探针 系统涉及到机床、长度和角度测量、机械试验、分析化学、教育、有色金属、光学和光学测量、光学设备、词汇。

在中国标准分类中,扫描 探针 系统涉及到机床综合、基础标准与通用方法、放大镜与显微镜、教学专用仪器、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、稀有金属及其合金分析方法、化学。


国际标准化组织,关于扫描 探针 系统的标准

  • ISO 230-10:2011/Amd 1:2014 机床试验规程.第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定.修改件1:配扫描探针的探测系统的测量性能
  • ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
  • ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准

德国机械工程师协会,关于扫描 探针 系统的标准

国家质检总局,关于扫描 探针 系统的标准

  • GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
  • GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法

国家计量技术规范,关于扫描 探针 系统的标准

行业标准-教育,关于扫描 探针 系统的标准

韩国科技标准局,关于扫描 探针 系统的标准

RU-GOST R,关于扫描 探针 系统的标准

  • GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
  • GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法

英国标准学会,关于扫描 探针 系统的标准





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