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电位测试片

本专题涉及电位测试片的标准有499条。

国际标准分类中，电位测试片涉及到摄影技术、电影、半导体材料、地质学、气象学、水文学、电学、磁学、电和磁的测量、能源和热传导工程综合、集成电路、微电子学、道路车辆装置、石油和天然气工业设备、分析化学、机上设备和仪器、金属材料试验、水质、核能工程、电工器件、金属的腐蚀、电阻器、家用自动控制装置、磁性材料、黑色金属、电击防护、电子管、整流器、转换器、稳压电源、医疗设备、橡胶和塑料制品、建筑材料、光学设备、土质、土壤学、电子元器件综合、塑料、电工和电子试验、印制电路和印制电路板、电子电信设备用机电元件、造船和海上构筑物综合、化工产品、泵、无损检测、音频、视频和视听工程、有色金属、钢铁产品、电信设备用部件和附件、表面处理和镀涂、建筑构件、切削工具、石油产品综合、热力学和温度测量、电子元器件组件、铁合金、粒度分析、筛分、绝缘材料、绝缘流体、铁路车辆、建筑工业、肉、肉制品和其他动物类食品、润滑剂、工业油及相关产品、雾化剂罐、词汇、原油。

在中国标准分类中，电位测试片涉及到、分离机械、电影与摄影技术、制片设备、测磁仪器、航空仪表、半导体集成电路、制动系统、原油、物理化学特性标准物质、金属物理性能试验方法、微电路综合、水利、水电工程综合、混合集成电路、安装、接线连接件、电工合金零件、照相机与照相器具、基础标准和通用方法、电子测量与仪器综合、电真空器件综合、氧化物、单质、水环境有毒害物质分析方法、电子元件综合、医用卫生用品、通用零部件、线路器材、测试设备与检验片仪器、电影、照相、缩微、复印设备综合、感光材料、计量综合、光学仪器综合、土壤环境质量分析方法、材料防护、金属化学性能试验方法、计算机应用、其他电子元器件、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、数字显示仪表、电工用钢、其他日用品、半导体分立器件综合、程序语言、连接器、放大镜与显微镜、维生素类、滋补营养、氨基酸、酶类药与其他生化药品、广播、电视设备综合、其他电真空器件、勘探采矿和工艺监测核仪器、通信线路设备、天线及其馈线、刀具、液体介质与植物、动物、人体器官采样方法、日用搪瓷制品、石油产品综合、录制设备、电工绝缘材料及其制品、视频、脉冲系统设备、机车综合、地质矿产勘察与开发、基础标准与通用方法、肉类加工制品、土壤、水土保持、金属无损检验方法。

RO-ASRO，关于电位测试片的标准

• STAS 9614/2-1984 电位．测试方法
• STAS R 11682-1983 金属芯片消除过程的测试，对中元件箝位符号
• STAS 11029-1987 电影摄影术，35毫米、16毫米电影胶片和电视幻灯片的图像面积．位置和尺寸
• SR ISO 4040:1995 道路交通．乘用车手动控制位置、指标及试片
• SR EN 108-1996 测试方法．测试平面叶片的变形

RU-GOST R，关于电位测试片的标准

• GOST 10691.4-1984 照相软片和电影反转片.测定缩位号码的方法
• GOST 25995-1983 生物电位测量电极.一般技术条件和试验方法
• GOST 6134-2007 叶片泵.测试方法
• GOST 6134-1987 叶片泵 测试方法
• GOST 10691.2-1984 通用黑白照相底片.测定缩位号码的方法

PL-PKN，关于电位测试片的标准

• PN C99910 ArkusZ03-1972 电影胶片35mm 图片尺寸及位置
• PN C45051-06-1986 高级醇脂肪．测试方法，测定羰基值电位法
• PN C04576-10-1986 水和废水氮测试离子选择性电极电位法测定硝态氮
• PN T06513-03-1989 氧化还原电位值．实验室测量仪器．一般要求和测试

CU-NC，关于电位测试片的标准

• NC 61-24-1985 电视．电影胶片的图片区和电视幻灯片．位置和尺寸
• NC 68-05-1985 家用电器．太阳能集热片．测试方法
• NC 64-12-1990 摄影应用和技术．在16mm，35/16mm，35/32mm电影胶片上底片电影声响的记录．位置和尺寸

AT-ON，关于电位测试片的标准

• ONORM E 1354-1971 电线锚位测试装置

中国团体标准，关于电位测试片的标准

• T/IAWBS 014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
• T/IAWBS 018-2022 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
• T/WJDGC 0005-2021 自动电饭锅保温片测试方法
• T/CEC 646-2022 电力北斗定位设备环境与电磁兼容测试方法
• T/QGCML 1940-2023 扫描电子显微镜原位高温力学测试装置
• T/CECS 55-2020 地下水原位测试规程
• T/COS 003-2019 卫星导航接收机定位精度测试方法第 1 部分：单点定位测试

ISA - International Society of Automation，关于电位测试片的标准

• ISA S37.12-1982 电位式位移传感器的规格和测试
• ISA S37.12-1977 电位式位移传感器的规格和测试
• ISA S37.6-1982 电位压力传感器的规格和测试
• ISA 37.6-1982 电位压力传感器的规格和测试

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电位测试片的标准

• GB/T 37617-2019 纳滤膜表面Zeta电位测试方法 流动电位法
• GB/T 39042-2020 电工钢单片磁性能测试 H线圈法

美国国防后勤局，关于电位测试片的标准

• DLA SMD-5962-86816 REV D-2008 微电路数字高速CMOS8位单片移位寄存器
• DLA MIL-M-38510/440C-1986 单片硅,四位片微处理机的数字微电路
• DLA MIL-M-38510/440 C VALID NOTICE 4-2012 微电路，数字，四位微处理器切片单片硅
• DLA SMD-5962-94591 REV A-2004 硅单片,8位移位寄存器,ECL数字微型电路
• DLA DSCC-VID-V62/11607 REV B-2011 微电路，数字，相位检测器/频率合成器，单片硅
• DLA MS18015 REV B NOTICE 1-1997 (隐蔽弹簧型)钳位电路和锁舌片的制动片
• DLA MS18015 REV B-1972 (隐蔽弹簧型)钳位电路和锁舌片的制动片
• DLA SMD-5962-88677 REV C-2009 微电路，数字，4 位双极微处理器片，单片硅
• DLA SMD-5962-86817 REV D-2011 微电路，数字，高速 CMOS，8 位移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-84057 REV E-2005 硅单片4比特位片微处理机,数字微型电路
• DLA SMD-5962-81008 REV B-2008 微电路、线性、单片和多芯片、12 位数模转换器
• DLA SMD-5962-89697 REV C-2013 微电路，线性，16 位，电压输出 DAC，单片硅
• DLA SMD-5962-89717 REV A-1992 硅单片,32位可级联圆筒移位器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-87802 REV C-2001 硅单片8位四方数位类比转换器线性微电路
• DLA DSCC-VID-V62/04689 REV B-2010 微电路，数字，8 位并行负载移位寄存器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/04690 REV A-2010 微电路，数字，8 位并行负载移位寄存器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/06603 REV A-2012 微电路，数字，并联负载 8 位移位寄存器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/11605-2010 微电路，数字，非易失性存储器，双 1024 位数字电位器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/11605 REV A-2013 微电路，数字，非易失性存储器，双 1024 位数字电位器，单片硅
• DLA SMD-5962-86827 REV D-2013 微电路，数字，高速 CMOS，4 位并行移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-89464 REV B-1994 硅单片32位微处理器数字微电路
• DLA MIL-M-38510/159 B VALID NOTICE 3-2010 微电路、数字、TTL、移位寄存器、单片硅
• DLA SMD-5962-88767 REV C-2004 硅单片12位数位类比转换器成倍增加线性微电路
• DLA SMD-5962-91647 REV B-2012 微电路，线性，CMOS，双 12 位/14 位串行 D/A 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-95597 REV E-2010 微电路，线性，电压反馈钳位放大器，单片硅
• DLA SMD-5962-01507-2001 单片硅两极化的数字微电路高速率预测进位发生器
• DLA SMD-5962-87762 REV A-2000 硅单片8位类比至数位转换器跟踪/保持线性微电路
• DLA SMD-5962-88508 REV B-2005 硅单片12位元类比数位转换器混合动力线性微电路
• DLA SMD-5962-86717 REV E-2009 微电路，数字，低功耗肖特基，TTL，8 位移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-95583 REV B-2008 微电路，数字，双极，TTL，并联负载 8 位移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-01519 REV A-2006 单片硅多微电路双通道数字线性微电路12位类比数位转换器
• DLA SMD-5962-94578-1997 硅单片,32位微处理器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-88532 REV C-2003 硅单片9位A/D变流器线性微电路
• DLA SMD-5962-88563-1988 硅单片16位D/A转换器线性微电路
• DLA SMD-5962-07224 REV A-2009 微电路，数字，32 位 SPARC V8 处理器，单片硅
• DLA SMD-5962-89596 REV E-2009 微电路，数字，NMOS，16 位微控制器，单片硅
• DLA SMD-5962-89959 REV D-2009 微电路，数字，CMOS，16 位可级联 ALU，单片硅
• DLA SMD-5962-07224 REV B-2009 微电路，数字，32 位 SPARC V8 处理器，单片硅
• DLA SMD-5962-07224 REV C-2010 微电路，数字，32 位 SPARC V8 处理器，单片硅
• DLA SMD-5962-88501 REV H-2012 微电路、数字、CMOS、16 位微处理器、单片硅
• DLA MIL-M-38510/133 B VALID NOTICE 1-2009 微电路，线性，10 位数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-89617 REV B-2012 微电路，线性，12 位数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-90979 REV B-2008 微电路，线性，高速相位/鉴频器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/113 B VALID NOTICE 1-2010 微电路，线性，8 位，数模转换器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/113 C-2011 微电路，线性，8 位，数模转换器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/08603 REV A-2009 微电路，数字线性，单数字控制电位器，单片硅
• DLA SMD-5962-00538 REV G-2009 微电路，数字线性，上电，微处理器复位电路，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/10612-2010 微电路，数字，8 位移位寄存器，带三态输出寄存器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 微电路，数字，高级双极 CMOS，3.3-V ABT 扫描测试设备，带 18 位通用总线收发器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 微电路，数字，高级双极 CMOS，3.3-V ABT 扫描测试设备，带 18 位通用总线收发器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 微电路，数字，高级双极 CMOS，3.3-V ABT 扫描测试设备，带 18 位收发器和寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-94662 REV A-2009 微电路，线性，10 位，电压输出，D/A 转换器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/473 A-1983 单片8位输入/输出端口,CMOS数字微电路
• DLA SMD-5962-94550-1995 硅单片,32位RISC微处理器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-88560 REV B-2006 硅单片64位内存发光数字存储微电路
• DLA SMD-5962-90515 REV C-1996 硅单片,8位廉线寄存器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-93143 REV C-2005 硅单片,32位微型处理器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-86023 REV D-2011 微电路、存储器、数字、双极 256 位 RAM、单片硅
• DLA SMD-5962-86051 REV D-2011 微电路、存储器、数字、双极 64 位 RAM、单片硅
• DLA SMD-5962-86703 REV F-2011 微电路、存储器、数字、32 x 8 位 PROM、单片硅
• DLA SMD-5962-95613 REV K-2012 微电路、存储器、数字、SRAM、512K x 8 位、单片硅
• DLA SMD-5962-11208 REV A-2013 微电路，CMOS，线性，11 位，数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-88535 REV D-2008 微电路、数字、CMOS、4 位 SLICE 微处理器、单片硅
• DLA SMD-5962-93102 REV A-2010 微电路，数字，ECL，4 位 D 型触发器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/473 A VALID NOTICE 3-2010 微电路、数字、CMOS、单片 8 位输入/输出端口
• DLA MIL-M-38510/473A VALID NOTICE 1-2001 微电路、数字、CMOS、单片 8 位输入/输出端口
• DLA MIL-M-38510/474 A VALID NOTICE 3-2010 微电路、数字、CMOS、单片 N 位八解码器之一
• DLA SMD-5962-77037 REV H-2011 微电路，数字，CMOS，4 位幅度比较器，单片硅
• DLA SMD-5962-91740 REV A-2009 微电路，CMOS，16 位，数模乘法转换器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/9 E VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极 TTL、移位寄存器、单片硅
• DLA SMD-5962-78015 REV J-2010 微电路，数字，双极，存储器，64 位 RAM，单片硅
• DLA MIL-M-38510/665 VALID NOTICE 4-2012 微电路、数字、高速、CMOS、移位寄存器、单片硅
• DLA SMD-5962-94690 REV A-2009 微电路，线性，16 位，50KHZ 模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-89676 REV D-2012 微电路，线性，CMOS，16 位模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-89616 REV D-2013 微电路，线性，CMOS 8 位 A/D 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-88563 REV A-2008 单片硅16位直/交流转换器线性微电路
• DLA DSCC-DWG-V62/13622-2013 具有 4 位、6 位或 8 位 VID 支持的单片硅微电路、数字线性、PWM 系统控制器
• DLA DSCC-VID-V62/12616-2012 微电路、数字、1024 位数字电位计，具有最大 % R 容差和 20-TP 存储器，单片硅
• DLA SMD-5962-88776 REV C-2004 硅单片8位快闪记忆体类比数位转换器线性混合微电路
• DLA SMD-5962-88516 REV E-2010 微电路，数字，高性能 CMOS 9 位和 10 位总线接口寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-00538 REV K-2011 微电路，线性，CMOS，抗辐射，上电，微处理器复位电路，单片硅
• DLA SMD-5962-00538 REV F-2008 单片硅微处理器复位电路,接通电源数字线性微电路
• DLA SMD-5962-88505 REV A-2001 硅单片10位模拟数字转换器线性微电路
• DLA SMD-5962-88719 REV C-2002 硅单片12位四方D/A转换器线性微电路
• DLA SMD-5962-93104-1993 硅单片,6位D型寄存器,ECL数字微型电路
• DLA SMD-5962-93235 REV B-2010 微电路、存储器、数字、CMOS 256K X 8 位 EEPROM、单片硅
• DLA SMD-5962-90803 REV D-2012 微电路、存储器、数字、CMOS 8K X 8 位 PROM、单片硅
• DLA SMD-5962-92140 REV A-2012 微电路、存储器、数字、CMOS 128K X 16 位 UVEPROM、单片硅
• DLA SMD-5962-92071 REV A-2013 微电路、存储器、数字、CMOS 64K X 8 位 UVEPROM、单片硅
• DLA SMD-5962-88643 REV D-2008 微电路，数字，16 位 CMOS 微程序序列器，单片硅
• DLA SMD-5962-96728 REV A-1996 微电路、数字、CMOS、静态 16 位微处理器、单片硅
• DLA SMD-5962-77058 REV H-2011 微电路，数字，CMOS，12 位二进制计数器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/54 D VALID NOTICE 4-2012 微电路，数字，CMOS，正逻辑四位全加器，单片硅
• DLA SMD-5962-89614 REV G-2009 微电路、存储器、数字、CMOS、128K X 8 位 UVEPROM、单片硅
• DLA SMD-5962-94557 REV B-2009 微电路、存储器、数字、CMOS 1MEG X 8 位 EEPROM、单片硅
• DLA SMD-5962-87514 REV F-2010 微电路、存储器、数字、CMOS 8K X 8 位 EEPROM、单片硅
• DLA SMD-5962-95519 REV A-2009 微电路，线性，12 位 2 MHZ A/D 转换器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/04695 REV A-2010 微电路，数字，双 4 位二进制计数器，单片硅
• DLA SMD-5962-89900 REV A-2009 微电路，线性，高速 6 位 A/D 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-87802 REV D-2011 微电路，线性，8 位四路数模转换器单片硅
• DLA SMD-5962-89698 REV B-2013 微电路，线性，A/D 转换器，10 位采样，单片硅
• DLA SMD-5962-94558 REV E-2005 硅单片,32位运算器/16位总线,信号数字处理器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-87789 REV B-2001 硅单片微处理器兼容的8位元数位类比转换器线性微电路
• DLA SMD-5962-84150 REV F-2009 微电路，数字，高速 CMOS，带置位和复位功能的双 JK 触发器，单片硅
• DLA SMD-5962-84094 REV C-2012 微电路，数字，高速 CMOS，带同步复位的 4 位同步 BCD 计数器，单片硅
• DLA SMD-5962-00538 REV E-2007 单片硅数字线性微电路低功耗微处理器复位电路
• DLA DSCC-VID-V62/12661-2013 微电路，数字线性，18 位，电压输出数模转换器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/12661 REV A-2013 微电路，数字线性，18 位，电压输出数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-84095 REV D-2009 微电路，数字，高速 CMOS，8 位并行输入/串行输出移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-84162 REV E-2009 微电路，数字，高速 CMOS，8 位串行输入/并行输出移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-89765 REV E-2013 微电路、数字、高速 CMOS、具有快速进位的 4 位二进制全加器、单片硅
• DLA SMD-5962-89617 REV A-2001 硅单片,12位模拟数字转变器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-90656-1991 硅单片,80位数值信息处理器,数字微型电路
• DLA SMD-5962-93060 REV E-2001 硅单片,12位交流/直流转变器,线性微型电路
• DLA SMD-5962-93164 REV A-2002 硅单片,12位模拟数字转变器,线性微型电路
• DLA SMD-5962-88541 REV C-2010 微电路、存储器、数字、双极、512 X 4 位 PROM、单片硅
• DLA SMD-5962-97609 REV B-2011 微电路，存储器，数字，闪存 EPROM，2M X 8 位，单片硅
• DLA SMD-5962-96690 REV J-2011 微电路、存储器、数字、闪存 EPROM、128K X 8 位、单片硅
• DLA SMD-5962-96692 REV H-2011 微电路，存储器，数字，闪存 EPROM，512K x 8 位，单片硅
• DLA SMD-5962-87788 REV E-2013 微电路、存储器、数字 256 X 4 位、双极 PROM、单片硅
• DLA MIL-M-38510/470 A VALID NOTICE 3-2010 微电路，数字，CMOS 单片 8 位微处理器（固定指令）
• DLA DSCC-VID-V62/05613 REV B-2012 微电路，数字，CMOS，14 位，125 MSPS 模数转换器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/520 B VALID NOTICE 4-2012 微电路，数字，N 沟道，硅门单片 16 位微处理器
• DLA MIL-M-38510/540 B VALID NOTICE 4-2012 微电路，数字，N 沟道，硅门单片 16 位微处理器
• DLA DSCC-VID-V62/12622-2012 微电路，数字，16/32 位 RISC 闪存微控制器，单片硅
• DLA SMD-5962-86013 REV E-2009 微电路，数字，高速 CMOS，4 位幅度比较器，单片硅
• DLA SMD-5962-03202 REV A-2008 微电路，存储器，数字，1024 X 8 位双极 PROM，单片硅
• DLA SMD-5962-03203 REV A-2008 微电路，存储器，数字，2048 X 8 位双极 PROM，单片硅
• DLA SMD-5962-86818 REV E-2011 微电路，数字，高速 CMOS，8 位幅度比较器，单片硅
• DLA SMD-5962-88605 REV C-2008 微电路，数字，双极高性能 10 位缓冲器，单片硅
• DLA SMD-5962-86713 REV B-2009 微电路，数字，双极性，8 位等于比较器，单片硅
• DLA SMD-5962-07226 REV A-2009 微电路，数字-线性，CMOS，12 位，数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-95616 REV A-2010 微电路，数字线性，16 位，双数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-07226 REV B-2010 微电路，数字-线性，CMOS，12 位，数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-07226 REV C-2010 微电路，数字-线性，CMOS，12 位，数模转换器，单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/03609 REV B-2012 微电路，数字-线性，CMOS，12 位，模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-07226 REV D-2012 微电路，数字-线性，CMOS，12 位，数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-88743 REV C-2008 微电路，线性，8 位 CMOS 闪存 A/D 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-89653 REV B-2009 微电路，线性，CMOS，8 位视频 D/A 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-87806 REV D-2011 微电路、数字、高速 CMOS、具有三态输出的 8 位通用移位寄存器、单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/04696 REV A-2010 微电路，数字，具有 3 个状态输出寄存器的 8 位移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-89697 REV B-2001 硅单片,16位电压输出数字模拟转换器,线性微型电路
• DLA SMD-5962-94662-1995 硅单片,10位电压输出直流/交流转变器,线性微型电路
• DLA SMD-5962-88663 REV B-2013 微电路，线性，八进制，电压模式，8 位 D/A 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-89517 REV A-1994 硅单片16位片状微处理器互补型金属氧化物半导体数字微电路
• DLA SMD-5962-00504-2001 单片硅数字线性微电路模数转换器 8位 1 GSPS
• DLA SMD-5962-89629 REV A-2001 硅单片,8位模拟输入输出系统,数字微型电路
• DLA SMD-5962-89680 REV C-2005 硅单片,总线收发器八位总接口,线性微型电路
• DLA SMD-5962-89681 REV D-2006 硅单片,总线收发器八位总接口,线性微型电路
• DLA SMD-5962-87786 REV B-2004 硅单片6位视频A/D模数转换器线性微电路
• DLA SMD-5962-88546 REV B-1991 硅单片移位寄存器肖特基TTL促进数字微电路
• DLA SMD-5962-90513-1990 硅单片,奇偶位总线收发器,双极数字微型电路
• DLA SMD-5962-88605 REV B-2001 硅单片双极高性能10位缓冲双极数字微电路
• DLA SMD-5962-82010 REV H-2010 微电路、存储器、数字、NMOS、65,536 x 1 位动态 RAM、单片硅
• DLA MIL-M-38510/57 F VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、CMOS、静态移位寄存器、单片硅、正逻辑
• DLA SMD-5962-77030 REV C-2009 微电路，数字，TTL，6 位二进制到 BCD 转换器，单片硅
• DLA MIL-M-38510/476 A VALID NOTICE 3-2010 微电路、数字、CMOS 4 位总线缓冲器/分离器、单片硅
• DLA MIL-M-38510/765 A VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、高级 CMOS、移位寄存器、单片硅、正逻辑
• DLA SMD-5962-85519 REV D-2011 微电路，数字，高速 CMOS，8 位可寻址锁存器，单片硅
• DLA SMD-5962-02538 REV C-2008 微电路，数字线性，12 位，41 MSPS 模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-04230 REV A-2008 微电路，数字-线性，A/D 转换器，14 位，80 MSPS，单片硅
• DLA SMD-5962-01507 REV A-2008 微电路、数字、双极、高速前瞻进位发生器、单片硅
• DLA SMD-5962-08201-2009 微电路，数字-线性，16 位，30 MSPS，数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-05217 REV B-2009 微电路，数字线性，12 位 50 MSPS 模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-00511 REV A-2010 微电路、数字-线性、14 位、8 MSPS、模数转换器、单片硅
• DLA DSCC-VID-V62/10609-2010 微电路，数字线性，12 位，250 MSPS，模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-84070 REV E-2011 微电路，数字，高速 CMOS，双 2 位透明锁存器，单片硅
• DLA SMD-5962-02538 REV D-2012 微电路，数字线性，12 位，41 MSPS 模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-07208 REV A-2012 微电路，数字-线性，12 位，500 MSPS，模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-09240 REV A-2012 微电路，数字线性，12 位，1 GSPS，模数转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-90632 REV B-2012 微电路，数字-线性，模拟-数字转换器，12 位，单片硅
• DLA SMD-5962-04230 REV C-2013 微电路，数字-线性，A/D 转换器，14 位，80 MSPS，单片硅
• DLA SMD-5962-07247 REV A-2013 微电路，数字线性，14 位，2.4 GSPS 数模转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-89828 REV B-2009 微电路，线性，视频 A/D 转换器，4 位，25 MSPS，单片硅
• DLA SMD-5962-95639 REV B-2009 微电路，线性，精密，单位增益差分放大器，单片硅
• DLA SMD-5962-94670 REV A-2009 微电路，线性，高速，视频，8 位，D/A 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-96758 REV C-2010 微电路，线性，175 MHZ，64 位，视频接口调色板，单片硅
• DLA SMD-5962-94633 REV B-2013 微电路，线性，16 位串行/字节 D/A 转换器，单片硅
• DLA SMD-5962-90916 REV B-2008 单片硅8位数值比较器改进的CMOS数字微电路
• DLA SMD-5962-94677 REV A-2002 极速的硅单片输出箝位电路电流反馈(回授)放大线型微电路
• DLA SMD-5962-90501 REV B-2013 微电路，数字，高速 CMOS，8 位串行/并行输入，串行输出移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-90502 REV A-2010 微电路，数字，双极性，高级肖特基，TTL，8 位双向通用移位寄存器，单片硅
• DLA SMD-5962-88663 REV A-2002 硅单片8位D/A转换器电压模式八进制数线性微电路
• DLA SMD-5962-87641 REV A-2008 单片硅锁存驱动器,串行输入BIMOS 8位的线性微电子电路
• DLA SMD-5962-00511-2001 单片硅数字线性微电路 14位8MSPS模拟向数字转换

国际标准化组织，关于电位测试片的标准

• ISO 7456:1984 电影 超8mmⅡ型有声电影摄影机胶片盒 装片位置
• ISO 1223:1993 电影技术.供电视用电影胶片和幻灯片的画面.位置和尺寸
• ISO 1223:1981 电影技术.电视用电影胶片和幻灯片的画面区域.位置和尺寸
• ISO 1223:1985 电影技术.电视用影片和幻灯片的画面区域.位置和尺寸
• ISO 1223:2003 电影技术.电视用影片和幻灯片的画面区域.位置和尺寸
• ISO 466:1976 电影 16mm电影摄影机片窗在胶片上形成的画面 位置和尺寸
• ISO 1780:1984 电影 超8mmⅠ型电影摄影机胶片盒 片窗、摄影机片窗形式、胶片位置和压片板及压片板平直度 尺寸和规范
• ISO 6038:1993 电影 70mm、65mm、35mm和16mm电影影片接头 尺寸和位置
• ISO 5768:1998 电影 16mm W型电影摄影机片窗在胶片上形成的画面 位置和尺寸
• ISO 1785:1972 电影 打有超8mm(1-4)型胶片片孔的16mm电影胶片上的超8mm画面区域 位置和尺寸
• ISO 1785:1983 电影 打有超8mm(1-4)型胶片片孔的16mm电影胶片上的超8mm画面区域 位置和尺寸
• ISO 3775:1990 电影 在打有超8mm(1-3)片孔胶片的16mm电影胶片上印制超8mm画面区域 位置和尺寸
• ISO 17475:2005 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.静电位和动电位偏振测量导则
• ISO 71:2014 电影 16mm、35/16mm和 35/32mm电影胶片上16mm光学声带负片的录音 位置和尺寸
• ISO 71:1977 电影 16mm、35/16mm和 35/32mm电影胶片上16mm光学声带负片的录音 位置和尺寸
• ISO 5768:1981 电影技术.W 型电影摄影机片窗在16mm电影胶片上所形成的影象.位置和尺寸
• ISO/TS 19979:2004 眼科光学.接触镜片.由多位患者试用的接触镜片的卫生管理
• ISO/TS 19979:2014 眼科光学.接触镜片.由多位患者试用的接触镜片的卫生管理
• ISO 2906:1984 电影技术.用电影摄影机片窗在胶片35mm上所形成的影象区.位置和尺寸
• ISO 5768:1996 电影技术.W 型电影摄影机片窗在16mm电影胶片上所形成的影象的位置和尺寸
• ISO 12611:2004 电影.用于国际素材交换的35mm磁片带头检测信号.规范和位置
• ISO/PRF 13100:2023 Zeta 电位测定方法
• ISO 3025:1974 电影技术.8mm S型II型电影摄影机墨盒.胶片装载位置
• ISO 3646:1976 电影 超8mmⅡ型电影摄影机胶片盒 沟槽、凸体及用于指示胶电感光度、彩色平衡、胶片识别片盒孔 尺寸和位置
• ISO 17475:2005/cor 1:2006 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.静电位和动电位偏振测量导则.技术勘误1
• ISO 3026:1992 电影 在打有超8mm 2R-4.227(1664)或者5R-4.234(1667)胶片片孔的35mm电影胶片上印制超8mm画面区域 位置及尺寸
• ISO/DIS 13100 zeta 电位测定方法 多孔材料的流电位法和流电流法
• ISO 70:1981 电影 35mm电影光学声带负片的录音 位置和最大宽度尺寸
• ISO 3067:1975 电影 超8mmⅠ型电影摄影机胶片盒 胶片感光速度、胶片标志及彩色平衡滤色器的缺口标记 尺寸和位置
• ISO 3067:1983 电影 超8mmⅠ型电影摄影机胶片盒 胶片感光速度、胶片标志及彩色平衡滤色器的缺口标记 尺寸和位置
• ISO 6778:1984 水质 铵的测定 电位测定法

行业标准-机械，关于电位测试片的标准

• JB/T 5469-1991 单片电工钢片(带)比总损耗测试仪
• JB/T 9413-2014 16mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸
• JB/T 9413-1999 16mm,32/16mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸
• JB/T 6065-2004 无损检测 磁粉检测用试片
• JB/T 9411-2014 16mm电影发行正片画面和光学声带的位置和尺寸

国家计量检定规程，关于电位测试片的标准

• JJG(民航) 0068-2001 856A1214P03型发动机可调静子叶片位置传感测试仪
• JJG(电子) 05011-1988 WZC-1A型电位器综合测试仪试行检定规程
• JJG(邮电) 043-1998 相位抖动测试仪（PDH）

美国电影与电视工程师协会，关于电位测试片的标准

• SMPTE ST 183M-1996 电影胶片 摄影音频电平测试胶片 光电输出因数的测量
• SMPTE 198-2003 电影胶片(8 mm S型). 50 ft 1型录音摄影机片盒.光圈,压片和胶片位置
• SMPTE 159.2-2001 电影胶片(8 mm S型). 1型摄影机片盒.光圈,结构,胶片位置,压片和胶片平直度
• SMPTE 183M-1996 电影胶片.摄影音频水平的试验片.光电输出因素的测量
• SMPTE 83-1996 电影胶片(16 mm).片边号码,位置和间隔.ANSI/SMPTE 83-1990修订版
• SMPTE 97-2004 电影胶片(16 mm).200密耳边缘位置.磁录音
• SMPTE RP 77-2004 35 mm工作室还音器(磁型)方位角试验片规范
• SMPTE RP 78-2002 16 mm工作室还音器(磁型)方位角试验片规范
• SMPTE ST 83-1996 对于电影胶片（16 毫米） 边缘编号 位置和间距
• SMPTE 97-1999 电影胶片（16 毫米） 200 密耳边缘位置 磁性录音
• SMPTE 218M-1996 电影胶片（16 毫米） 200 密耳中心位置磁性录音
• SMPTE ST 218M-1996 电影胶片（16 毫米） 200 密耳中心位置磁性录音
• SMPTE ST 97-2004 电影胶片（16 毫米） 200 密耳边缘位置 磁性录音
• SMPTE RP 77-1994 用于 35 毫米录音室音频复制器的方位角测试胶片规范，磁性类型

黑龙江省地方标准，关于电位测试片的标准

• DB23/T 2074-2018 用电单位电能平衡测试规范

德国标准化学会，关于电位测试片的标准

• DIN 15630:1982 16mm电影胶片.胶片相对于照相机快门的定位.基准穿孔的位置
• DIN 15576-1:1980-09 电影胶片和磁性胶片的命名；电影胶片上的卷绕方向和层位置
• DIN 49580:1985 电信工程.４插孔的１０位置插孔簧片
• DIN EN ISO 17475:2008-07 金属和合金的腐蚀-电化学测试方法-进行恒电位和动电位极化测量的指南
• DIN 16726:2017-08 塑料片材 测试
• DIN ISO 3310-3:1992-02 测试筛；技术要求和测试；电铸片试验筛；与 ISO 3310-3:1990 相同
• DIN 28088:2016-05 用于过程容器接地和电位均衡的连接片
• DIN 15576-6:1977-12 电影胶片的指定；图像和声音乳剂的位置
• DIN EN ISO 19071:2016-07 皮革 化学测试 铬（VI）和铬鞣剂还原电位的测定
• DIN 52913:2002-04 法兰连接静态垫片测试 板材垫片的压缩蠕变测试
• DIN EN ISO 17475:2008 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.实施静电位和动电位的极化测定用指南
• DIN EN ISO 8289:2001 釉瓷和搪瓷.缺陷检测和定位低电压试验
• DIN 45549:1980 跟踪能力测试唱片
• DIN 15576-1:1980 电影胶片和磁膜的标识.卷绕方向和分层位置
• DIN IEC 60404-3 Berichtigung 1:2010-09 磁性材料 第3部分：用单片测试仪测量电工钢带和片材磁性能的方法
• DIN IEC 60404-3:2010-05 磁性材料 第3部分：通过单片测试仪测量电工钢带和片材磁性能的方法

美国材料与试验协会，关于电位测试片的标准

• ASTM D6470-99(2004) 原油中盐的标准测试方法(电位滴定位)
• ASTM D6470-99 原油中盐的标准测试方法(电位滴定位)
• ASTM G5-94(2004) 作静电位标记和动电位阳极极化测量的基准测试方法
• ASTM G5-94(1999)e1 作静电位标记和动电位阳极极化测量的基准测试方法
• ASTM G192-08(2020)e1 用动电位恒电位技术测定耐腐蚀合金缝隙再钝化电位的标准试验方法
• ASTM G5-94 恒电位和动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
• ASTM G5-94(1999) 恒电位和动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
• ASTM F2939-13(2019) 高电压相位测试仪的标准规范
• ASTM F2939-13 高电压相位测试仪的标准规范
• ASTM F2939-13(2019)e1 高电压相位测试仪的标准规范
• ASTM G59-97(2003) 用于进行电位极化电阻测量的标准测试方法
• ASTM G59-97(2020) 用于进行电位极化电阻测量的标准测试方法
• ASTM G5-94(2011)e1 制定恒电位和动电位阳极极化测量值的标准参考试验方法
• ASTM F1680-96 确定膜片开关电路电阻的标准测试方法
• ASTM D3380-90(2003) 塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法
• ASTM G59-23 进行电位动态极化电阻测量的标准试验方法
• ASTM G69-97(2003) 铝合金腐蚀电位测量的标准试验方法
• ASTM G69-97 铝合金腐蚀电位测量的标准试验方法
• ASTM G69-20 铝合金腐蚀电位测量的标准试验方法
• ASTM D1498-14 测定水的氧化还原电位标准试验方法
• ASTM G192-08(2014) 用动电位-恒电流-恒电位技术测定耐腐蚀合金潜在缝隙腐蚀的标准试验方法
• ASTM G192-08 用动电位-恒电流-恒电位技术测定耐腐蚀合金潜在缝隙腐蚀的标准试验方法
• ASTM G215-17 电极电位测量标准指南
• ASTM D8126-17 通过电位滴定法测定有效碱度的标准测试方法
• ASTM D1498-08 测定水的氧化还原电位的标准试验方法
• ASTM D4739-17 用电位滴定法测定碱值的标准试验方法
• ASTM D6470-99(2010) 原油中盐的标准试验方法(电位滴定位)
• ASTM F1689-05(2020) 确定膜片开关绝缘电阻的标准测试方法
• ASTM G215-16 电极电位测量的标准指南
• ASTM C1108-22 用受控电位库仑法测定钚的标准试验方法
• ASTM D2710-99 电位滴定法测定石油烃溴指数的试验方法
• ASTM G200-09 土壤氧化还原电位(ORP)测量的标准试验方法
• ASTM G200-20 土壤氧化还原电位（ORP）测量的标准试验方法
• ASTM G5-14(2021) 动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
• ASTM D7952-15(2021) 测量气溶胶产品吸入电位的标准试验方法
• ASTM C1108-23 用控制电位库仑法测定钚的标准试验方法
• ASTM D2710-99(2004)e1 电位滴定法测定石油烃溴指数的试验方法
• ASTM D6470-99(2020) 原油盐试验方法（电位法）
• ASTM D6470-99(2015) 原油盐试验方法（电位法）

(美国)海军，关于电位测试片的标准

• NAVY MS90367 NOTICE 2-1998 车轮垫片位置的电子指示器
• NAVY MS90367 VALID NOTICE 1-1987 车轮垫片位置的电子指示器
• NAVY MS90367-1965 车轮垫片位置的电子指示器
• NAVY MIL-T-81541 (1)-1969 AN/ASM-152电子电路插件单位测试设置
• NAVY MIL-T-81541-1967 AN/ASM-152电子电路插件单位测试设置

国家质检总局，关于电位测试片的标准

• GB/T 13789-2008 用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法
• GB/T 13789-2022 用单片测试仪测量电工钢带(片)磁性能的方法
• GB/T 4643-2002 16mm电影负片光学声迹的位置和尺寸
• GB/T 13920-1992 35mm电影-主观检验片(彩色测试图)
• GB/T 13920-2015 35mm电影 主观检验片(彩色测试图)
• GB/T 26827-2011 波片相位延迟测量装置的校准方法
• GB/T 4635-2000 35mm电影摄影机片窗在胶片上形成的画面的位置和尺寸
• GB/T 4642-1984 16mm电影摄影机片窗在胶片上所形成的影象位置和尺寸
• GB/T 24196-2009 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.恒电位和动电位极化测量导则
• GB/T 5298-1985 35mm电影遮幅法影片画面的位置及尺寸
• GB 5298-1985 35mm电影遮幅法影片画面的位置及尺寸
• GB/T 5300-1994 70mm、65mm、35mm 16mm电影影片接头的尺寸和位置
• GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
• GB 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
• GB 3320.3-1982 抖晃度测试唱片
• GB/T 3320.3-1982 抖晃度测试唱片
• GB 3320.4-1982 转盘噪声测试唱片
• GB/T 3320.4-1982 转盘噪声测试唱片
• GB/T 3320.1-1987 频率响应测试唱片
• GB/T 2522-2007 电工钢片(带)表面绝缘电阻、涂层附着性测试方法
• GB/T 13789-1992 单片电工钢片(带)磁性能测量方法
• GB/T 23907-2009 无损检测.磁粉检测用试片

CZ-CSN，关于电位测试片的标准

• CSN ONA 02 8490-1967 控制电缆连接．控制电缆工位终端片
• CSN 58 8792-1994 油脂测试方法．电位迹象测定羟值
• CSN 58 8764-1994 油脂测试方法．电位迹象测定皂化价
• CSN 64 0181-1986 胶片及薄片厚度测试方法
• CSN 42 0557 Cast.1-1987 硅锰．电位法测定锰

KR-KS，关于电位测试片的标准

• KS A ISO 6038-2003(2023) 电影技术70mm、65mm、35mm和16mm电影胶片用剪接片尺寸和位置
• KS A ISO 71-2018(2023) 电影技术.16mm、35/16mm和35/32mm电影胶片的16mm负片录音位置和尺寸
• KS A ISO 8400-2003(2023) 电影技术.16mm电影胶片乳剂表面的位置识别
• KS D ISO 17475-2017 金属和合金的腐蚀电化学试验方法恒电位和动电位极化测量指南
• KS D ISO 17475-2023 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.进行恒电位和动电位极化测量的指南
• KS A ISO 359-2003(2023) 电影技术.16mm电影胶片上的可投影图像区域.尺寸和位置

(美国)福特汽车标准，关于电位测试片的标准

• FORD FLTM BI 007-1-2001 涂漆面板的芯片电阻测试
• FORD FLTM EU-BI 007-1-2001 涂漆面板的芯片电阻测试

行业标准-黑色冶金，关于电位测试片的标准

• YB/T 4148-2006 电工钢片(带)小单片试样磁性能测量方法
• YB/T 4292-2012 电工钢带（片）几何特性测试方法

AENOR，关于电位测试片的标准

• UNE 80213:2010 水泥测试方法 氯化物的电位测定
• UNE-EN ISO 17475:2009 金属和合金的腐蚀 电化学测试方法 恒电位和动电位极化测量指南（ISO 17475:2005/Cor 1:2006）

行业标准-水利，关于电位测试片的标准

• SL 94-1994 氧化还原电位的测定(电位测定法)

印度尼西亚标准，关于电位测试片的标准

• SNI 18-2031-1990 核能电厂. 位置测试方法指南
• SNI 09-1412-1989 机动车座位测试与定位设备

美国电子元器件、组件及材料协会，关于电位测试片的标准

• ECA 213-1958 印制电路组件的测试点定位
• ECA EIA-364-99-1999 TP-99 电连接器的测试仪布置和固位试验程序

IN-BIS，关于电位测试片的标准

• IS 4434-1978 土壤原位叶片剪切试验操作规程
• IS 5266-1969 400 Hz 信号电平测试胶片规格
• IS 5265-1969 16 毫米声画电影放映机测试胶片的规范
• IS 5263-1969 16 毫米声画电影放映机测试胶片的规范
• IS 5262-1969 16 毫米声画电影放映机测试胶片的规范

SE-SIS，关于电位测试片的标准

• SIS SS 988-1988 转位硬质合金刀片．尺寸测量m
• SIS SS 988-1981 转位硬质合金刀片．尺寸测量m
• SIS SMS 988-1965 合金工具．可转位刀片．尺寸测量
• SIS SS IEC 346:1983 核检测仪表．放射性同位元素配电继电器（术语，分类，测试方法）
• SIS SS 3165-1988 制图胶片．粗糙面聚酯制图胶片．测试

韩国科技标准局，关于电位测试片的标准

• KS C 6424-1999(2020) 用于电子设备的电位计的测试方法
• KS C 2140-2003 铁电质相位转变温度测试方法
• KS P 4402-2007 测试镜片组
• KS A ISO 466:2003 电影摄影.16mm电影摄影机片窗在胶片上形成的画面.位置和尺寸
• KS F 2712-2017 混凝土中钢筋半坑电位测试方法
• KS A ISO 5768:2003 电影摄影.16mm.W型电影摄影机片窗在胶片上形成的画面.位置和尺寸
• KS A ISO 70-2002(2022) 电影摄影.35mm电影胶片上的35mm单音负片录音位置和最大宽度尺寸
• KS D ISO 17475-2017(2022) 金属和合金的腐蚀电化学试验方法恒电位和动电位极化测量指南
• KS A ISO 1223-2010(2020) 电影技术电视用电影胶片的图像区域位置和尺寸
• KS A ISO 6038:2003 电影摄影.70mm、65mm、35mm和16mm电影影片接头.尺寸和位置
• KS P ISO TS 19979:2006 眼科光学.接触镜片.由多位患者试用的接触镜片的卫生管理
• KS A ISO 12611:2002 电影摄影.国际素材交换的35mm磁片带头检测信号.规范和位置
• KS A ISO 71:2003 电影摄影.16mm、35/16mm和.35/32mm电影胶片上16mm光学声带负片的录音.位置和尺寸
• KS A ISO 70-2002(2017) 电影技术－35mm电影胶片上35mm单声道负片摄影声音记录－位置和最大宽度尺寸
• KS C 5514-2005 16MM标准磁声测试片
• KS C 5514-1982 16MM标准磁声测试片
• KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
• KS D 0269-2020 测定临界点蚀温度为不锈钢的电位极化测试方法
• KS I ISO 6778:2007 水质.铵的测定.电位测定法

法国标准化协会，关于电位测试片的标准

• NF C28-913:2007 磁性材料.用单片测试仪测定电工钢片和电工钢带磁性的方法
• NF T90-008:1953 水的试验.PH值的玻璃电极电位计测定
• NF T90-004:1985 水的试验.氟离子含量的测定.电位计法
• NF A05-403*NF EN ISO 17475:2008 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.恒电位和动电位极化测量的实施指南
• NF EN 50147-2:1997 电波暗室 - 第 2 部分：替代测试位置相对于位置衰减的适用性

日本工业标准调查会，关于电位测试片的标准

• JIS C 2556:2015 采用单片测试仪测量电工钢带和钢片磁性能的方法
• JIS Z 2359:2021 应变片测试原理
• JIS B 4126-1:2016 转位式刀片矩形柄刀架. 第1部分: 通用测量

美国电气电子工程师学会，关于电位测试片的标准

• SMPTE ST 183:1996 ST 183:1996 SMPTE 标准 电影胶片“摄影音频电平测试胶片”光电输出因子的测量
• ANSI/IEEE Std 421B-1979 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准
• IEEE Std 421.3-1997 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准
• IEEE Std 421.3-2016 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准 Redline
• IEEE 421.3 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准草案
• IEEE P421.3/D01, February 2015 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准草案
• IEEE P421.3/D032, February 2015 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准草案
• P421.3/D021, February 2015 同步电机励磁系统高电位测试要求的 IEEE 标准草案

行业标准-电子，关于电位测试片的标准

• SJ/T 10866-1996 盘封管电性能测试方法 频率位置的测试方法
• SJ 3260-1989 音叉、音片谐振器电性能测试方法
• SJ 816-1974 辉光放电计数管复位性能的测试方法
• SJ 2534.8-1986 天线测试方法.相位测量

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于电位测试片的标准

• IEEE 421B-1979 同步电机励磁系统的高电位测试要求
• IEEE 421.3-2016 同步电机励磁系统的高电位测试要求

英国标准学会，关于电位测试片的标准

• BS ISO 1223:2003 电影技术.电视用影片画面.位置和尺寸规格
• BS DD ISO/TS 19979:2005 眼科光学.接触镜片.由多位患者试用的接触镜片卫生管理
• BS PD ISO/TS 19979:2014 眼科光学.接触镜片.由多位患者试用的接触镜片卫生管理
• BS EN IEC 60404-3:2022 磁性材料 用单片测试仪测量电工钢带和片材磁性能的方法
• BS ISO 5768:1999 电影技术.16mm W型电影摄影机片窗在胶片上形成的影象.位置和尺寸
• 12/30260379 DC BS EN 61196-1-111 同轴通讯电缆 电气测试方法 相位稳定性测试方法
• BS ISO 1785:1983 电影技术.穿孔8mm、S(1-4)型16mm电影胶片正片的8mm、S型画面.位置和尺寸
• BS ISO 1785:1996 电影技术 穿孔8mm、S（1-4）型16mm电影胶片正片的8mm、S型画面 位置和尺寸
• BS ISO 70:1981 电影摄影术.35mm电影胶片的单声道35mm负片摄影录音.位置和最大宽度尺寸
• BS ISO 70:1995 电影摄影术 35mm电影胶片的单声道35mm负片摄影录音 位置和最大宽度尺寸
• BS ISO 2907:2003 电影.35mm电影胶片上最大可放映画面区域.位置和尺寸
• 22/30383603 DC BS IEC 63215-4 电力电子器件芯片粘接材料的耐久性测试方法第4部分：模块型电力电子器件芯片粘接材料（近芯片互连）的功率循环测试方法
• BS 2000-136.2:1999 石油及其制品的试验方法.皂化值的测定.电位滴定法.第136.2节:电位滴定法
• BS 2000-136-2:1999 石油及其产品的试验方法 皂化值的测定 电位滴定法 第136.2节：电位滴定法
• BS ISO 6038:1995 电影技术.70mm、65mm、35mm和16mm电影胶片使用的拼接.尺寸和位置
• PD IEC TS 62804-2:2022 光伏(PV)模块 检测电位引起的降解的测试方法 薄膜
• BS 4401-16:1996 肉和肉制品的测试方法 氯化物含量的测定（电位法）
• BS ISO 71:2014 电影技术. 在16 mm, 35/16 mm和35/32 mm电影胶片上的16 mm负片光学声带. 位置和尺寸
• BS ISO 12611:2004 电影.用于国际素材交换的35 mm模拟磁片带头检测信号.规范和位置

辽宁省标准，关于电位测试片的标准

• DB21/T 2837-2017 高分子防水材料复合片（FS2）单位面积质量现场测试方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于电位测试片的标准

• IPC TM-650 5.5.4.8-1998 试片 D 电迁移电阻
• IPC TM-650 5.5.4.12-1998 试片 L 线电阻率
• IPC TM-650 5.5.4.9-1998 试片 G 通过电阻率

HU-MSZT，关于电位测试片的标准

• MSZ 101/20.lap-1964 试验方法织物织造布抗皱提升电位测试
• MI 9250/2-1981 绝缘配位指导原则．试验电压检测
• MSZ KGST 2413-1980 电力手动切片剪的工业要求和测试

行业标准-能源，关于电位测试片的标准

• NB/T 35102-2017 水电工程钻孔土工原位测试规程
• NB/T 20209-2013 核电厂棒位探测器敏感元件型式试验

行业标准-环保，关于电位测试片的标准

• HJ 746-2015 土壤 氧化还原电位的测定 电位法

国家机械工业局，关于电位测试片的标准

• JB/T 9417-1999 35mm电影光学声底片音迹的位置和尺寸

TR-TSE，关于电位测试片的标准

• TS 1861-1975 电影摄影．电影安全胶片．定义、测试和标志

工业和信息化部，关于电位测试片的标准

• SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
• SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
• SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
• SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法

立陶宛标准局，关于电位测试片的标准

• LST EN ISO 17475:2008 金属和合金的腐蚀 电化学测试方法 恒电位和动电位极化测量指南（ISO 17475:2005/Cor 1:2006）

国际电工委员会，关于电位测试片的标准

• IEC 60404-3:2010 电磁材料.第3部分:用单片钢板测试仪测量电钢带和钢片磁性能的方法

美国办公家具协会，关于电位测试片的标准

• BIFMA X5.4-2005 休息室座位 测试

(美国)军事条例和规范，关于电位测试片的标准

• ARMY MIL-S-70941 A VALID NOTICE 2-2013 系统测试单位：12922091

台湾地方标准，关于电位测试片的标准

• CNS 5171-1980 ３５公厘电影负片音轨之位置与宽度尺度
• CNS 14502-2001 钢及钢制品-机械试验用供试样及试片之采取位置和制备
• CNS 7631-1981 多薄片样品之表面绝缘电阻系数测试法

美国国家标准学会，关于电位测试片的标准

• ANSI/ASTM D3380:2010 塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法
• ANSI/ASA S12.69-2010 铁路角对位测试规程
• ANSI/ASTM D664:2009 电位滴定法测定石油产品酸值的试验方法

IT-UNI，关于电位测试片的标准

• UNI 6497-1969 电影摄影机胶片上的影像和投影影像的尺寸和位置．8mm胶片

美国国防部标准化文件（含MIL标准），关于电位测试片的标准

• DOD A-A-54065-1990 显微镜滑片(测试)
• DOD A-A-53836-1989 酚红PH测试药片

WRC - Welding Research Council，关于电位测试片的标准

• BULLETIN 431-1998 垫片蒸汽泄漏测试总结：I）垫片蒸汽泄漏测试； II）对石墨垫片进行的泄漏测试； III）弹性片材垫片材料的长时间空气和蒸汽筛选测试
• BULLETIN 233-1977 垫片系数测试报告

欧洲标准化委员会，关于电位测试片的标准

• EN ISO 17475:2008 金属和合金的腐蚀.电化学试验方法.恒电位和动电位极化测量的实施指南

丹麦标准化协会，关于电位测试片的标准

• DS/EN ISO 17475:2009 金属和合金的腐蚀 电化学试验方法 进行恒电位和动电位极化测量的指南

美国冷却塔协会，关于电位测试片的标准

• CTI STD-149-2000 腐蚀测试程序.腐蚀试片测试和测试设备

ES-UNE，关于电位测试片的标准

• UNE-EN ISO 19071:2016 皮革 化学测试 铬(VI)和铬鞣剂还原电位的测定
• UNE-EN IEC 60404-3:2022 磁性材料 第3部分：通过单片测试仪测量电工钢带和片材磁性能的方法

国际电信联盟，关于电位测试片的标准

• ITU-T O.81 NOTE-2000 快速测量振幅和电话型电路相位的信号测量(多频测试信号)
• ITU-T O.81 NOTE SPANISH-2000 快速测量振幅和电话型电路相位的信号测量(多频测试信号)
• ITU-T O.81 NOTE FRENCH-2000 快速测量振幅和电话型电路相位的信号测量(多频测试信号)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电位测试片的标准

• GB/T 2522-2017 电工钢带(片)涂层绝缘电阻和附着性测试方法

美国通用公司（欧洲），关于电位测试片的标准

• GME R-10B-23-2008 轮胎胎圈脱位测试

行业标准-海洋，关于电位测试片的标准

• HY/T 192-2015 海水环境中金属材料动电位极化电阻测试方法

美国焊接协会，关于电位测试片的标准

• WRC 233:1977 垫片系数测试报告

欧洲电工标准化委员会，关于电位测试片的标准

• EN IEC 60404-3:2022 磁性材料 第3部分：用单片测试仪测量电工钢带和薄片磁性能的方法

YU-JUS，关于电位测试片的标准

• JUS N.R2.602-1980 钽薄片电容器．测试方法选择及一般要求
• JUS N.R4.493-1989 电子设备用机电元件．测试方法．试验16p：固定凸片的扭曲强度
• JUS N.M2.131-1988 家用电器．洗碗机．类型、位置设置和餐具测试
• JUS N.R3.501-1979 电位器．术语与试验方法

美国电子元器件、组件及材料协会，关于电位测试片的标准

• ECA RS-448-4-1980 机电开关标准测试方法.(逻辑(TTL)位准耐久性和低位准耐久性测试方法).RS-448标准附录4
• ECA EIA-970-2013 低电感多层陶瓷片式电容器高频特性的测试程序

美国声协会，关于电位测试片的标准

• ASA S12.69-2010 铁路角对位测试规程

ATIS - Alliance for Telecommunications Industry Solutions，关于电位测试片的标准

• 0500035-2017 可调度位置测试指南

行业标准-航天，关于电位测试片的标准

• QJ 2941-1997 中低频相位测试方法

ECIA - Electronic Components Industry Association，关于电位测试片的标准

• EIA-970-2013 低电感多层陶瓷片式电容器高频特性的测试程序

JSAE - Society of Automotive Engineers of Japan@ Inc.，关于电位测试片的标准

• JASO C458-1986 汽车刹车片 垫片和离合器面片的 pH 值测试程序

本站其他标准专题： 电位测试片，测电位，电位测，恒电位仪 测试片，电位测法，电位窗口测，电位怎么测，电位仪测什么，半电位怎么测，零电位怎么测，ph计测电位，半峰电位怎么测，电位怎么测 用哪个，电位滴定仪测，怎么测零点电位，电位滴定仪测什么，电位滴定法测镉，电位滴定法测含量，自动电位滴定仪测钴，自动电位滴定仪测什么。

 

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