웨이퍼

모두 171항목의 웨이퍼와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 웨이퍼와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 집적 회로, 마이크로 전자공학, 반도체 소재, 종합 전자 부품, 절연유체, 비철금속, 공작 기계, 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치, 금속 재료 테스트, 건물 내 시설, 태양광 공학, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 방사선 측정, 필터, 광전자공학, 레이저 장비, 저항기, 반도체 개별 장치, 배터리 및 축전지, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 화학 제품, 전등 및 관련 기기, 어휘, 유연한 전송 및 전송, 분석 화학.

International Electrotechnical Commission (IEC), 웨이퍼

IEC PAS 62084:1998 웨이퍼 태핑 및 웨이퍼 스케일링 기술 실행
IEC PAS 62276:2001 표면 탄성파 장치에 적용 가능한 단일 웨이퍼 사양 및 측정 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 웨이퍼

GB/T 15713-1995 게르마늄 단결정
GB/T 13840-1992 웨이퍼 캐리어
GB/T 5238-2009 게르마늄 단결정 및 게르마늄 단결정 웨이퍼
GB/T 5238-2009e 단결정 게르마늄 및 단결정 게르마늄 슬라이스
GB/T 16595-1996 웨이퍼용 유니버설 그리드 사양
GB/T 16596-1996 웨이퍼 좌표계 사양 결정
GB/T 30866-2014 실리콘 카바이드 단일 웨이퍼 직경 테스트 방법
GB/T 32988-2016 인공 석영 광학 저역 통과 필터 칩
GB/T 32278-2015 실리콘 카바이드 단일 웨이퍼 평탄도 테스트 방법
GB/T 13387-1992 전자재료 웨이퍼의 기준면 길이 측정 방법
GB/T 26066-2010 실리콘 웨이퍼의 얕은 부식 피트를 탐지하는 테스트 방법
GB/T 5238-2009(英文版) 단결정 게르마늄 및 단결정 게르마늄 웨이퍼
GB/T 30118-2013 표면탄성파(SAW) 장치의 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법
GB/T 30867-2014 탄화규소 단일 웨이퍼의 두께 및 전체 두께 변화에 대한 테스트 방법
GB/T 30868-2014 화학적 에칭 방법에 의한 탄화규소 단일 웨이퍼의 마이크로튜브 밀도 측정
GB/T 13387-2009 실리콘 및 기타 전자재료 웨이퍼의 기준면 길이 측정 방법
GB/T 29055-2012 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼
GB/T 12964-2003 실리콘 단결정 연마 웨이퍼
GB/T 41751-2022 질화갈륨 단결정 기판의 결정면 곡률반경 시험방법
GB/T 29506-2013 300mm 실리콘 단결정 연마 웨이퍼
GB/T 29055-2019(英文版) 광전지 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼
GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
GB/T 26070-2010 화합물 반도체 연마 웨이퍼의 표면 손상에 대한 반사 차등 스펙트럼 테스트 방법
GB/T 30656-2014 실리콘 카바이드 단결정 연마 웨이퍼
GB/T 30656-2023 실리콘 카바이드 단결정 연마 웨이퍼
GB/T 6616-2023 반도체 웨이퍼의 저항률 및 반도체 필름의 면저항을 테스트하기 위한 비접촉 와전류 방법
GB/T 43894.1-2024 반도체 웨이퍼의 가장자리 형상 평가 1부: 고방사형 2차 미분 방법(ZDD)
GB/T 12965-1996 실리콘 단결정 절단 디스크 및 연삭 디스크
GB/T 12965-2005 실리콘 단결정 절단 디스크 및 연삭 디스크

Professional Standard - Electron, 웨이퍼

SJ 3118-1988 웨이퍼 캐리어
SJ 20437-1994 적외선 감지기용 텔루르화물-주석-납 웨이퍼 사양
SJ 20520-1995 수은 카드뮴 텔루라이드 필름용 카드뮴 아연 텔루라이드 웨이퍼 사양
SJ/T 11497-2015 갈륨비소 웨이퍼의 열안정성 시험방법
SJ 20640-1997 적외선 감지기용 안티몬화 인듐 단결정 웨이퍼 사양
SJ/T 11492-2015 광발광법을 이용한 갈륨비소 인 웨이퍼의 조성 측정
SJ 20750-1999 군용 CMOS 회로용 방사선 경화 실리콘 모놀리식 웨이퍼 사양
SJ 20438-1994 적외선 검출기용 텔루르화물-주석-납 웨이퍼의 테스트 방법
SJ/T 31091-1994 웨이퍼 내부 다이싱 머신의 무결성 요구사항과 검사 및 평가 방법
SJ/T 11199-1999 압전 석영 크리스탈 시트
SJ/T 31092-1994 웨이퍼 CNC 절단(다이싱) 기계에 대한 무결성 요구사항과 검사 및 평가 방법
SJ/T 11487-2015 반절연 반도체 웨이퍼의 비저항 측정 방법
SJ/T 31065-1994 Type 24 웨이퍼 CNC 연마기의 무결성 요구 사항 및 검사 및 평가 방법
SJ 2572-1985 태양전지용 실리콘 단결정 로드 및 시트
SJ 3241-1989 갈륨비소 단결정 막대 및 시트
SJ 3243-1989 인듐 인화물 단결정 막대 및 시트

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 웨이퍼

GB/T 5238-2019 게르마늄 단결정 및 게르마늄 단결정 웨이퍼
GB/T 16595-2019 웨이퍼용 유니버설 그리드 사양
GB/T 16596-2019 웨이퍼 좌표계 사양 결정
GB/T 26071-2018 태양전지용 실리콘 단일 웨이퍼
GB/T 29055-2019 태양전지용 다결정 실리콘 웨이퍼
GB/T 12964-2018 실리콘 단결정 연마 웨이퍼
GB/T 26069-2022 실리콘 단결정 소둔 시트
GB/T 12965-2018 실리콘 단결정 절단 디스크 및 연삭 디스크
GB/T 37051-2018 태양광 등급 다결정 실리콘 잉곳 및 웨이퍼의 결정 결함 밀도 측정 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 웨이퍼

T/WLJC 57-2019 웨이퍼 정밀 연삭 디스크
T/CECA 48-2021 석영 크리스털 마이크로밸런스 칩
T/WLJC 59-2019 석영 칩 모따기 골판지 튜브
T/ZZB 0497-2018 표면탄성파 소자용 단결정 웨이퍼
T/WLJC 58-2019 웨이퍼 정밀 연삭 디스크용 수정 휠
T/IAWBS 008-2019 SiC 웨이퍼의 잔류응력 검출방법
T/ZSA 38-2020 SiC 웨이퍼의 잔류응력 검출방법
T/CAB 0180-2022 GAGG 크리스탈 및 웨이퍼 어레이 성능 측정 방법
T/CASAS 003-2018 p-채널 IGBT 장치용 4H 탄화규소 에피택셜 웨이퍼
T/IAWBS 017-2022 다이아몬드 단결정 X선 이중결정 요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 015-2021 산화갈륨 단결정 웨이퍼의 X선 쌍요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 016-2022 탄화규소 단결정 웨이퍼의 X선 트윈 로킹 곡선의 반높이 폭 시험 방법
T/IAWBS 013-2019 반절연 탄화규소 단일 웨이퍼의 비저항 측정 방법
T/IAWBS 011-2019 전도성 탄화규소 단일 웨이퍼 저항률 측정 방법 - 비접촉 와전류 방법
T/CEMIA 006-2018 필름 두께 모니터링용 수정 진동자
T/SZBX 118-2023 태양전지용 단결정 실리콘 웨이퍼
T/CASME 823-2023 수용성 미세결정 패치에 대한 기술 요구 사항
T/CASAS 013-2021 탄화규소 웨이퍼 전위 밀도 검출 방식 KOH 부식과 이미지 인식 방식 결합
T/CEC 290-2019 후면 접촉 단결정 실리콘 웨이퍼에 대한 기술 요구 사항
T/CECA 83-2023 탄탈산리튬 및 니오브산리튬 환원 단결정 웨이퍼의 휘도 및 색차에 대한 기술적 요구사항 및 측정방법
T/ZZB 2675-2022 TVS용 실리콘 단결정 연마 디스크
T/CPIA 0037-2022 광전지 결정질 실리콘 웨이퍼 사양
T/CASAS 032-2023 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통한 탄화 규소 웨이퍼 표면의 금속 원소 함량 측정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 웨이퍼

KS D 0261-2012(2017) 거울을 이용한 실리콘 웨이퍼 검사
KS C 0256-2002(2017) 4점 프로브를 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 웨이퍼

GJB 3076A-2021 갈륨 인화물 단일 칩 사양
GJB 3076-1997 갈륨 인화물 단일 칩 사양
GJB 2917A-2018 인듐 인화물 단일 웨이퍼 사양
GJB 2917A-2004 인듐 인화물 단일 웨이퍼 사양
GJB 2917-1997 인듐 인화물 단일 웨이퍼 사양
GJB 1866-1994 적외선 감지기용 수은 카드뮴 텔루라이드 웨이퍼 사양
GJB 1944A-2017 우주태양전지용 실리콘 단결정 규격
GJB 2452-1995 적외선 감지기용 카드뮴 텔루라이드 단결정 웨이퍼 사양
GJB 2918-1997 검출기 등급 고저항 영역 융합 실리콘 모놀리스에 대한 사양
GJB 1785-1993 적외선 감지기용 수은 카드뮴 텔루라이드 웨이퍼의 테스트 방법
GJB 757-1989 레이더 마이크로파 장치용 합성 운모 대형 단일 칩
GJB 8773-2015 수은 카드뮴 텔루라이드 검출기 웨이퍼용 직접 결합 연마포 사양
GJB 8359-2015 미세 전자기계 시스템 및 전력 장치용 중간 두께 필름 S0I 웨이퍼 사양

British Standards Institution (BSI), 웨이퍼

BS EN 50513:2009 태양광 웨이퍼 태양전지 제조용 결정질 실리콘 웨이퍼에 대한 데이터시트 및 제품 정보
23/30468947 DC BS EN 62276 표면탄성파(SAW) 장치 응용 분야를 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

未注明发布机构, 웨이퍼

SEMI M55-0308-2008 연마된 단결정 탄화규소 웨이퍼 사양

JP-JEITA, 웨이퍼

JEITA EM3603B-2006 SOI 웨이퍼 표준 및 계측
JEITA EM-3510-2007 실리콘 웨이퍼의 에지 드롭 측정 방법
JEITA ET7501-105-2006 표면 실장 장치의 바닥 유형에 대한 설계 지침(네 방향으로 J 방향이 있는 칩 캐리어)

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, 웨이퍼

AIA/NAS NAS 4117-1996 칩형 절연체 수열기

Danish Standards Foundation, 웨이퍼

DS/EN 50513:2009 태양광 웨이퍼 태양전지 제조에 사용되는 결정질 실리콘 웨이퍼에 대한 데이터시트 및 제품 정보
DS/EN 62276:2013 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

Lithuanian Standards Office , 웨이퍼

LST EN 50513-2009 태양광 웨이퍼 태양전지 제조에 사용되는 결정질 실리콘 웨이퍼에 대한 데이터시트 및 제품 정보
LST EN 62276-2006 표면 탄성파(SAW) 장치 응용 분야를 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법(IEC 62276:2005)
LST EN 62276-2013 표면 탄성파(SAW) 장치 응용 분야를 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법(IEC 62276:2012)

AENOR, 웨이퍼

UNE-EN 50513:2011 태양광 웨이퍼 태양전지 제조에 사용되는 결정질 실리콘 웨이퍼에 대한 데이터시트 및 제품 정보

SE-SIS, 웨이퍼

SIS SEN 43 15-1962 전자 장비 로터리 칩 스위치

German Institute for Standardization, 웨이퍼

DIN 41619:1983 통신용 로터리 칩 스위치 사양
DIN V VDE V 0126-18-3:2007 태양광 실리콘 웨이퍼 3부: 결정질 실리콘 웨이퍼의 알칼리성 부식 손상 단결정 및 다결정 실리콘 웨이퍼의 부식 속도 결정 방법.
DIN EN 62276:2017-08 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법
DIN EN IEC 62276:2023-05 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

U.S. Military Regulations and Norms, 웨이퍼

ARMY QPL-55681-QPD-2010 세라믹 유전체 고정형 다층 칩 커패시터

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 웨이퍼

YS/T 986-2014 웨이퍼 전면의 일련의 영숫자 표시 사양
YS/T 1167-2016 실리콘 단결정 에칭 시트

Defense Logistics Agency, 웨이퍼

DLA QPL-32192-1-2006 열(서미스터) 칩 저항기 일반 사양
DLA DSCC-DWG-05009-2005 유형 0204, 1/4와트 필름 칩(MELF) 고정 저항기
DLA MIL-PRF-32192 (1)-2005 열(서미스터) 칩 저항기 일반 사양
DLA DSCC-DWG-04032 REV A-2006 유형 2512 1.5W, 고전력 저값, 비디오 고정 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-04007 REV B-2006 유형 0302 군용 방습 필름 고정 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-04008 REV B-2006 유형 0402 군용 방습 필름 고정 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-04009 REV B-2006 유형 0603 군용 방습 필름 고정 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-07016-2007 낮은 상자성 공진, Weber 등급 탄탈륨 칩 고정 커패시터
DLA DSCC-DWG-87075 REV E-2005 저항기, 고정 장치, 필름, 칩, 플랜지 프레임, 더블 탭, 고출력 10와트
DLA DSCC-DWG-04025-2005 5W(방열판 포함 최대 25W), 표면 실장, 박막 고정 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06003 REV A-2006 유형 4527 저전력(2W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06006-2006 유형 4527 저전력(3W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06007-2006 유형 0603 저전력(0.1W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06009-2006 스타일 1206 저전력(0.25W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06010 REV A-2007 모델 2010 저전력(0.5W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06011-2006 유형 2512 저전력(1.0W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기
DLA DSCC-DWG-06012-2006 유형 2816 저전력(2.0W) 외부 장착 금속 전력판 장착 칩 저항기

American Society for Testing and Materials (ASTM), 웨이퍼

ASTM F1212-89(1996)e1 갈륨비소 웨이퍼의 열안정성 시험방법
ASTM F1212-89(2002) 갈륨비소 웨이퍼의 열안정성 시험방법
ASTM F1390-97 자동 비접촉 스캐닝 방식에 의한 실리콘 웨이퍼의 핀 곡률 측정 테스트 방법

API - American Petroleum Institute, 웨이퍼

API STD 594 CHINESE-2004 체크 밸브: 플랜지 러그 웨이퍼 및 맞대기 용접(6판)
API STD 594 RUSSIAN-2004 체크 밸브: 플랜지 러그 웨이퍼 및 맞대기 용접(6판)
API STD 594-2004 체크 밸브: 플랜지 러그 웨이퍼 및 맞대기 용접(6판)

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 웨이퍼

ECA EIA-800-1999 통합 수동 부품 웨이퍼 스케일 포장 설계 가이드

中国有色金属工业总公司, 웨이퍼

YS/T 27-1992 웨이퍼 표면의 미립자 오염을 측정하고 계산하는 방법

工业和信息化部, 웨이퍼

SJ/T 11199-2016 압전 석영 크리스탈 시트

Association Francaise de Normalisation, 웨이퍼

NF C93-616:2013 표면 탄성파(SAW) 장치용 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법
NF C93-616:2006 표면 탄성파 장치용 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법
NF C93-616*NF EN 62276:2018 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 웨이퍼

JIS C 6760:2014 표면 탄성파(SAW) 장치용 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 웨이퍼

GJB 6259-2008 수은 카드뮴 텔루라이드 검출기 웨이퍼용 직접 결합 연마포 사양

SCC, 웨이퍼

BS PD IEC/PAS 62276:2002 표면 탄성파 장치에 적용되는 단결정 웨이퍼. 사양 및 측정방법
CEI EN 62276:2017 표면탄성파(SAW) 장치 응용을 위한 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법
DANSK DS/EN 62276:2016 표면탄성파(SAW) 장치 응용을 위한 단결정 웨이퍼 – 사양 및 측정 방법
DIN EN 62276:2017 표면 탄성파(SAW) 장치 응용 분야용 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법(IEC 62276:2016) 독일어 버전 EN 62276:2016
ASTM F1228-89(1994)E01 웨이퍼 표면의 산화성(유기) 탄소에 대한 테스트 방법(과황산염 사용)(2001년 철회)
DIN EN 62276 E:2015 초안 문서 - 표면 탄성파(SAW) 장치 응용 분야용 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법(IEC 49/1116/CD:2014)
DIN IEC 62276 E:2009 초안 문서 - 표면 탄성파(SAW) 장치 응용 분야용 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법(IEC 49/879/CD:2009)

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 웨이퍼

DB13/T 1633-2012 태양광 등급 다결정 실리콘 웨이퍼
DB13/T 1828-2013 태양광 등급 단결정 실리콘 웨이퍼
DB13/T 1314-2010 태양광 등급 단결정 실리콘 사각 막대, 단결정 실리콘 웨이퍼

IEC - International Electrotechnical Commission, 웨이퍼

PAS 62276-2001 표면 탄성파 장치에 사용되는 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법(버전 1.0)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 웨이퍼

GB/T 34481-2017 저전위밀도 게르마늄 단결정 웨이퍼의 부식 피트 밀도(EPD) 측정 방법

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 웨이퍼

EN 62276:2013 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 웨이퍼

EN 62276:2016 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

ES-UNE, 웨이퍼

UNE-EN 62276:2016 표면 탄성파(SAW) 장치 애플리케이션을 위한 단결정 웨이퍼 사양 및 측정 방법

GSO, 웨이퍼

GSO IEC 62276:2014 표면탄성파(SAW) 장치 응용을 위한 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법
OS GSO IEC 62276:2014 표면탄성파(SAW) 장치 응용을 위한 단결정 웨이퍼 - 사양 및 측정 방법

Professional Standard - Aviation, 웨이퍼

HB 6742-1993 X선 후면 조명 Laue 사진을 통한 단결정 블레이드의 결정 방향 결정

Electronic Industrial Alliance (U.S.), 웨이퍼

EIA-763-2002 8mm ~ 12mm 컨베이어에서 베어 몰드 및 웨이퍼 스케일 패키지의 자동 처리

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 웨이퍼

DB61/T 512-2011 태양전지용 단결정 실리콘 웨이퍼 검사 규칙

Professional Standard - Building Materials, 웨이퍼

JC/T 471-1992 감광성 검출기용 인공 수정 결정 시트

国家建筑材料工业局, 웨이퍼

JC 471-1992 감광성 검출기용 인공 수정 결정 시트

KR-KS, 웨이퍼

KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 웨이퍼

YB 1603-1983 실리콘 단결정 절단 디스크 및 연삭 디스크

UNKNOWN, 웨이퍼

YB 1603-83 실리콘 단결정 절단 디스크 및 연삭 디스크