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质谱+ 分子

本专题涉及质谱+ 分子的标准有35条。

国际标准分类中,质谱+ 分子涉及到分析化学、教育、核能工程、水质、橡胶和塑料用原料。

在中国标准分类中,质谱+ 分子涉及到基础标准与通用方法、化学、教学专用仪器、化学试剂综合、核仪器与核探测器综合、合成橡胶基础标准与通用方法、核材料、核燃料综合。


英国标准学会,关于质谱+ 分子的标准

  • BS ISO 20411:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数动态二次离子质谱饱和强度校正方法
  • BS ISO 17862:2022 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
  • 20/30409963 DC BS ISO 17862 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
  • BS ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
  • BS ISO 23812:2009 表面化学分析.次级离子质谱分析法.用多δ层基准物质对硅进行深度校准的方法
  • BS ISO 22415:2019 表面化学分析 二次离子质谱分析 有机材料氩簇溅射深度剖析中产量体积的测定方法
  • BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
  • BS ISO 16564:2004 天然橡胶.用粒度分离色谱法测定平均分子质量和分子质量分布

国际标准化组织,关于质谱+ 分子的标准

  • ISO/TS 22933:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
  • ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
  • ISO 12406:2010 表面化学分析.二次离子质谱分析法.硅中砷的深度剖析法
  • ISO 13084:2018 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
  • ISO 16564:2004 天然橡胶.由尺寸排除色谱法测定平均分子质量和分子质量分布
  • ISO 22048:2004 表面化学分析——静态二次离子质谱信息格式

KR-KS,关于质谱+ 分子的标准

法国标准化协会,关于质谱+ 分子的标准

  • NF ISO 17560:2006 表面化学分析 二次离子质谱分析 通过厚度分析确定硅中硼的剂量
  • NF ISO 14237:2010 表面化学分析 二次离子质谱分析 使用均匀掺杂材料的硅中硼原子的剂量
  • NF X21-066*NF ISO 23812:2009 表面化学分析 次级离子质谱分析法 用多δ层参考物质对硅进行深度校准的方法
  • NF EN ISO 22125-2:2019 水质 - Technetium-99 - 第 2 部分:质谱联用诱导等离子体测试方法)

美国材料与试验协会,关于质谱+ 分子的标准

  • ASTM E1504-11 次级离子质谱分析法中报告质谱数据的标准操作规程
  • ASTM C1476-00 感应耦合等离子质谱法分析锝99用尿的标准试验方法
  • ASTM E1162-11 报告次级离子质谱分析法(SIMS)中溅深深度文件数据的标准操作规程
  • ASTM C1476-06 感应耦合等离子体质谱法分析锝-99用尿的标准试验方法

行业标准-教育,关于质谱+ 分子的标准

日本工业标准调查会,关于质谱+ 分子的标准

  • JIS K 0164:2023 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度分析方法
  • JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于质谱+ 分子的标准

  • GB/T 39486-2020 化学试剂 电感耦合等离子体质谱分析方法通则
  • GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准

AT-ON,关于质谱+ 分子的标准

台湾地方标准,关于质谱+ 分子的标准

  • CNS 8413-2002 核能级硝酸钸溶液之化学、质谱、分光化学、核子及放射化学分析法

澳大利亚标准协会,关于质谱+ 分子的标准

  • AS 4873.1:2005 感应耦合等离子体.质谱分析法(ICP-MS)的建议规范.原则和技术

韩国科技标准局,关于质谱+ 分子的标准

  • KS M ISO 16564:2007 天然橡胶.由尺寸排除色谱法测定平均分子质量和分子质量分布




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