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光学元件面型

本专题涉及光学元件面型的标准有496条。

国际标准分类中,光学元件面型涉及到工业自动化系统、无屑加工设备、航空航天用电气设备和系统、机上设备和仪器、光学设备、技术制图、光学和光学测量、水果、蔬菜及其制品、光电子学、激光设备、航空航天制造用零部件、印制技术、光纤通信、摄影技术、音频、视频和视听工程、铁路/索道建造和维护设备、分析化学。

在中国标准分类中,光学元件面型涉及到电子元器件、光学仪器综合、物理学与力学、光电子器件综合、光学设备、电气系统与设备、基础标准与通用方法、仪器、仪表用材料和元件、连接器、光通信设备、紧固件、激光器件、屋面、铺面防水与防潮材料、、通信网综合、光学计量。


德国机械工程师协会,关于光学元件面型的标准

  • VDI 5581-2011 非球面、自由曲面和微光学元件精密成型质量控制的测量程序
  • VDI 5580-2011 光学元件的精密玻璃成型 基础技术
  • VDI 5580-2017 光学元件的精密玻璃成型 基础技术
  • VDI 5583 Blatt 1-2011 光学元件精密玻璃成型工艺链中接口规范的建议 光学设计建议

英国标准学会,关于光学元件面型的标准

  • BS EN 2591-6324:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 界面密封
  • BS EN 2591-604:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.光学表面的清洗能力
  • BS ISO 10110-7:2008 光学和光子学.光学元件和系统制图.表面缺陷公差
  • BS ISO 10110-12:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 非球面
  • BS ISO 10110-12:2008 光学和光子学 光学元件和系统用图纸的编制 非球面
  • BS ISO 10110-12:2007+A1:2013 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 非球面
  • BS ISO 10110-8:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面纹理
  • BS ISO 10110-16:2023 光学和光子学。准备光学元件和系统的图纸。衍射表面
  • BS ISO 10110-8:1998 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.表面纹理
  • BS ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.表面形状公差
  • BS ISO 10110-8:2010 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.表面纹理
  • BS ISO 14997:2017 跟踪更改 光学和光子学 光学元件表面缺陷的测试方法
  • PD ISO/TR 14997-2:2022 光学和光子学 光学元件表面缺陷的测试方法 机器视觉
  • BS ISO 19962:2019 光学和光子学 平面平行光学元件积分散射的光谱测量方法
  • BS ISO 10110-14:2008 光学和光子学.光学元件和设备制图准备.波阵面变形公差
  • BS ISO 10110-19:2015 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 表面和部件的通用描述
  • BS ISO 10110-7:2017 跟踪更改 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面瑕疵
  • 17/30345461 DC BS ISO 2100-604 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 第 604 部分 光学元件 光学面清洁能力
  • BS ISO 15368:2001 光学和光学仪器.平面反射系数的测量和平行面元件的透射率
  • BS EN 2591:6307:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.盐雾
  • BS EN 2591:6402:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.冲击
  • BS EN 2591:6403:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.振动
  • BS EN 2591-6402:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 震惊
  • BS EN 2591-6317:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 易燃
  • BS EN 2591-6403:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 振动
  • BS EN 2591-6307:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 盐雾
  • BS EN 2591-6414:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 解除挂绳释放光学连接元件的配合
  • 20/30352222 DC BS ISO 15368 光学和光子学 平面反射率和平面平行元件透射率的测量
  • BS EN 2591:6414:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.脱钩拉索式光学连接元件的不配合性
  • BS EN 2591:6317:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.易燃性
  • BS ISO 10110-5:2015 跟踪更改 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面形状公差
  • BS ISO 10110-10:2005 光学 光学元件和系统的制图准备 光学元件和接合组件的数据描述表
  • BS ISO 10110-10:2004 光学.光学元件和系统的制图准备.光学元件和接合组件的数据描述表
  • BS ISO 15368:2021 跟踪更改 光学和光子学 平面反射率和平面平行元件透射率的测量
  • BS EN 2591:6101:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.目视检查
  • BS EN 2591:6306:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.霉菌生长
  • BS EN 2591-601:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.插入损失
  • BS EN 2591:6404:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.横向荷载
  • BS EN 2591:6405:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.轴向荷载
  • BS EN 2591:6318:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.耐火性能
  • BS EN 2591-605:2002 电器和光学连接元件.试验方法.光学元件.返回损失
  • BS EN 2591-613:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.碰撞试验
  • BS EN 2591-6405:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 轴向载荷
  • BS EN 2591-6316:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 耐臭氧性
  • BS EN 2591-6315:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 流体阻力
  • BS EN 2591-6306:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 霉菌生长
  • BS EN 2591-6404:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 横向载荷
  • BS EN 2591-6318:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 防火性能
  • BS EN 2591-6101:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 目视检查
  • BS ISO 10110-9:2016 跟踪更改 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面处理及涂层
  • PD ISO/TR 21477:2017 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面缺陷规格和测量系统
  • 18/30332797 DC BS ISO 10110-12 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 第12部分. 非球面
  • 17/30345536 DC BS ISO 2100-6324 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 第 6324 部分 光学元件 界面密封
  • BS EN 2591-324:1998 电气和光学连接元件.试验方法.界面密封
  • BS EN 2591:6301:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.耐温度性能
  • BS EN 2591:6406:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.机械耐久性
  • BS EN 2591:6324:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.层间的密封
  • BS EN 2591:6316:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.耐臭氧性能
  • BS EN 2591-6406:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 机械耐久性
  • BS EN 2591-6301:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 温度耐受性
  • BS EN 2591-6401:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 加速度稳态
  • BS EN 2591-6314:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 低气压浸没
  • BS ISO 10110-9:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第9部分:表面处理和涂层
  • 22/30430316 DC BS ISO 10110-16 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第 16 部分:衍射表面
  • BS EN 2591-602:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.衰减和光学不连续性的变化
  • BS EN ISO 13696:2022 光学和光子学 光学元件总散射的测试方法
  • BS EN 62005-9-1:2015 纤维光学互连器件和无源元件. 可靠性. 无源光学元件的资格
  • BS EN 2591-6415:2002 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 测试探针损坏
  • BS EN 2591-6303:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 冷/低压和湿热
  • BS EN 2591-6305:2001 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 温度快速变化
  • BS ISO 10110-1:2006 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.总则
  • BS EN 2591-607:2002 电器和光学连接元件.试验方法.光学元件.对周围光耦合的干扰性
  • BS EN 2591:6305:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.温度的快速变化
  • BS EN 2591:6415:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.检测探针的损伤
  • BS EN 2591:6401:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.加速度稳定状态
  • BS EN 2591-603:2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.功率分配的变化
  • BS EN 2591:6315:2001 光电连接元件.试验方法.光学元件.耐流体性能
  • BS EN 62005-7:2004 纤维光学互连装置和无源光学元件的可靠性.寿命应力模型
  • BS EN ISO 13697:2006 光学和光子学.激光和激光相关的设备.光学激光元件的镜面反射率和正透视度的试验方法
  • BS ISO 10110-1:2019 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 概述
  • BS EN 61754-4:2013 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.SC型连接器系列
  • BS EN 61754-6:2013 纤维光学互连器件和无源元件. 纤维光学连接器接口. MU型连接器系列
  • BS EN 61754-26:2012 纤维光学互连器件和无源元件. 纤维光学连接器接口. SF型连接器系列
  • BS EN 2591:6303:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.冷/低压和湿热试验
  • BS EN 2591-606:2002 航空航天系列.光学和电子连接元件.试验方法.光学元件.串音
  • BS EN ISO 11151-2:2000 激光和激光相关设备.标准光学元件.红外光谱范围内的元件
  • BS EN ISO 11151-2:2015 激光和激光相关设备.标准光学元件.红外光谱范围内的元件
  • BS EN 2591:6314:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.低气压条件下的浸泡试验
  • BS EN 61754-31:2016 纤维光学互连器件和无源元件. 纤维光学连接器接口. N-FO型连接器系列
  • BS ISO 22531:2020 光学和光子学 光学材料及元件 光学玻璃耐气候性试验方法
  • PD ISO/TR 16743:2013 光学和光子学 用于表征光学系统和光学元件的波前传感器
  • BS ISO 21575:2018 光学和光子学 光学材料及元件 光学玻璃耐水性粉末试验方法
  • BS ISO 19741:2018 光学和光子学 光学材料及元件 红外光学材料条纹的测试方法
  • 21/30389576 DC BS EN ISO 13696 光学和光子学 光学元件总散射的测试方法
  • 17/30345557 DC BS ISO 2100-6414 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 第 6414 部分 光学元件 解除挂绳释放光学连接元件的配合
  • BS ISO 14997:2011 光学和光子学.光学零件表面缺陷的试验方法
  • BS EN 2591-708:2001 电气和光学连接元件.试验方法.电气元件.耦合器的表面传输阻抗测量
  • BS ISO 17328:2014 光学和光子学. 光学材料和元件. 红外光学材料折射率的试验方法
  • BS ISO 19740:2018 光学和光子学 光学材料及元件 红外光学材料均匀性的测试方法
  • BS EN 2591-615:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.在温度环境下连接完整性
  • BS EN 2591-611:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.电缆连接的效果.电缆扭力
  • BS ISO 10110-17:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.激光辐射损害阈
  • 17/30345542 DC BS ISO 2100-6402 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 零件 6402 光学元件 震惊
  • BS EN 61754-34:2016 光纤互连器件和无源元件. 纤维光学连接器接口. URM型连接器系列
  • BS EN 61754-32:2016 光纤互连器件和无源元件. 纤维光学连接器接口. DiaLink型连接器系列
  • 17/30345494 DC BS ISO 2100-617 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 第 617 部分 光学元件 温度循环 第 617 部分:光学元件 温度循环
  • 19/30362034 DC BS ISO 22531 光学和光子学 光学材料及元件 光学玻璃耐气候性试验方法
  • BS PD IEC/TR 60825-17:2015 激光产品的安全.使用被动光学元件和光学的安全方面高功率光纤通信系统中的电缆
  • BS EN 2591:6321:2002 航空航天系列.光学和电子连接元件.试验方法.光学元件.湿热,循环试验
  • BS EN 2591-617:2002 航空航天系列.光学和电子连接元件.试验方法.光学元件.温度循环试验
  • BS EN 2591-6321:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 湿热、循环试验
  • BS ISO 22576:2020 光学和光子学 光学材料及元件 红外光谱中使用的氟化钙规范
  • 17/30345470 DC BS ISO 2100-607 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 第 607 部分 光学元件 环境光耦合抗扰度 第 607 部分:光学元件 环境光耦合抗扰度
  • BS ISO 10110-11:1996 光学及光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.非公差数据
  • PD ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 术语、定义和基本关系
  • BS EN 2591-612:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.电缆附着的效果.电缆轴向压缩
  • BS EN 2591-610:2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.电缆连接的效果.电缆拉拔试验
  • BS EN 2591:6323:2002 航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.热冲击(密封装置)
  • BS EN 2591-6323:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法-光学元件 热冲击(密封设备)
  • BS ISO 10110-13:1998 光学和光学仪器 光学元件和系统图纸的编制 激光辐照损伤阈值
  • BS EN ISO 11551:2019 光学和光子学 激光器及激光相关设备 光学激光元件吸收率的测试方法
  • 17/30345548 DC BS ISO 2100-6404 电气和光学连接的航空航天元件 测试方法 零件 6404 光学元件 横向载荷
  • 21/30425925 DC BS ISO 17328 光学和光子学 光学材料及元件 红外光学材料折射率的测试方法

RU-GOST R,关于光学元件面型的标准

  • GOST R 59420-2021 光学和光子学 光学元件 表面缺陷 视觉控制
  • GOST R 59742-2021 光学和光子学 激光及激光相关设备 激光设备的光学元件 镜面反射率和常规透射率的测试方法
  • GOST R 59422.2-2021 光学和光子学 激光及激光相关设备 标准光学元件 第2部分 在红外光谱范围内工作的激光设备的标准光学元件 一般技术要求
  • GOST R 53784-2010 铁路交通光信号设备光学元件.规格

法国标准化协会,关于光学元件面型的标准

韩国科技标准局,关于光学元件面型的标准

KR-KS,关于光学元件面型的标准

  • KS B ISO 14997-2019 光学和光子学 - 光学元件表面缺陷的测试方法
  • KS B ISO 10110-12-2018 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
  • KS B ISO 10110-8-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第8部分:表面结构
  • KS B ISO 10110-5-2018 光学和光子学 - 光学元件和系统的图纸准备 - 第5部分:表面形状公差
  • KS B ISO 10110-7-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第7部分:表面缺陷公差
  • KS B ISO 10110-9-2017 光学和光学仪器光学元件和系统图纸的制备第9部分:表面处理和涂层
  • KS B ISO 10110-10-2018 光学和光子学 - 光学元件和系统的图纸准备 - 第10部分:表示4568光学4568元件和水泥组件的数据4568的表
  • KS B ISO 10110-1-2017 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则

国际标准化组织,关于光学元件面型的标准

  • ISO 10110-12:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图.第12部分:非球面表面
  • ISO 14997:2017 光学和光学仪器.光学元件表面缺陷的试验方法
  • ISO 14997:2011 光学和光学仪器.测定光学元件表面缺陷的试验方法
  • ISO 14997:2003 光学和光学仪器.测定光学元件表面缺陷的试验方法
  • ISO 19962:2019 光学和光子学.平面平行光学元件集成散射的光谱测量方法
  • ISO 15368:2001 光学和光学仪器 平面表面反射率和平面平行元件投射率的测量
  • ISO 10110-12:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
  • ISO/FDIS 10110-16 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第16部分:衍射表面
  • ISO 1011:1973 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
  • ISO 10110-8:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
  • ISO 10110-16:2023 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第 16 部分:衍射表面
  • ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 第12部分: 非球面; 修改件1
  • ISO 10110-19:2015 光学和光子学 - 准备光学元件和系统的图纸 - 第19部分:表面和部件的概述
  • ISO 15368:2021 光学和光学仪器——平面反射系数和平面平行元件透射率的测量
  • ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
  • ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
  • ISO/TR 14997-2:2022 光学和光子学.光学元件表面缺陷的试验方法.第2部分:机器视觉
  • ISO 10110-7:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第7部分:表面疵病公差
  • ISO 10110-5:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第5部分:表面形状公差
  • ISO 10110-9:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层
  • ISO 10110-10:2004 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
  • ISO 10110-14:2007 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
  • ISO 10110-9:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第9部分:表面处理和镀层
  • ISO 10110-7:2017 光学和光学仪器.光学元件和系统图纸的制备.第7部分:表面缺陷公差
  • ISO 10110-14:2018 光学和光子学. 光学元件和系统的制图准备. 第14部分: 波阵面变形公差
  • ISO/TR 21477:2017 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统
  • ISO 10110-7:2008 光学和光子学.光学元件和设备制图的准备工作.第7部分:表面缺陷公差
  • ISO 13696:2022 光学和光子学.光学元件总散射的试验方法
  • ISO 10110-10:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第10部分:透镜元件的数据表
  • ISO 13697:2006 光学和光子学.激光和激光相关的设备.光学激光元件的镜面反射率和正透视度的试验方法
  • ISO 10110-8:2010 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第8部分:表面结构,粗糙度和波状起伏
  • ISO 10110-5:1996/Cor 1:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第5部分:表面形状公差 技术勘误表1
  • ISO 22576:2020 光学和光子学.光学材料和元件.红外光谱用氟化钙规范
  • ISO 11151-2:2000 激光和激光设备 标准光学元件 第2部分:红外光谱范围用元件
  • ISO 11151-2:2015 激光和激光设备 标准光学元件 第2部分:红外光谱范围用元件
  • ISO 21575:2018 光学和光子学.光学材料和光学元件.光学玻璃耐水性的粉末试验方法
  • ISO/TR 16743:2013 光学和光子学.表示特性的光学系统和光学元件用波前传感器
  • ISO/DIS 8237:2014 光学和光子学 光学材料和元件 红外光谱用硫系玻璃规范
  • ISO 17328:2021 光学和光子学.光学材料和元件.红外光学材料折射率的试验方法
  • ISO 19740:2018 光学和光子学.光学材料和元件.红外光学材料均匀性的试验方法
  • ISO 13696:2002 光学和光学仪器.用光学元件进行辐射散射的试验方法
  • ISO 10110-1:2019 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
  • ISO 10110-1:2006 光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第1部分:总则
  • ISO 10110-1:1996 光学和光学仪器 光学元件和系统制图准备 第1部分:总则
  • ISO 10110-6:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化学分析.硅晶片加工标准物质表面元素收集用化学方法和及其光分析仪(TXRF)光谱学测定.修改件1

日本工业标准调查会,关于光学元件面型的标准

  • JIS B 7081:2017 光学和光子学. 平面光学元件综合散射的光谱测量方法
  • JIS B 0090-12:2001 光学元件和系统图的绘制.第12部分:非球型表面
  • JIS B 0090-12:2012 光学元件和系统图的绘制.第12部分:非球型表面
  • JIS B 0091:2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
  • JIS B 0090-8:2001 光学元件和系统图的绘制.第8部分:表面结构
  • JIS B 0090-10:2007 光学元件和系统的制图准备.第10部分:光学元件和接合组件的数据表
  • JIS B 0090-7:2021 光学元件和系统图纸的准备. 第7部分: 表面缺陷
  • JIS B 0090-5:2001 光学元件和系统图的绘制.第5部分:表面形状公差
  • JIS B 0090-7:2001 光学元件和系统图的绘制.第7部分:表面缺陷公差
  • JIS B 0090-7:2012 光学元件和系统图的绘制.第7部分:表面缺陷公差
  • JIS B 0090-9:2001 光学元件和系统图的绘制.第9部分:表面处理和涂覆
  • JIS B 0090-14:2010 光学元件和系统图的绘制.第14部分:波阵面变形公差
  • JIS B 0090-5:2010 光学元件和系统用制图准备.第5部分:表面形状公差

德国标准化学会,关于光学元件面型的标准

  • DIN ISO 14997:2018 光学和光子学 光学元件表面缺陷的测试方法(ISO 14997:2017)
  • DIN ISO 14997:2013 光学和光子学. 光学元件表面缺陷的试验方法(ISO 14997-2011)
  • DIN ISO 10110-12:2009 光学和光子学.光学元件和系统制图的制备.第12部分:非球面表面
  • DIN ISO 10110-12:2021-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分:非球面
  • DIN ISO 10110-5:2016-04 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第5部分:表面形状公差
  • DIN ISO 10110-19:2016-04 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第19部分:表面和组件的一般描述
  • DIN ISO 10110-10:2004 光学和光子学.光学元件和系统图形制备.第10部分:光学元件和粘结组件的数据表
  • DIN 58161-1:2002-04 光学元件测试 第1部分:测试平面玻璃
  • DIN ISO 10110-12:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图的制备.第12部分:非球面表面(ISO 10110-12-2007+Amd 1-2013)
  • DIN ISO 10110-12:2021 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分:非球面(ISO 10110-12:2019)
  • DIN ISO/TR 21477:2018-08*DIN SPEC 13477:2018-08 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面缺陷规格和测量系统
  • DIN 58140-2:1986 纤维光学.纤维光学元件的分类
  • DIN 58161-2:2002 光学元部件检验.第2部分:球面试验试片
  • DIN 58161-1:2002 光学元部件检验.第1部分:平面玻璃试片
  • DIN 58161-2:2002-04 光学元件的测试 第2部分:测试球面玻璃
  • DIN ISO 10110-7:2018 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第7部分:表面缺陷(ISO 10110-7-2017)
  • DIN ISO 10110-8:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第8部分:表面纹理(ISO 10110-8:2019)
  • DIN ISO 10110-9:2000 光学和光学仪器.光学元件和系统的图形制备.第9部分:表面处理和覆层
  • DIN EN 2591-604:2002 航空航天系列.光电连接件.试验方法.第604部分:光学元件.光学平面净化能力
  • DIN EN ISO 13696:2022-11 光学和光子学-光学元件总散射的测试方法
  • DIN ISO 10110-19:2016 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第19部分:表面和组件的一般描述(ISO 10110-19:2015)
  • DIN ISO 10110-5:2016 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第5部分:表面形状公差(ISO 10110-5-2015)
  • DIN ISO 10110-9:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层(ISO 10110-9-2016)
  • DIN EN ISO 13697:2006-08 光学和光子学-激光器和激光相关设备-光学激光元件镜面反射率和常规透射率的测试方法
  • DIN 58161-4:1971-03 光学元件测试;聚焦屏
  • DIN EN 62005-7:2004 纤维光学互连器件和无源光学元件的可靠性.第7部分:寿命应力模型
  • DIN ISO 10110-5 Bb.1:2003 光学及光学仪器.光学元件和系统图样绘制.第5部分:表面形状公差.用检验镜检验表面形状公差
  • DIN EN ISO 13697:2006 光学和光子学.激光和激光相关的设备.光学激光元件的镜面反射率和正透视度的试验方法(ISO 13697-2006)
  • DIN EN ISO 11151-2:2000 激光和激光设备.标准光学元件.第2部分:红外光谱范围用元件
  • DIN 58140-2:2012 纤维光学.第2部分:纤维光学元件的分类
  • DIN 58140-2:2009 纤维光学.第2部分:纤维光学元件的分类
  • DIN ISO 10110-8:2012 光学及光学仪器.光学元件和系统图形的制备.第8部分:表面构造.粗糙度和波纹(ISO 10110-8-2010)
  • DIN EN 2591-606:2002-12 航空航天系列-电气和光学连接元件;测试方法 - 第 606 部分:光学元件;相声
  • DIN 58926-2:1988 光学元件的坯件.第1部分:精密光学透镜.允许的偏差
  • DIN ISO 10110-1:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图的准备.第1部分:总则
  • DIN ISO 10110-1:2020-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分:概述
  • DIN EN 2591-607:2002-12 航空航天系列-电气和光学连接元件;测试方法 - 第 607 部分:光学元件;抗环境光耦合
  • DIN EN ISO 11151-2:2015-12 激光器和激光相关设备 标准光学元件 第2部分:红外光谱范围的元件
  • DIN EN ISO 11551:2020-05 光学和光子学-激光器和激光相关设备-光学激光元件吸收率的测试方法
  • DIN EN 2591-613:2002-12 航空航天系列-电气和光学连接元件;测试方法 - 第 613 部分:光学元件;冲击试验
  • DIN EN 2591-617:2002-12 航空航天系列-电气和光学连接元件;测试方法 - 第 617 部分:光学元件;温度循环
  • DIN EN 2591-605:2002-12 航空航天系列-电气和光学连接元件;测试方法 - 第 605 部分:光学元件;回波损耗

丹麦标准化协会,关于光学元件面型的标准

  • DS/EN 2591-604:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第604部分:光学元件 光学面清洁能力
  • DS/EN 2591-6324:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6324 部分:光学元件 界面密封
  • DS/EN ISO 13697:2006 光学和光子学-激光和激光相关设备-光学激光元件的镜面反射率和常规透射率的测试方法
  • DS/EN 2591-6414:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6414 部分:光学元件 系索释放光学连接元件的解配
  • DS/EN ISO 13696:2002 光学和光学仪器 光学元件散射辐射的试验方法
  • DS/EN 2591-606:2002 航空航天系列-电气和光学连接元件-试验方法-第606部分:光学元件-串扰
  • DS/EN 2591-6307:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6307 部分:光学元件 盐雾
  • DS/EN 2591-6402:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6402 部分:光学元件 冲击
  • DS/EN 2591-6403:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6403 部分:光学元件 振动
  • DS/EN ISO 11151-2:2000 激光器和激光相关设备 标准光学元件 第2部分:红外光谱范围的元件
  • DS/EN 2591-6317:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6317 部分:光学元件 易燃性
  • DS/EN 2591-6318:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6318 部分:光学元件 耐火性
  • DS/EN ISO 11551:2004 光学和光学仪器 激光和激光相关设备 光学激光元件吸收率的测试方法
  • DS/EN 2591-602:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第602部分:光学元件 衰减和光学不连续性的变化
  • DS/EN 2591-601:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第601部分:光学元件 插入损耗
  • DS/EN 2591-605:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第605部分:光学元件 回波损耗
  • DS/EN 2591-6101:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6101 部分:光学元件 外观检查
  • DS/EN 2591-613:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第613部分:光学元件 冲击试验
  • DS/EN 2591-617:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第617部分:光学元件 温度循环
  • DS/EN 2591-6306:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6306 部分:光学元件 霉菌生长
  • DS/EN 2591-6315:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6315 部分:光学元件 流体阻力
  • DS/EN 2591-6316:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6316 部分:光学元件 耐臭氧性
  • DS/EN 2591-6404:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6404 部分:光学元件 横向载荷
  • DS/EN 2591-6405:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6405 部分:光学元件 轴向载荷
  • DS/EN 2591-607:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第607部分:光学元件 环境光耦合抗扰度

立陶宛标准局,关于光学元件面型的标准

  • LST EN 2591-604-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第604部分:光学元件 光学面清洁能力
  • LST EN 2591-6324-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6324 部分:光学元件 界面密封
  • LST EN 2591-6414-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6414 部分:光学元件 系索释放光学连接元件的解配
  • LST EN ISO 13697:2006 光学和光子学 激光和激光相关设备 光学激光元件的镜面反射率和常规透射率的测试方法(ISO 13697:2006)
  • LST EN 2591-6403-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6403 部分:光学元件 振动
  • LST EN 2591-6402-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6402 部分:光学元件 冲击
  • LST EN 2591-6307-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6307 部分:光学元件 盐雾
  • LST EN 2591-606-2003 航空航天系列-电气和光学连接元件-试验方法-第606部分:光学元件-串扰
  • LST EN 62148-15-2014 纤维光学有源元件和器件. 包装和接口标准. 第15部分: 离散型垂直腔面发射激光器包 (IEC 62148-15-2014)
  • LST EN 2591-6318-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6318 部分:光学元件 耐火性
  • LST EN 2591-6317-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6317 部分:光学元件 易燃性
  • LST EN 2591-602-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第602部分:光学元件 衰减和光学不连续性的变化
  • LST EN 2591-6316-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6316 部分:光学元件 耐臭氧性
  • LST EN 2591-6315-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6315 部分:光学元件 流体阻力
  • LST EN 2591-6101-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6101 部分:光学元件 外观检查
  • LST EN 2591-601-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第601部分:光学元件 插入损耗
  • LST EN 2591-6405-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6405 部分:光学元件 轴向载荷
  • LST EN 2591-6404-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6404 部分:光学元件 横向载荷
  • LST EN 2591-6306-2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第 6306 部分:光学元件 霉菌生长
  • LST EN 2591-605-2003 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第605部分:光学元件 回波损耗
  • LST EN 2591-617-2003 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第617部分:光学元件 温度循环
  • LST EN 2591-613-2003 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第613部分:光学元件 冲击试验
  • LST EN 2591-607-2003 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第607部分:光学元件 环境光耦合抗扰度

ES-UNE,关于光学元件面型的标准

  • UNE-EN 2591-604:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第604部分:光学元件 光学面的清洁能力
  • UNE-EN 2591-6324:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6324部分:光学元件 界面密封
  • UNE-EN ISO 13696:2022 光学和光子学 光学元件总散射的测试方法
  • UNE-EN 2591-6414:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6414部分:光学元件 解除挂绳释放光学连接元件的配合
  • UNE-EN 2591-6402:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 6402 部分:光学元件 震惊
  • UNE-EN 2591-606:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第606部分:光学元件 串扰
  • UNE-EN 2591-6403:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6403部分:光学元件 振动
  • UNE-EN 2591-6307:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6307部分:光学元件 盐雾
  • UNE-EN ISO 11151-2:2015 激光器和激光相关设备 标准光学元件 第2部分:红外光谱范围的元件
  • UNE-EN 2591-6318:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6318部分:光学元件 耐火性
  • UNE-EN 2591-6317:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6317部分:光学元件 可燃性
  • UNE-EN ISO 11551:2019 光学和光子学 激光器和激光相关设备 光学激光元件吸收率的测试方法
  • UNE-EN 2591-602:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第602部分:光学元件 衰减的变化和光学不连续性
  • UNE-EN 2591-6316:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6316部分:光学元件 耐臭氧性
  • UNE-EN 2591-6306:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6306部分:光学元件 霉菌生长
  • UNE-EN 2591-6101:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6101部分:光学元件 目视检查
  • UNE-EN 2591-605:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第605部分:光学元件 回波损耗
  • UNE-EN 2591-6404:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6404部分:光学元件 横向负载
  • UNE-EN 2591-601:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第601部分:光学元件 插入损耗
  • UNE-EN 2591-6405:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6405部分:光学元件 轴向载荷
  • UNE-EN 2591-6315:2001 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第6315部分:光学元件 流体阻力
  • UNE-EN 2591-617:2002 航空航天系列 电气和光学连接元件 测试方法 第617部分:光学元件 温度循环
  • UNE-EN 2591-613:2002 航空航天系列。电气和光学连接元件。测试方法。第 613 部分:光学元件。冲击试验

国家军用标准-总装备部,关于光学元件面型的标准

欧洲航空工业协会,关于光学元件面型的标准

欧洲标准化委员会,关于光学元件面型的标准

  • EN 2591-604:2001 航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第604部分:光学元件.光学表面的清洗能力
  • EN 2591-6324:2001 航空航天系列.光电连接元件试验方法.第6324部分:光学元件界面密封
  • EN ISO 13697:2006 光学和光子学.激光和激光相关设备.光学激光元件的镜面反射率和正透视度的试验方法 ISO 13697-2006
  • prEN ISO 13696:2021 光学和光子学 光学元件总散射的测试方法(ISO/DIS 13696:2021)
  • EN 2591-6414:2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6414部分:光学元件.绳索拉脱光学连接元件的不匹配性

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization,关于光学元件面型的标准

  • PREN 2591-F4-1993 航空航天系列电气和光学连接元件测试方法第 F4 部分 光学元件光学面清洁能力(P 1 版)
  • PREN 2591-FD14-1993 航空航天系列电气和光学连接元件测试方法第 FD14 部分 光学元件解开系索释放光学连接元件(P 1 版)

未注明发布机构,关于光学元件面型的标准

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于光学元件面型的标准

  • GB/T 40658-2021 溴化钾光学元件
  • GB/T 38245-2019 光学和光学仪器 激光器和激光相关设备 激光光学元件吸收率测试方法
  • GB/T 37396.2-2019 激光器和激光相关设备 标准光学元件 第2部分:红外光谱范围内的元件

国际电工委员会,关于光学元件面型的标准

  • IEC 61754-28:2012 纤维光学插接元件和无源元件.纤维光学连接器接口.第28部分:LF3型连接器族
  • IEC PAS 62005-9-2:2003 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学互连器件和无源光学元件可靠性.第9-2部分:纤维光学连接器的可靠性鉴定
  • IEC TR 61292-1:1998 纤维光学 放大器元件参数
  • IEC 61754-6:2022 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第6部分:MU型连接器系列
  • IEC 61754-4:2022 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第4部分:SC型连接器系列
  • IEC 61754-20:2012/AMD1:2022 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第20部分:LC型连接器系列
  • IEC 61754-4:2013 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第4部分:SC型连接器系列
  • IEC 61754-6:2013 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第6部分:MU型连接器系列
  • IEC 61754-4:2022 RLV 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第4部分:SC型连接器系列
  • IEC 61754-20:2012+AMD1:2022 CSV 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第20部分:LC型连接器系列
  • IEC 61754-6:2022 RLV 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器接口.第6部分:MU型连接器系列
  • IEC PAS 63267-3-31:2020 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学连接器光学接口.第3-31部分:端面几何形状.扁平PC PPS矩形套圈多模光纤
  • IEC 62077:2022 RLV 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学环行器.总规范
  • IEC 62077:2022 纤维光学互连器件和无源元件.纤维光学环行器.总规范
  • IEC TR 62572-4:2020 RLV 纤维光学有源元件和器件可靠性标准第4部分:插座式光收发器光学连接器端面清洁方法指南
  • IEC TR 62572-4:2020 纤维光学有源元件和器件可靠性标准第4部分:插座式光收发器光学连接器端面清洁方法指南

美国国家标准学会,关于光学元件面型的标准

国家质检总局,关于光学元件面型的标准

HU-MSZT,关于光学元件面型的标准

(美国)军事条例和规范,关于光学元件面型的标准

IN-BIS,关于光学元件面型的标准

美国电信工业协会,关于光学元件面型的标准

TIA - Telecommunications Industry Association,关于光学元件面型的标准

AENOR,关于光学元件面型的标准

  • UNE-EN ISO 13697:2007 光学和光子学 激光和激光相关设备 光学激光元件的镜面反射率和常规透射率的测试方法(ISO 13697:2006)
  • UNE-EN ISO 13696:2003 光学和光学仪器 光学元件散射辐射的测试方法(ISO 13696:2002)

美国航空工业协会,关于光学元件面型的标准

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc.,关于光学元件面型的标准

中国团体标准,关于光学元件面型的标准

国际电信联盟,关于光学元件面型的标准

AT-ON,关于光学元件面型的标准

欧洲航空航天和国防工业标准化协会,关于光学元件面型的标准

  • ASD-STAN PREN 2591-FC24-1993 航空航天系列.电气和光学连接部件.试验方法.第FC24部分:光学元件.界面密封;第P1版

GOSTR,关于光学元件面型的标准

  • GOST R 58563-2019 光学和光子学 激光及激光相关设备 激光光学元件吸收效应的测量方法

行业标准-电子,关于光学元件面型的标准





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