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电子显微镜基本参数
本专题涉及电子显微镜基本参数的标准有21条。
国际标准分类中，电子显微镜基本参数涉及到光学和光学测量、光学设备、电子管、集成电路、微电子学、空气质量、煤、半导体分立器件、分析化学。
在中国标准分类中，电子显微镜基本参数涉及到电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、光学仪器综合、公共医疗设备、煤炭分析方法、电子元件综合、半导体分立器件综合。
行业标准-机械，关于电子显微镜基本参数的标准
- JB/T 5586-1991 透射电子显微镜分类和基本参数
RO-ASRO，关于电子显微镜基本参数的标准
- STAS 7353/2-1975 显微镜基本参数
- STAS 7353/5-1982 显微镜．基本光学参数
SE-SIS，关于电子显微镜基本参数的标准
- SIS SS CECC 00013-1985 基本规范．半导体芯片的扫描电子显微镜观察
美国材料与试验协会，关于电子显微镜基本参数的标准
- ASTM E766-98(2003) 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
- ASTM E2090-00 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM E2090-12 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM E766-14(2019) 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
- ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
RU-GOST R，关于电子显微镜基本参数的标准
- GOST 17793-1977 黑白电视显象管.基本参数
- GOST R 55893-2013 集成微电路. 基本参数
- GOST 23622-1979 逻辑积分微型电路的元件.基本参数
国家质检总局，关于电子显微镜基本参数的标准
- GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
- GB/T 30705-2014 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
未注明发布机构，关于电子显微镜基本参数的标准
- BS CECC 13:1985(1999) 电子元件质量评估协调制度：基本规范：半导体芯片的扫描电子显微镜检查
日本工业标准调查会，关于电子显微镜基本参数的标准
- JIS M 8816:1992 固体矿物燃料.煤的基本微观结构和反射系数的显微镜测量法
英国标准学会，关于电子显微镜基本参数的标准
- BS CECC 00013:1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
IX-IX-IEC，关于电子显微镜基本参数的标准
- IEC TS 62607-6-17:2023 纳米制造 关键控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 阶参数：X 射线衍射和透射电子显微镜
BELST，关于电子显微镜基本参数的标准
- STB 2210-2011 纳米级碳和非碳材料以及基于它们的复合材料 使用扫描电子显微镜测量确定参数的方法
