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DE반도체 촉매작용?
모두 500항목의 반도체 촉매작용?와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 반도체 촉매작용?와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 표면 처리 및 도금, 세라믹, 반도체 개별 장치, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 그래픽 기호, 공기질, 기술 도면, 전자 장비용 기계 부품, 반도체 소재, 종합 전자 부품, 정류기, 변환기, 조정된 전원 공급 장치, 도체 재료, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, 건축 자재, 전기 및 전자 테스트, 판막, 전기공학종합.
Association Francaise de Normalisation, 반도체 촉매작용?
European Committee for Standardization (CEN), 반도체 촉매작용?
British Standards Institution (BSI), 반도체 촉매작용?
- BS PD CEN/TS 16599:2014 광촉매 반도체 재료의 광촉매 특성을 테스트하기 위한 조사 조건 및 이러한 조건의 측정
- BS ISO 19722:2017 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 용존산소소모법을 이용한 반도체 광촉매 소재의 광촉매 활성 측정 시험방법
- PD IEC/TR 63133:2017 반도체 소자 스캔 기반 반도체 소자의 노화 수준 추정
- BS EN 62416:2010 반도체 장치 MOS(금속 산화물 반도체) 트랜지스터의 핫 캐리어 테스트
- BS ISO 10677:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단기술세라믹) 반도체 광촉매 재료 시험용 자외선 광원
- BS ISO 27447:2019 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매재료의 항균활성 시험방법
- PD IEC TR 63378-1:2021 반도체 패키지의 열 표준화 BGA 및 QFP 유형 반도체 패키지의 열저항 및 열 매개변수
- BS ISO 13125:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항진균 효과 시험 방법
- BS ISO 19635:2016 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 조류 억제 활성 시험방법
- BS IEC 60747-8-4:2004 반도체 개별 장치, 전력 스위칭 장비용 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터
- BS ISO 22197-2:2019 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매 소재 아세트알데히드 제거를 위한 공기정화 성능 시험 방법
- BS ISO 22197-4:2021 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매 소재 포름알데히드 제거의 공기정화 성능 시험 방법
- BS EN IEC 63364-1:2022 반도체 소자 사물인터넷 시스템에 사용되는 반도체 소자의 소리 변화 검출을 위한 테스트 방법
- BS ISO 22197-1:2016 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단기술세라믹) 산화질소 제거를 위한 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법
- BS IEC 60191-2:1966+A21:2020 반도체 소자의 기계적 표준화 측면
- BS ISO 22197-3:2019 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매 소재 공기 정화 성능 시험 방법 톨루엔 제거
- 13/30264600 DC BS EN 60747-14-8 반도체 장치 파트 14-8 반도체 센서 액체 용량성 저하 센서
- BS ISO 22197-1:2008 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 산화질소 제거
- BS ISO 22197-4:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 포름알데히드 제거
- BS ISO 22197-3:2011 정제세라믹(고급도자기, 첨단공정도자기) 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 톨루엔 제거
- BS ISO 22197-2:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 아세트알데히드 제거
- BS ISO 22197-5:2021 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 메틸메르캅탄 제거
- BS EN 62418:2010 반도체 장치 금속화 응력 보이드 테스트
- BS ISO 22197-5:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 메틸메르캅탄 제거
- BS EN 60191-4:2014 반도체 소자의 기계적 표준화 반도체 소자 패키지 개요에 대한 코딩 체계 및 분류 형식
- BS EN 60191-4:2014+A1:2018 반도체 소자 기계 표준화 반도체 소자 패키징의 코딩 체계 및 패키징 외관 분류
- BS IEC 60191-2:1966+A18:2011 반도체 장치의 기계적 표준화, 치수 사양
- BS ISO 14605:2013 파인세라믹(현대세라믹, 첨단산업세라믹) 실내조명환경에 사용되는 반도체 광촉매재료용 시험광원
- BS EN 60191-6:2010 반도체 장치의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 그리기에 대한 일반 규칙
- BS EN 60191-6:2005 반도체 장치의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 장치용 패키지의 개략도 그리기에 대한 일반 규칙입니다.
- BS EN 60191-6:2004 반도체 장치의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 장치용 패키지의 개략도 그리기에 대한 일반 규칙입니다.
- BS EN 60191-6:2009 반도체 장치의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 장치용 패키지의 개략도 그리기에 대한 일반 규칙입니다.
- BS ISO 18061:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항바이러스 활성 측정 박테리오파지 Q-β를 이용한 시험방법
- BS ISO 17168-2:2018 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 아세트알데히드 제거
- BS ISO 17168-4:2018 파인 세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 포름알데히드 제거를 위한 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법
- BS IEC 62373-1:2020 반도체 장치 금속 산화물, 반도체, 전계 효과 트랜지스터(MOSFET) 바이어스 온도 안정성 테스트 MOSFET의 빠른 BTI 테스트
- BS ISO 17168-1:2018 파인 세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험 방법 산화질소 제거
- 13/30284029 DC BS EN 60191-6-16 반도체 장치의 기계적 표준화 파트 6-16 BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집
- BS IEC 63229:2021 반도체 소자용 탄화규소 기판의 질화갈륨 에피택셜 필름의 결함 분류
- BS IEC 63275-1:2022 반도체 소자 탄화 규소 이산 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터 신뢰성 테스트 방법 바이어스 온도 불안정성 테스트 방법
- BS ISO 27448:2009 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 자가세정성 시험방법 물접촉각 측정
- BS ISO 17094:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- BS ISO 22551:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 세균 감소율 측정 항균 활성 추정을 위한 반건식 방법...
- BS ISO 10676:2011 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 활성 산소종 형성 능력에 따른 반도체 광촉매 소재의 수질 정화 성능을 측정하는 시험 방법
- BS ISO 17168-5:2018 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 메틸메르캅탄 제거
- 21/30425873 DC BS ISO 22197-4 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 테스트 방법 4부: 포름알데히드 제거
- BS ISO 17168-3:2018 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험 방법 톨루엔 제거
- BS ISO 27447:2009 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항균 활성 시험 방법
- BS ISO 10676:2010 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 활성산소 형성 능력에 따른 반도체 광촉매 소재의 수질 정화 성능을 결정하는 시험 방법
- BS ISO 24448:2023 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹). 실내 조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재 테스트용 LED 광원
- BS EN 60191-6-10:2003 반도체 소자의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 그리기에 대한 일반 규칙 P-VSON 치수
- 21/30425876 DC BS ISO 22197-5 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 테스트 방법 5부 메틸 메르캅탄 제거
- BS ISO 22601:2019 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 반도체 광촉매 재료 내 페놀의 산화분해 성능을 결정하기 위한 총유기탄소(TOC) 정량분석을 위한 시험방법
- 22/30443234 DC BS EN 63378-3 반도체 패키지의 열 표준화 파트 3: 과도 분석을 위한 반도체 패키지의 열 회로 시뮬레이션 모델
- 21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1 반도체 장치 사물 인터넷 시스템에 사용되는 반도체 장치 1부 소리 변화 감지를 위한 테스트 방법
- IEC TR 63357:2022 반도체 장치의 자동차 고장 테스트 방법에 대한 표준화 로드맵
- 23/30469486 DC BS EN IEC 63378-2 반도체 패키지의 열 표준화 파트 2: 정상 상태 분석을 위한 개별 반도체 패키지의 3D 열 시뮬레이션 모델
- 23/30469010 DC BS EN IEC 63378-3 반도체 패키지의 열 표준화 3부: 과도 분석을 위한 개별 반도체 패키지의 열 회로 시뮬레이션 모델
- 18/30381548 DC BS EN 62373-1 반도체 장치 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 바이어스 온도 안정성 테스트 1부. 신속한 BTI 테스트 방법
- 17/30366375 DC BS IEC 62373-1 반도체 장치 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 바이어스 온도 안정성 테스트 1부. 신속한 BTI 테스트 방법
- IEC TR 63357:2022 반도체 장치의 자동차 고장 테스트 방법에 대한 표준화 로드맵
- BS EN 62373:2006 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)의 기본 온도 안정성 테스트
- BS IEC 63284:2022 반도체 소자 질화갈륨 트랜지스터 유도부하 스위치 신뢰성 시험방법
- BS EN 62417:2010 반도체 장치 금속 산화물 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 마이그레이션 이온 테스트
- 20/30406234 DC BS IEC 63275-2 Ed.1.0 반도체 장치 실리콘 카바이드 개별 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터에 대한 신뢰성 테스트 방법 2부. 바디 다이오드 작동으로 인한 양극성 저하에 대한 테스트 방법
- BS ISO 19810:2017 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 특성 시험 방법 물 접촉각 측정
- BS ISO 19652:2018 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 완전 분해 성능을 위한 시험 방법 아세트알데히드 분해
- 21/30403033 DC BS EN ISO 24448. 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹). 실내 조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재 테스트용 LED 광원
- 20/30406230 DC BS IEC 63275-1 반도체 장치 탄화규소 이산 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터에 대한 신뢰성 테스트 방법 1부. 바이어스 온도 불안정성 테스트 방법
- BS ISO 18071:2016 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항바이러스 활성 측정 박테리오파지 Q-β를 이용한 시험방법
- BS EN 60191-6-18:2010 반도체 장비의 기계적 표준화 플랫 마운트 반도체 장치 인클로저의 외형도 그리기에 대한 일반 규칙 BGA(볼 그리드 어레이) 설계 지침
- BS EN 60191-6-1:2001 반도체 장치의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙 갈매기 날개형 단자 설계 가이드
- BS IEC 60747-5-13:2021 반도체 소자 광전자 장비 LED 패키징 황화수소 부식 시험
- 15/30328077 DC BS EN 60191-2 반도체 장치의 기계적 표준화 2부. 치수
- 18/30386543 DC BS EN 63229 Ed.1.0 반도체 장치용 탄화규소 기판의 질화갈륨 에피택셜 웨이퍼 결함 분류
- BS ISO 19810:2023 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 성능 시험 방법 물 접촉각 측정
- BS EN 60191-6-16:2007 볼 그리드 어레이(BGA), 그리드 어레이(LGA), 그리드 어레이(FBGA) 및 피치 기판 그리드 어레이(FLGA) 번인 소켓 및 반도체 테스트를 위해 기계적으로 표준화된 반도체 장치에 대한 용어집
- BS EN 60191-6-22:2013 반도체 장치의 기계적 표준화 표면 실장형 반도체 장치의 패키지 개요 준비에 대한 일반 규칙 실리콘 미세 피치 볼 그리드 어레이 및 실리콘 미세 피치 그리드 어레이 반도체 패키지(S-FBGA 및 S-FLGA) 설계 지침
- 19/30390371 DC BS IEC 60747-14-11 반도체 장치 파트 14-11 반도체 센서 표면 음향파를 기반으로 한 자외선, 조명 및 온도 측정용 통합 센서에 대한 테스트 방법
- 18/30362458 DC BS IEC 60747-14-11 반도체 장치 파트 14-11 반도체 센서 표면 음향파를 기반으로 한 자외선, 조명 및 온도 측정용 통합 센서에 대한 테스트 방법
- 19/30404655 DC BS EN IEC 63229 반도체 장치용 탄화규소 기판의 질화갈륨 에피택셜 필름의 결함 분류
German Institute for Standardization, 반도체 촉매작용?
未注明发布机构, 반도체 촉매작용?
SCC, 반도체 촉매작용?
- DANSK DS/CEN/TS 16599:2014 광촉매 - 반도체 재료의 광촉매 특성을 테스트하기 위한 조사 조건 및 이러한 조건의 측정
- DIN CEN/TS 16599:2014 광촉매 - 반도체 재료의 광촉매 특성을 테스트하고 이러한 조건을 측정하기 위한 조사 조건입니다. 독일어 버전 CEN/TS 16599:2014
- BS PD IEC/TR 63133:2017 반도체 장치. 반도체 소자의 스캔 기반 에이징 수준 추정
- CEI EN 62417:2011 반도체 장치 - 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 이동 이온 테스트
- DANSK DS/EN 62417:2010 반도체 장치 - 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 이동 이온 테스트
- BS EN 60191-4:2000 반도체 소자의 기계적 표준화 - 반도체 소자 패키지에 대한 코딩 시스템 및 패키지 외형 형태 분류
- BS ISO 22197-1:2007 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹). 반도체 광촉매 물질의 공기정화 성능 시험방법 - 산화질소 제거
- BS IEC 60191-2:1966+A20:2018 반도체 소자의 기계적 표준화 - 치수
- BS IEC 60191-2:1966 Mechanical standardization of semiconductor devices. Dimensions
- BS IEC 60191-2:1966+A19:2012 Mechanical standardization of semiconductor devices. Dimensions
- AS 3708.2:1989 반도체 소자의 기계적 표준화 - 치수
- BS 3934-4:1992 Mechanical standardization of semiconductor devices-Recommendations for a coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor devices
- BS 3934-6:1992 Mechanical standardization of semiconductor devices-Specification for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
- CEI EN 62418:2011 반도체 장치 - 금속화 응력 보이드 테스트
- DANSK DS/EN 62418:2010 반도체 장치 - 금속화 응력 보이드 테스트
- CEI EN 60191-6-16:2008 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집
- DANSK DS/EN 60191-6-16:2007 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집
- IEC 60191-1B:1970 반도체 소자의 기계적 표준화 - 1부: 반도체 소자 도면 작성 - 제2보충
- CEI 45-35:1997 반도체 X선 분광기의 표준화된 테스트 방법
- AS 3708.1:1989 반도체 소자의 기계적 표준화 - 도면 작성
- IEC 60149-4:1987 반도체 소자의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 소자의 패키지 개요 형태에 대한 코딩 시스템 및 분류
- CEI EN 60191-6:2011 반도체 장치의 기계적 표준화 6부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙
- IEC 60191-4:1999+AMD1:2001+AMD2:2002 CSV 반도체 소자의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 시스템 및 패키지 개요 형태 분류
- DANSK DS/EN 60191-4:2014 반도체 소자의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 시스템 및 패키지 개요 형태 분류
- CEI EN 60191-4/A1:2015 반도체 소자의 기계적 표준화 제4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 체계 및 패키지 외형 형태 분류
- CEI EN 60191-4:2015 반도체 소자의 기계적 표준화 제4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 체계 및 패키지 외형 형태 분류
- DANSK DS/EN 60191-4/A1:2018 반도체 소자의 기계적 표준화 – 4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 시스템 및 패키지 개요 형태 분류
- DANSK DS/EN 60191-6:2010 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙
- UNE-EN 60191-4:2001 반도체 소자의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 시스템 및 패키지 개요 형태로 분류.
- DIN EN 60191-6-22 E:2011 초안 문서 - 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6-22부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형 도면 작성을 위한 일반 규칙 - 반도체 패키지 설계 가이드 Silicon Fine-pitch Ball G...
- DIN EN 60191-6-16 E:2013 초안 문서 - 반도체 장치의 기계적 표준화 - 파트 6-16: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA에 대한 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집(IEC 47D/835/CD:2013)
- CEI EN 60191-6-22:2014 반도체 장치의 기계적 표준화 6-22부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙 - 반도체 패키지 설계 가이드 실리콘 미세 피치 볼 그리드 어레이 및 실리콘...
- DANSK DS/EN 60191-6-22:2013 반도체 소자의 기계적 표준화 - 6-22부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙 - 반도체 패키지 설계 가이드 Silicon Fine-pitch Ball Grid Array 및 Sil...
- DIN ISO 22197-1 E:2018 초안 문서 - 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) - 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거(ISO 22197-1:2016); 독일어와 영어로 된 텍스트
- IEC 60191-4:1999/AMD1:2001 수정안 1 - 반도체 소자의 기계적 표준화 - 제4부: 반도체 소자 패키지의 패키지 개요 형태에 대한 코딩 시스템 및 분류
- IEC 60191-6:1990/AMD1:1999 수정안 1 - 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성에 관한 일반 규칙
- IEC 60191-4:1999/AMD2:2002 수정안 2 - 반도체 소자의 기계적 표준화 - 제4부: 반도체 소자 패키지의 패키지 개요 형태에 대한 코딩 시스템 및 분류
- CEI EN 60191-6-10:2005 반도체 소자의 기계적 표준화 6-10부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성에 관한 일반 규칙 - P-VSON 치수
- DANSK DS/EN 60191-6-10:2003 반도체 소자의 기계적 표준화 - 6-10부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성에 관한 일반 규칙 - P-VSON 치수
- CEI EN 62373:2007 금속 산화물, 반도체, 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 바이어스 온도 안정성 테스트
- DANSK DS/EN 62373:2006 금속 산화물, 반도체, 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 바이어스 온도 안정성 테스트
- DIN EN 60191-4/A1 E:2017 초안 문서 - 반도체 장치의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 장치 패키지의 패키지 개요 형태에 대한 코딩 시스템 및 분류(IEC 47D/882/CD:2016)
- DIN IEC 60191-4 E:2010 초안 문서 - 반도체 장치의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 장치 패키지의 패키지 개요 형태에 대한 코딩 시스템 및 분류(IEC 47D/769/CD:2010)
- BS 3934-3:1992 Mechanical standardization of semiconductor devices-Recommendations for the preparation of outline drawings of integrated circuits
- AS 3708.3:1989 반도체 장치의 기계적 표준화 - 집적 회로의 외형도 작성을 위한 일반 규칙
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 반도체 촉매작용?
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 반도체 촉매작용?
International Organization for Standardization (ISO), 반도체 촉매작용?
- ISO 19722:2017 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 용존산소소모법을 이용한 반도체 광촉매 소재의 광촉매 활성 측정 시험방법
- ISO 13125:2013 파인세라믹(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 항진균 효과 시험 방법
- ISO 19635:2016 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 조류 억제 활성 시험방법
- ISO 27447:2019 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- ISO 27447:2009 파인 세라믹스(Advanced ceramics, Advanced industry ceramics) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- ISO 22197-1:2016 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 1부: 산화질소 정화
- ISO 22197-3:2019 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 3부: 톨루엔 제거
- ISO 22197-2:2019 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
- ISO 10677:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 물질 검출용 자외선원
- ISO 22197-1:2007 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 1부: 산화질소 제거
- ISO 18061:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항바이러스 활성 측정 박테리오파지 Q-β를 이용한 시험방법
- ISO 22197-2:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기정화 성능 시험방법 2부: 아세트알데히드 제거
- ISO 22197-3:2011 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 3부: 톨루엔 제거
- ISO 22197-4:2021 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 5부: 포름알데히드 제거
- ISO 22197-5:2021 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 5부: 메틸 메르캅탄 제거
- ISO 22197-4:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 5부: 포름알데히드 제거
- ISO 22197-5:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 5부: 메틸 메르캅탄 제거
- ISO 17094:2014 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- ISO 10676:2010 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 활성산소 형성 능력을 이용한 반도체 광촉매 소재의 수질정화 성능 측정 시험방법
- ISO 24448:2023 파인세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 테크니컬 세라믹) 실내 조명 환경에 사용되는 반도체 광촉매 소재 테스트용 LED 광원
- ISO 17168-1:2018 파인세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 1부: 산화질소 제거
- ISO 17168-2:2018 파인세라믹(어드밴스드세라믹, 어드밴스드인더스트리얼세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 2부: 아세트알데히드 제거
- ISO 17168-3:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 3부: 톨루엔 제거
- ISO 17168-4:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 4부: 포름알데히드 제거
- ISO 22601:2019 파인세라믹(첨단세라믹 및 첨단산업세라믹) 총유기탄소(TOC) 정량분석을 통한 반도체 광촉매 소재의 페놀 산화분해 성능 측정 시험방법
- ISO 19810:2017 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 특성 시험 방법 물 접촉각 측정
- ISO 19652:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 완전 분해 성능 시험 방법 아세트알데히드 분해
- ISO 19810:2023 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 자가세정 성능 시험 방법 물 접촉각 측정
- ISO 18071:2016 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 항바이러스 활성 측정 박테리오파지 Q-β를 이용한 시험방법
- ISO 17168-5:2018 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 5부: 메틸 메르캅탄 제거
- ISO 22551:2020 파인세라믹(첨단세라믹 및 첨단산업세라믹) 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재를 이용한 세균 감소율 측정 실제 환경에서 세균으로 오염된 표면의 항균 활성을 추정하기 위한 반건식 방법
GSO, 반도체 촉매작용?
- GSO ISO 19722:2021 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 기술 세라믹) — 용존 산소 소비량에 따른 반도체 광촉매 물질의 광촉매 활성 측정 시험 방법
- BH GSO ISO 19722:2022 파인 세라믹(첨단 세라믹, 고급 기술 세라믹) — 용존 산소 소비량에 따른 반도체 광촉매 물질의 광촉매 활성 측정 시험 방법
- OS GSO ISO 10677:2015 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) - 반도체 광촉매 재료 테스트용 자외선 광원
- GSO ISO 19635:2021 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) - 반도체 광촉매 물질의 항조류 활성 시험 방법
- GSO ISO 10677:2015 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) - 반도체 광촉매 재료 테스트용 자외선 광원
- BH GSO ISO 19635:2022 파인 세라믹(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) - 반도체 광촉매 물질의 항조류 활성 시험 방법
- BH GSO IEC 62418:2022 반도체 장치 - 금속화 응력 보이드 테스트
- GSO IEC 62418:2021 반도체 장치 - 금속화 응력 보이드 테스트
- GSO IEC 60191-6-16:2021 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집
- BH GSO IEC 60191-6-16:2022 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집
- OS GSO ISO 14605:2015 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 실내 조명 환경에서 사용되는 반도체 광촉매 재료 테스트용 광원
- BH GSO ISO 14605:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 실내 조명 환경에서 사용되는 반도체 광촉매 재료 테스트용 광원
- GSO IEC 60191-4:2015 반도체 소자의 기계적 표준화 - 4부: 반도체 소자 패키지의 코딩 시스템 및 패키지 개요 형태 분류
- OS GSO IEC 60191-2:2014 반도체 장치의 기계적 표준화 - 2부: 치수
- BH GSO IEC 60191-2:2016 반도체 장치의 기계적 표준화 - 2부: 치수
- GSO IEC 60191-6:2015 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙
- OS GSO IEC 60191-6:2015 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙
- BH GSO IEC 60191-6:2016 반도체 장치의 기계적 표준화 - 6부: 표면 실장형 반도체 장치 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙
- GSO ISO 10676:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 활성산소 형성능 측정을 통한 반도체 광촉매 물질의 수질정화 성능 시험방법
- OS GSO ISO 10676:2013 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 활성산소 형성능 측정을 통한 반도체 광촉매 물질의 수질정화 성능 시험방법
- GSO IEC 63275-1:2024 반도체 장치 - 탄화규소 이산 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터의 신뢰성 테스트 방법 - 1부: 바이어스 온도 불안정성 테스트 방법
- GSO IEC 60191-2:2014 반도체 장치의 기계적 표준화 - 2부: 치수
- GSO ISO 18071:2021 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 항바이러스 활성 측정 - 박테리오파지 Q-베타를 이용한 시험 방법
- BH GSO ISO 18071:2022 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 항바이러스 활성 측정 - 박테리오파지 Q-베타를 이용한 시험 방법
- GSO IEC 60191-6-22:2017 반도체 소자의 기계적 표준화 - 6-22부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙 - 반도체 패키지 설계 가이드 Silicon Fine-pitch Ball Grid Array 및 Silico
- OS GSO IEC 60191-6-22:2017 반도체 소자의 기계적 표준화 - 6-22부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙 - 반도체 패키지 설계 가이드 Silicon Fine-pitch Ball Grid Array 및 Silico
- OS GSO IEC 60191-6-10:2015 반도체 소자의 기계적 표준화 - 6-10부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성에 관한 일반 규칙 - P-VSON 치수
- GSO ISO 18560-1:2016 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 실내 조명 환경에서 테스트 챔버 방식을 이용한 반도체 광촉매 물질의 공기 정화 성능 시험 방법 -- 1부: 포름알데히드 제거
- OS GSO ISO 18560-1:2016 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 실내 조명 환경에서 테스트 챔버 방식을 이용한 반도체 광촉매 물질의 공기 정화 성능 시험 방법 -- 1부: 포름알데히드 제거
- GSO IEC 63284:2024 반도체 소자 - 질화갈륨 트랜지스터의 유도부하 스위칭에 의한 신뢰성 테스트 방법
- GSO IEC 62373:2014 금속 산화물, 반도체, 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 바이어스 온도 안정성 테스트
- OS GSO IEC 62373:2014 금속 산화물, 반도체, 전계 효과 트랜지스터(MOSFET)에 대한 바이어스 온도 안정성 테스트
- GSO IEC 60191-6-6:2015 반도체 소자의 기계적 표준화 - 6-6부: 표면 실장형 반도체 소자 패키지의 외형도 작성을 위한 일반 규칙 - FLGA(미세 피치 랜드 그리드 어레이) 설계 가이드
- GSO ISO 14605:2015 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) -- 실내 조명 환경에서 사용되는 반도체 광촉매 재료 테스트용 광원
KR-KS, 반도체 촉매작용?
- KS L ISO 10677-2023 파인 세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 크래프트 세라믹) 반도체 광촉매 소재 테스트용 자외선 광원
- KS L ISO 27447-2023 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- KS L ISO 14605-2023 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재 테스트를 위한 파인 세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 크래프트 세라믹) 광원
- KS L ISO 22197-1-2018 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 22197-2-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
- KS L ISO 22197-4-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technical Ceramics) - 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 4부: 포름알데히드 제거
- KS L ISO 22197-3-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 3부: 톨루엔 제거
- KS L ISO 22197-1-2022 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 22197-5-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 5부: 메틸 메르캅탄 제거
- KS L ISO 17168-1-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 17168-2-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
- KS L ISO 17168-4-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 4부: 포름알데히드 제거
- KS L ISO 17168-3-2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 3부: 톨루엔 제거
IEC - International Electrotechnical Commission, 반도체 촉매작용?
Defense Logistics Agency, 반도체 촉매작용?
- DLA SMD-5962-96665 REV D-2005 내방사선성 상보성 금속 산화물 반도체 트랜지스터 대 상보성 금속 산화물 반도체 또는 상보성 금속 산화물 반도체 대 상보성 금속 산화물 반도체 전압 변환 메커니즘, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-94532-1994 64비트 마이크로프로세서, 산화물 반도체 마이크로회로
- DLA SMD-5962-96736-1996 상보형 금속 산화물 반도체, 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로 8비트 양방향 상보형 금속 산화물 반도체 또는 트랜지스터 인터페이스 변환기
- DLA SMD-5962-77044 REV F-2005 실리콘 모놀리식 게이트리스 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77027 REV C-1982 실리콘 모놀리식 6개 인버터 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77053 REV M-2005 실리콘 모놀리식 4중 가상 스위치, 산화물 반도체 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84043 REV E-2005 실리콘 모놀리식 XOR 게이트 고속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84069 REV F-2005 실리콘 모놀리식 버스 컨트롤러, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77034 REV X-2006 실리콘 모놀리식 가변 전압 조정기, 산화물 반도체 선형 미세 회로
- DLA SMD-5962-77037 REV G-2005 실리콘 모놀리식 비교기, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-93007 REV D-1996 실리콘 모놀리식, 2차원 컨볼루션, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77023 REV F-2005 실리콘 모놀리식 듀얼 업 카운터 산화물 반도체 디지털 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-81019 REV B-1984 실리콘 모놀리식 4중 D 래치, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-78029 REV H-2005 실리콘 모놀리식 디코더-디코더, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-94533-1994 실리콘 모놀리식, 32비트 마이크로프로세서, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-87686 REV D-1999 실리콘 모놀리식 16X16 곱셈기 보완적 금속 산화물 반도체, 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-88503 REV J-2003 실리콘 모놀리식 바이메탈 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터 드라이버 선형 마이크로회로
- DLA SMD-5962-06208-2006 실리콘 모놀리식 디지털 신호 프로세서 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84052 REV D-1990 실리콘 모놀리식, 16비트 마이크로프로세서, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-84068 REV E-2005 실리콘 모놀리식 클록 생성기 드라이버, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77024 REV F-2005 실리콘 모놀리식 쿼드 2입력 및 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77036 REV D-2005 실리콘 모놀리식 쿼드 2입력 및 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77051 REV F-2005 실리콘 모놀리식 3겹 3입력 및 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77059 REV E-2005 실리콘 모놀리식 듀얼 4입력 및 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-77060 REV E-2005 실리콘 모놀리식 듀얼 4입력 또는 게이트, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-79012 REV A-1986 실리콘 모놀리식 정적 시프트 레지스터, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-79013 REV F-2005 실리콘 모놀리식 삼중 NAND 게이트 버퍼, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-79014 REV B-1987 실리콘 모놀리식 6비트 반전 버퍼, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-89638-1989 실리콘 모놀리식, 산화물 반도체 전류 모드 컨트롤러, 선형 미세 회로
- DLA SMD-5962-89711 REV B-2006 실리콘 모놀리식, 64비트 출력 상관기, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-94642-1994 실리콘 모놀리식, 확장된 다기능 주변기기, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-89725 REV A-1995 실리콘 모놀리식, 동기식 직렬 컨트롤러, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-89877 REV C-2004 실리콘 모놀리식, RS232형 듀얼 트랜시버, 산화물 반도체 선형 마이크로 회로
- DLA SMD-5962-89982 REV B-2004 실리콘 모놀리식, 16비트 마이크로컨트롤러, 산화물 반도체, 디지털 마이크로회로
- DLA SMD-5962-90526 REV M-2004 실리콘 모놀리식, 디지털 신호 프로세서, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
Group Standards of the People's Republic of China, 반도체 촉매작용?
Professional Standard - Electron, 반도체 촉매작용?
International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 촉매작용?
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 반도체 촉매작용?
- KS L ISO 27447-2011(2016) 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- KS L ISO 27447-2011(2021) 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) - 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- KS L ISO 27447:2011 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 항균활성 시험방법
- KS L ISO 22197-1:2018 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 22197-2:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
- KS L ISO 22197-3:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 3부: 톨루엔 제거
- KS L ISO 22197-4:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technical Ceramics) - 반도체 광촉매 재료의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 4부: 포름알데히드 제거
- KS L ISO 22197-1:2008 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 22197-1:2022 파인세라믹(첨단 세라믹, 첨단 산업용 세라믹) 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 27448-2021 파인세라믹(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 테크니컬 세라믹) - 반도체 광촉매 물질의 자기세정 성능 시험 방법 - 물 접촉각 측정
- KS C 6587-2002 반도체 집적 회로의 기계적 표준화를 위한 일반 규칙
- KS L ISO 22197-5:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 5부: 메틸 메르캅탄 제거
- KS L ISO 27448-2011(2021) 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹, 어드밴스드 산업용 세라믹) - 반도체 광촉매 소재의 자가세정 성능 시험 방법 - 물 접촉각 측정
- KS L ISO 27448-2011(2016) 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹) 반도체 광촉매 소재의 자정 성능 시험 방법 물 접촉각 측정
- KS L ISO 10676:2012 파인세라믹(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 크래프트 세라믹스) 활성산소 생성능력을 이용한 반도체 광촉매 소재의 수질정화 성능 측정 시험방법
- KS L ISO 10676-2012(2022) 파인 세라믹스(Advanced Ceramics, Advanced Industrial Ceramics) - 활성산소 형성 능력을 이용한 반도체 광촉매 소재의 수질 정화 성능을 측정하는 시험 방법
- KS L ISO 10676-2022 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 테크니컬 세라믹스) - 활성 산소 형성능 측정을 통한 반도체 광촉매 물질의 수질 정화 성능 시험 방법
- KS L ISO 17168-1:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 시험 방법 - 1부: 산화질소 제거
- KS L ISO 17168-2:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 2부: 아세트알데히드 제거
- KS L ISO 17168-3:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 소재의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 3부: 톨루엔 제거
- KS L ISO 17168-4:2020 파인 세라믹스(Advanced Ceramics Advanced Technology Ceramics) - 실내 조명 환경에서 반도체 광촉매 물질의 공기 정화 성능 테스트 방법 - 4부: 포름알데히드 제거
- KS L ISO 10676-2012(2017) 파인세라믹(첨단세라믹, 첨단산업세라믹)의 활성산소 형성능 시험법을 이용한 반도체 광촉매 소재의 수질정화 성능 측정 시험방법
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 반도체 촉매작용?
Danish Standards Foundation, 반도체 촉매작용?
ES-UNE, 반도체 촉매작용?
Lithuanian Standards Office , 반도체 촉매작용?
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 반도체 촉매작용?
AENOR, 반도체 촉매작용?
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 촉매작용?
Professional Standard - Machinery, 반도체 촉매작용?
RO-ASRO, 반도체 촉매작용?
工业和信息化部, 반도체 촉매작용?
American Society for Testing and Materials (ASTM), 반도체 촉매작용?
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 반도체 촉매작용?
U.S. Military Regulations and Norms, 반도체 촉매작용?
Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 반도체 촉매작용?
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 반도체 촉매작용?
PH-BPS, 반도체 촉매작용?
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 반도체 촉매작용?
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 반도체 촉매작용?
AT-OVE/ON, 반도체 촉매작용?
- OVE EN IEC 63275-2:2021 반도체 장치 - 탄화규소 이산 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터의 신뢰성 테스트 방법 - 2부: 바디 다이오드 작동으로 인한 양극성 저하 테스트 방법(IEC 47/2680/CDV)(영어 버전)