EN

RU

ES

扫描 探针

本专题涉及扫描 探针的标准有43条。

国际标准分类中,扫描 探针涉及到分析化学、教育、有色金属、光学和光学测量、光学设备、词汇、长度和角度测量、机械试验、机床。

在中国标准分类中,扫描 探针涉及到放大镜与显微镜、基础标准与通用方法、教学专用仪器、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、稀有金属及其合金分析方法、化学、机床综合。


国家计量技术规范,关于扫描 探针的标准

国家质检总局,关于扫描 探针的标准

  • GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准
  • GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
  • GB/T 22461.2-2023 表面化学分析 词汇 第2部分: 扫描探针显微术术语
  • GB/T 42543-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 悬臂梁法向弹性常数的测定

行业标准-教育,关于扫描 探针的标准

韩国科技标准局,关于扫描 探针的标准

国际标准化组织,关于扫描 探针的标准

  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
  • ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
  • ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
  • ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
  • ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
  • ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
  • ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
  • ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
  • ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
  • ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
  • ISO 230-10:2011/Amd 1:2014 机床试验规程.第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定.修改件1:配扫描探针的探测系统的测量性能
  • ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
  • ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

英国标准学会,关于扫描 探针的标准

  • BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
  • BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
  • BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析 词汇 扫描探针显微镜中使用的术语
  • BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
  • BS ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
  • BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量:测量系统的校准
  • 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析 词汇 第 2 部分:扫描探针显微镜中使用的术语
  • BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
  • BS ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
  • BS ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于扫描 探针的标准

德国机械工程师协会,关于扫描 探针的标准

法国标准化协会,关于扫描 探针的标准

  • NF X21-069-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
  • NF E60-100-10/A1:2014 机床试验规程. 第10部分: 数控机床探测系统测量性能的测定. 修改件1: 扫描探针的测量性能

日本工业标准调查会,关于扫描 探针的标准

  • JIS K 0147-2:2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语

未注明发布机构,关于扫描 探针的标准

  • JIS K 0182:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 悬臂法向弹簧常数的测定

RU-GOST R,关于扫描 探针的标准

  • GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
  • GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
  • GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
  • GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号